【正文】 檢驗(yàn)：事后反應(yīng) 規(guī)范上限： USL： UPER SPECIFICATION LIMMITED 控制上限： UCL： UPER CONTROL LIMMITED 控制下限： LCL： LOWER CONTROL LIMMITED 規(guī)范下限： LSL： LOWER SPECIFICATION LIMMITED 3. 波動的概念 ? 波動：是指在現(xiàn)實(shí)生活中沒有兩件東西是完全一樣的 ? 生產(chǎn)實(shí)踐證明：無論用多么精密的設(shè)備和工具，多么高超的操作技術(shù)，甚至由 同一操作工 ，在同一設(shè)備 上，用 相同的工具 ，用 相同材料 的 生產(chǎn)同種產(chǎn)品 ，其加工后的 質(zhì)量特性 （如：重量、尺寸等）總是有差異，這種差異稱為 波動 ? 公差制度實(shí)際上就是對這個事實(shí)的客觀承認(rèn) ? 消除波動不是 SPC的目的，但通過 SPC可以對波動進(jìn)行預(yù)測和控制 3. 制造過程組成和波動原因 波動原因 人 機(jī)器 材料 方法 測量 環(huán)境 3. 波動的種類 ? 正常波動：是由 普通 (偶然 )原因 造成的。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因，隨時間的推移，過程的輸出將不穩(wěn)定 4. 普通原因和特殊原因 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 但它們形成一個模型 ,若穩(wěn)定 ,可以描述為一個分布 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 或這些因素的組合 位置 分布寬度 形狀 4. 普通原因和特殊原因 目標(biāo)值線 預(yù)測 時間 范圍 范圍 時間 目標(biāo)值線 如果僅存在變差的普通原因， 隨著時間的推移，過程的輸出 形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測 如果存在變差的特殊原因， 隨著時間的推移，過程的 輸出不穩(wěn)定 4. 普通原因舉例 ? 合格原料的微小變化 ? 機(jī)械的微小震動 ? 刀具的正常磨損 ? 氣候、環(huán)境的微小變化等 4. 特殊原因舉例 ? 使用不合格原料 ? 設(shè)備調(diào)整不當(dāng) ? 新手作業(yè) ? 違背操作規(guī)程 ? 刀具過量磨損等 4. 普通原因、特殊原因示意圖 普通原因 的波動范圍 特殊原因?qū)е? 的波動范圍 特殊原因?qū)е? 的波動范圍 UCL LCL CL 5. 局部措施 ? 通常用來消除變差的特殊原因 ? 通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施 ? 大約可糾正 15%的過程問題 5. 系統(tǒng)措施 ? 通常用來消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過程問題 5. 局部措施、系統(tǒng)措施示意圖 解決普通原因 的系統(tǒng)措施 解決特殊原因 的局部措施 解決特殊原因 的局部措施 UCL LCL ? 假定過程是處于受控狀態(tài)，一旦顯示偏離這一狀態(tài)，極大可能是過程失控，需要及時調(diào)整 ? 產(chǎn)品質(zhì)量波動原因是由普通原因和特殊原因引起的，產(chǎn)品質(zhì)量總是變化的 ? 受控狀態(tài)：指僅由普通原因引起的質(zhì)量波動，受控狀態(tài)的產(chǎn)品質(zhì)量也應(yīng)該是波動的 ? SPC應(yīng)用概率論基本原理： 1) 小概率事件在一次試驗(yàn)當(dāng)中是不可能發(fā)生的 (指發(fā)生機(jī)會非常小的事件 )； 2) 過程分布是呈現(xiàn)正態(tài)分布 6. 統(tǒng)計過程控制思想 直方圖中對稱型的形狀是“中間高，兩邊低，左右基本對稱”。3σ % % % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 7. 正態(tài)分布簡介 ? x為總體的取值 ? μ是總體的平均值，是位置參數(shù)，是改變正態(tài)分布曲線的位置，不改變形狀； ? σ是總體標(biāo)準(zhǔn)差，表示數(shù)據(jù)分散程度的統(tǒng)計量，是形狀參數(shù)，不改變正態(tài)曲線的位置，改變其形狀大（矮胖）?。ǜ呤荩?； ? 實(shí)際運(yùn)用中 σ用 s（ 樣本標(biāo)準(zhǔn)差）、 μ用 x（ 樣本均值）代替，即 σ≈s、 μ≈x 。這是一個很小的概率，根據(jù)概率論 “視小概率事件為實(shí)際上不可能” 的原理，可以認(rèn)為：出現(xiàn)在 X?3?區(qū)間外的事件是異常波動，它的發(fā)生是由于異常原因使其總體的分布偏離了正常位置 ? 控制限的寬度就是根據(jù)這一原理定為 ?3? % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 2. 控制圖原理說明 2. 控制圖 —過程控制的工具 上控制限 中 心 線 下控制限 ： 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 ： 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算試驗(yàn)控制限；識別變差的特殊原因 并采取措施 ： 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復(fù)這三個階段從而不斷改進(jìn) 過程 步驟 3. 控制圖的目的 ? 控制圖和一般的統(tǒng)計圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢，且能顯示變異系屬于機(jī)遇性或非機(jī)遇性，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而采取適當(dāng)之措施。 XR圖計算公式系數(shù) Ｃ過程控制解釋 C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) C3重新計算控制界限 (極差圖 ) C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 C5識別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) C6重新計算控制界限 (均值圖 ) C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 建立 XR圖的步驟 C 控制圖的判讀 ? 超出控制界限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個或多個點(diǎn)超出任何一個控制界限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù) UCL CL LCL 異常 異常 控制圖的判讀 ? 鏈：有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變 ? 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè) ? 連續(xù) 7點(diǎn)上升 (后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn) )或下降。 ? 連續(xù)的 14點(diǎn)中至少有 12點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時 。 ? 當(dāng)子組容量變化時（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率），應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。必須對 系統(tǒng)本身直接采取管理措施 ，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。可作為現(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。在這種情況下沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限。通常最好是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。 驗(yàn)收規(guī)范舉例 評述 ? 表面應(yīng)沒有斑點(diǎn) ? 在彩色紋理、光澤度和缺陷數(shù)幾方面，表面應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn) ? 為防止剝落而敷到鏡子背面的任何材料不應(yīng)引起鏡子背襯有可見的斑點(diǎn)。 ? 當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。這個新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能。樣本容量應(yīng)足夠大使每個子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量?！?u”圖和“ c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多于一個“單位產(chǎn)品”的量，為使報告值更有意義時，可以使用“ u”圖，并且在不同時期內(nèi)樣本容量不同時必須使用“ u”圖。 B： 產(chǎn)品特殊特性：尺寸。 G： 質(zhì)量部門準(zhǔn)備空白控制圖并保存控制圖。 A9： 計算工序能力指數(shù)： 對于均值極差圖、均值標(biāo)準(zhǔn)差圖要求： PPK》 1?67 A10： 若指數(shù)不滿足要求 進(jìn)行原因分析采取針對 4M1E的 措施、驗(yàn)證效果。 B2： 根據(jù)計劃準(zhǔn)備空白控制圖發(fā)放給車間并填好相關(guān)欄目： 工廠、部門、工序、計算控制限的日期、工程規(guī)范、零件號、 機(jī)器編號 、 日期 、 特性 、 樣本容量 /頻率 、 零件名稱 B3： 對于均值極差圖將 UCL、 LCL三個虛線 、 兩個實(shí)線畫在控制圖上 。 B12： 遵循 PDCA循環(huán)。 B14： 若沿用試生產(chǎn)控制限樣本大小應(yīng)一樣。 B5： 將數(shù)據(jù)點(diǎn)標(biāo)在控制圖上對控制圖進(jìn)行點(diǎn)分析有無異常 ， 若有圈出來并進(jìn)行原因分析采取針對 4M1E的措施 、 驗(yàn)證效果 。 A12： 一般試生產(chǎn)控制圖先收集完所有數(shù)據(jù)、計算、再分析 點(diǎn)線面是否受控。 A2： 根據(jù)計劃準(zhǔn)備空白控制圖發(fā)放給車間并填好相關(guān)欄目： 工廠、部門、工序、計算控制限的日期、工程規(guī)范、零件號、 機(jī)器編號 、 日期 、 特性 、 樣本容量 /頻率 、 零件名稱 A3： 在試生產(chǎn)時根據(jù)樣本容量 /頻率抽樣并記錄在控制圖 “ 讀數(shù) ”欄 。 5：何時做 SPC？ A： 小批量生產(chǎn)時； B： 批量生產(chǎn)時； C： 樣件階段不需做。 ? 記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n ? 式中 c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量， n為子組中樣本容量 (檢驗(yàn)報告單位的數(shù)量 )， c和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。 B計算控制限 )1()1(3)1(3.....21ppnppnpnLCLppnpnUCLkddpnCLknpnpnppnnpnpnpnpk?????????????????過程控制解釋、過程能力解釋 ? C過程控制解釋：同 “p”圖的解釋。但是還應(yīng)對繼續(xù)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。 Ｂ計算控制限 B1計算過程平均不合格品率 B2計算上、下控制限 B3畫線并標(biāo)注 建立 p控制圖的步驟 B npppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3......... . ........2121212211????????????????????????中心線計算平均不合格率及控制限 Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定證據(jù) C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計算控制界限 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 建立 p圖的步驟 C Ｄ過程能力解釋 D1計算過程能力 D2評價過程能力 D3改進(jìn)過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 建立 p的步驟 D 計算過程能力 ? 對于 p圖，過程能力是通過過程平均不合率來表示，當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計算該值。 P控制圖的制做流程 A收集數(shù)據(jù) B計算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 建立 p圖的步驟 A Ａ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量 子組容量 分組頻率 子組數(shù)量 A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率 A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 A4將不合格品率描繪在控制圖 A1子組容量、頻率、數(shù)量 ? 子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太大也會有不利之處。 管制圖mRX ?mRmRmRmXmXxRDLCLRDUCLRCLREXLCLREXUCLXCLX3422~????????全距