【質(zhì)量管理精品文檔】計量值管制圖的制作與解析(完整版)
【正文】 有點超過或低於管制界線 ,如下圖 有點超過管制界限 UCL X LCL ☆ 當(dāng)樣本大小 n＝ 5點出現(xiàn)在 R以下的可能增加，因此連串的點必須以８點以上來代表製程變異的減小。 量測系統(tǒng)曾經(jīng)改變 有連串的點出現(xiàn) : 如下圖 a. 連續(xù) 7點出現(xiàn)在全距平均數(shù) R的一側(cè) ↓ UCL R LCL b. 連續(xù) 7點出現(xiàn)持續(xù)上升或下降 UCL R LCL ↓ ☆ 連串出現(xiàn)在上側(cè)或上昇 中心線以實線描繪 ,管制界線以紅色虛線描繪 . 足夠的樣本組數(shù)以保證製程的主要變異有機會出現(xiàn) . 對下工程影響較大的特性 . 經(jīng)常出問題的特性 . 25組以上的樣本及 100個以上的數(shù)據(jù)以檢定製程的穩(wěn)定及估計製程特性的平均數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)差 . 二 記錄數(shù)據(jù)及計算各組平均數(shù) xi , 及全距 Ri , 總平均數(shù) x及 R . 依各組之統(tǒng)計量大小描點於管制圖上 . 不規(guī)則的原因造成較大的數(shù)據(jù)變異 。 明顯的非機遇現(xiàn)象 。 計算錯誤或描點錯誤 . 即每組數(shù)據(jù)系統(tǒng)性地包含不同的製程平均 ,如多線或多機生產(chǎn)各取一個為一組樣本 . 無規(guī)格界線 —無 法計算 單邊下限 LSL Cp = *** CPL = (X LSL) / 3σ ZLSL = (X LSL) / σ CPU = *** k = Ca = *** CPK = CPL 計算錯誤或描點錯誤 . 量測系統(tǒng)曾經(jīng)改變 . 有連串的點出現(xiàn) ,如下圖 $ 連續(xù) 7點出現(xiàn)在中心線的同一側(cè) UCL X LCL $ 連續(xù) 7點出現(xiàn)持續(xù)上升或下降 UCL X LCL 計算錯誤或描點錯誤 . 如一新的或不均勻的原材料批 ,這些問題必須即時矯正 . 計算錯誤或描點錯誤 . 計算各組平均數(shù) xi 及全距 Ri ,總平均數(shù) x及 R. xi = Σxij / n , Ri = max｛ xij｝
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