質(zhì)量數(shù)據(jù)及分析、統(tǒng)計基本方法(20)(完整版)
【正文】 (初始研究時 ， 這些被認為是試驗控制限 。 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 過程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進 測量系統(tǒng)的改好 注：當(dāng) np 很小時 （ 5以下 ） ， 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 ， 因此有必要用長度為 8點或更多的點的長鏈作為不合格 品率降低的標(biāo)志 。 ? 2:能有效分析判斷生產(chǎn)過程工序質(zhì)量的穩(wěn)定性 ,從而可降低檢驗、測試費用； ? 3：可查明設(shè)備和工藝手段的實際精度，以便作出正確的技術(shù)決定； ? 4：使工序的成本和質(zhì)量成為可預(yù)測的，并能以較快的速度和準確性測量出系統(tǒng)誤差的影響程度； 控制圖類型 計量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不合格品率控制圖 Xδ均值和標(biāo)準差圖 nP chart不合格品數(shù)控制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺陷數(shù)控制圖 XMR 單值移動極差圖 U chart 單位缺陷數(shù)控制圖 例圖： XR平均值與極差控制圖 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關(guān)心的是不合格品率？ 否 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否 桓定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X— R圖 是 否 使用 X— R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。 GB/28282023抽樣計劃表 10 15 25 40 65 100 150 250 400Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac ReA 2 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15B 3 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22C 5 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22 30 31D 8 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22 30 31 44 45E 13 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22 30 31 44 45F 20 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22G 32 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22H 50 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22J 80 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22K 125 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22L 200 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22M 315 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 1 4 1 5 21 22N 500 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 2 1 2 2P 800 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 2 1 2 2Q 1 250 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 1 4 1 5 2 1 2 2R 2 000 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 1 4 1 5 21 22Ac 接 收數(shù)。 使用箭頭上面的第一個抽樣方案。 e. 分層法：按照一定的標(biāo)志把搜集到的大量有關(guān)某一特點主題的統(tǒng)計數(shù)據(jù)加以歸類、整理和匯總的一種方法。 b 一般情況，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。（見例圖） 控制圖的原理 ? 當(dāng)質(zhì)量特性的隨機變量 x服從正態(tài)分布時，則x落在 μ177。當(dāng)工序能力不足時為找到適合標(biāo)準的產(chǎn)品而做全數(shù)檢查時多出現(xiàn)此型，也就是說用剔除不合格產(chǎn)品的產(chǎn)品數(shù)據(jù)作直方圖時易出現(xiàn)此型。 由于某種因素使下限受到限制時多出現(xiàn)此型 ， 如清潔度近于零 ， 缺陷數(shù)近于零 ， 孔加工尺寸偏小等 。（見例圖 ） 例：頻數(shù)表 不良項目 不良數(shù) 不良率 累計不良率 沾錫渣 31 % % 骨架破 18 % % 磁芯破損 13 % 85% 膠帶破 7 % % 焊點高 2 % % 其它 2 % 100% 合計 73 100% 排列圖不良率與累計不良率計算 1：不良率 P=單項不良數(shù) /總不良數(shù) 2：累計不良率 Np=P1+P2+P3+P4… b. 直方圖：用一系列寬度相等，高度不等的矩形表示數(shù)據(jù)分布的圖。當(dāng)過程僅受隨機因素影響時，過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（簡稱受控狀態(tài)）；當(dāng)過程中存在系統(tǒng)因素的影響時，過程處于統(tǒng)計失控狀態(tài)（簡稱失控狀態(tài)）。波動分為兩種：正常波動和異常波動。 ? 優(yōu)點：抽樣誤差小 ? 缺點：較復(fù)雜 c. 順序抽樣法 ? 又稱等距抽樣法、系統(tǒng)抽樣法
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