質(zhì)量數(shù)據(jù)及分析、統(tǒng)計(jì)基本方法(20)(完整版)
【正文】 (初始研究時(shí) ， 這些被認(rèn)為是試驗(yàn)控制限 。 測(cè)量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗(yàn)人或新的量具 過(guò)程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說(shuō)明存在下列情況之一或全部： 過(guò)程性能已改進(jìn) 測(cè)量系統(tǒng)的改好 注：當(dāng) np 很小時(shí) （ 5以下 ） ， 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 ， 因此有必要用長(zhǎng)度為 8點(diǎn)或更多的點(diǎn)的長(zhǎng)鏈作為不合格 品率降低的標(biāo)志 。 ? 2:能有效分析判斷生產(chǎn)過(guò)程工序質(zhì)量的穩(wěn)定性 ,從而可降低檢驗(yàn)、測(cè)試費(fèi)用； ? 3：可查明設(shè)備和工藝手段的實(shí)際精度，以便作出正確的技術(shù)決定； ? 4：使工序的成本和質(zhì)量成為可預(yù)測(cè)的，并能以較快的速度和準(zhǔn)確性測(cè)量出系統(tǒng)誤差的影響程度； 控制圖類型 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不合格品率控制圖 Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nP chart不合格品數(shù)控制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺陷數(shù)控制圖 XMR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺陷數(shù)控制圖 例圖： XR平均值與極差控制圖 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關(guān)心的是不合格品率？ 否 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否 桓定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計(jì)算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁(yè) 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的 S值？ 使用 X— R圖 是 否 使用 X— R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過(guò)評(píng)價(jià)并且是適用的。 GB/28282023抽樣計(jì)劃表 10 15 25 40 65 100 150 250 400Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac ReA 2 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15B 3 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22C 5 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22 30 31D 8 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22 30 31 44 45E 13 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22 30 31 44 45F 20 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22G 32 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22H 50 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22J 80 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22K 125 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22L 200 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 21 22M 315 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 1 4 1 5 21 22N 500 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 2 1 2 2P 800 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 14 15 2 1 2 2Q 1 250 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 1 4 1 5 2 1 2 2R 2 000 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 1 0 1 1 1 4 1 5 21 22Ac 接 收數(shù)。 使用箭頭上面的第一個(gè)抽樣方案。 e. 分層法：按照一定的標(biāo)志把搜集到的大量有關(guān)某一特點(diǎn)主題的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)加以歸類、整理和匯總的一種方法。 b 一般情況，各點(diǎn)與均值的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。 超出控制限的點(diǎn) a 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說(shuō)明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 子組數(shù)量： 收集的時(shí)間足夠長(zhǎng) ， 使得可以找到所有可能影響 過(guò)程的變差源 。（見(jiàn)例圖） 控制圖的原理 ? 當(dāng)質(zhì)量特性的隨機(jī)變量 x服從正態(tài)分布時(shí)，則x落在 μ177。當(dāng)工序能力不足時(shí)為找到適合標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品而做全數(shù)檢查時(shí)多出現(xiàn)此型，也就是說(shuō)用剔除不合格產(chǎn)品的產(chǎn)品數(shù)據(jù)作直方圖時(shí)易出現(xiàn)此型。 由于某種因素使下限受到限制時(shí)多出現(xiàn)此型 ， 如清潔度近于零 ， 缺陷數(shù)近于零 ， 孔加工尺寸偏小等 。（見(jiàn)例圖 ） 例：頻數(shù)表 不良項(xiàng)目 不良數(shù) 不良率 累計(jì)不良率 沾錫渣 31 % % 骨架破 18 % % 磁芯破損 13 % 85% 膠帶破 7 % % 焊點(diǎn)高 2 % % 其它 2 % 100% 合計(jì) 73 100% 排列圖不良率與累計(jì)不良率計(jì)算 1：不良率 P=單項(xiàng)不良數(shù) /總不良數(shù) 2：累計(jì)不良率 Np=P1+P2+P3+P4… b. 直方圖：用一系列寬度相等，高度不等的矩形表示數(shù)據(jù)分布的圖。當(dāng)過(guò)程僅受隨機(jī)因素影響時(shí)，過(guò)程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)（簡(jiǎn)稱受控狀態(tài)）；當(dāng)過(guò)程中存在系統(tǒng)因素的影響時(shí)，過(guò)程處于統(tǒng)計(jì)失控狀態(tài)（簡(jiǎn)稱失控狀態(tài)）。波動(dòng)分為兩種：正常波動(dòng)和異常波動(dòng)。 ? 優(yōu)點(diǎn)：抽樣誤差小 ? 缺點(diǎn)：較復(fù)雜 c. 順序抽樣法 ? 又稱等距抽樣法、系統(tǒng)抽樣法
規(guī)章制度相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1