電子顯微鏡2(完整版)
【正文】 用透射電子拍攝的晶格條紋像。44武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳5 俄歇電子像 (1)電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象 亦可探測(cè) 俄歇電子信號(hào) （根據(jù)其特征的能量），獲得 俄歇電子圖像 。 此外，背反射電子能量較高，它們以直線軌跡逸出樣品表面，對(duì)于背向檢測(cè)器的樣品表面，因檢測(cè)器無法收集到背反射電子而變成一片陰影，因此其圖像上很多的形貌信息無法反映出來。 用專門的 背散射信號(hào)探測(cè)裝置 （可檢測(cè)的電子能量較高），可以探測(cè)背散射電子信息。 8武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (7)電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象9武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (8)電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象10武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (9)電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象B 二次電子圖象11武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (10)電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象 通過一定的方式控制電子束，在樣品表面的一個(gè)微小區(qū)域，逐點(diǎn)轟擊樣品，二次電子接收器（探測(cè)器）也相應(yīng)地逐點(diǎn)收集。4武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (3)電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象 入射電子能量 E較低時(shí)，隨束能增加二次電子產(chǎn)額 δ增加，而在高束能區(qū)， δ隨 E增加而逐漸降低。12武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (11)電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象An image of the broken surface of a piece of metal, formed using secondary electron imaging.13武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (12)電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡 的主要圖象An image of the mesh, formed using secondary electron imaging. Magnification: 310,000 14武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳(a) Scanning electron microscope image no. 1: kaolinite stacks with broken edges. (b) Scanning electron microscope imageno. 2: rolled kaolinite layers and pseudohexagonal platelets. (c)Scanning electron microscope image no. 3: broken edges of the kaolin
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