長(zhǎng)度測(cè)量技術(shù)ppt課件(完整版)
【正文】 我們可以把掃描隧道顯微鏡的工作過程總結(jié)為：利用探針針尖掃描樣品，通過隧道電流獲取信息，經(jīng)計(jì)算機(jī)處理得到圖象。 雷達(dá)物位計(jì)的天線發(fā)射出 電磁波 ，這些波經(jīng)被測(cè)對(duì)象表面反射后，再被天線接收，電磁波從發(fā)射到接收的時(shí)間與到液面的距離成正比。 與被測(cè)體無關(guān)（軟硬、顏色、冷熱、材料 … ） 量程可達(dá)數(shù)十厘米。 36 莫爾條紋具有如下特點(diǎn) ： 。 粗糙度評(píng)定基準(zhǔn)： 27 5/)( 5151 ?? ????i vii pizyyR(1) 輪廓算術(shù)平均偏差 Ra： (2) 微觀不平度十點(diǎn)高度 Rz： (3) 輪廓最大高度 Ry： ??? ni ia ynR 11在取樣長(zhǎng)度內(nèi)，被測(cè)實(shí)際輪廓上各點(diǎn) 至中線距離絕對(duì)值的平均值 . m a xm a x VPY YYR ??在取樣長(zhǎng)度內(nèi)，被測(cè)實(shí)際輪廓上 5點(diǎn)最大峰高平均值與 5點(diǎn)最大谷深平均值的絕對(duì)值和 . 在取樣長(zhǎng)度內(nèi)，被測(cè)實(shí)際輪廓上峰頂 與谷底之間距離 . 粗糙度的評(píng)定參數(shù)： 評(píng)定參數(shù) ：通常采用下列參數(shù)之一來定量評(píng)定表面粗糙度。 ?影響配合性質(zhì)的穩(wěn)定性。 光條結(jié)構(gòu)光傳感器 測(cè)量車身上各種棱線的空間位置； 立體視覺傳感器 測(cè)量車身上各個(gè)特征點(diǎn)的空間坐標(biāo)； 十字線結(jié)構(gòu)光傳感器 測(cè)量車身上的圓孔尺寸及孔心坐標(biāo)。 被測(cè)工件變化時(shí)，框架需要重新制作或改造。） 3 雙目體視傳感器 ：利用 立體視差 。 三坐標(biāo)機(jī)測(cè)量法 ：采用離散點(diǎn)檢測(cè)，速度慢，工作量大，無法實(shí)現(xiàn)在線檢測(cè)。 只適用于外圓。 最小條件 :是指被測(cè)實(shí)際要素對(duì)其理想要素的最大變動(dòng)量為最小。 5 第三節(jié) 形位誤差測(cè)量 圓度誤差指包容同一正截面實(shí)際輪廓且半徑差為最小的兩同心圓的距離 fm。 8 圓度誤差測(cè)量 圓度儀測(cè)量法： 將被測(cè)零件安置在量?jī)x工作臺(tái)上，調(diào)整其軸線與量?jī)x回轉(zhuǎn)軸同軸。 經(jīng)緯儀組合測(cè)量法 ： 經(jīng)緯儀； 系統(tǒng)組合靈活，可實(shí)現(xiàn)大型零部件的在線非接觸高精度測(cè)量，但需人工瞄準(zhǔn)，工作強(qiáng)度大，效率較低。即兩臺(tái)性能相同、相互位置固定的攝像機(jī)，同時(shí)獲取同一被測(cè)表面兩個(gè)方向的圖像，計(jì)算空間特征點(diǎn)在兩幅圖像中的 “ 視差 ” ，繼而得到物體表面的距離信息。 2 可動(dòng)式系統(tǒng) ：傳感器沿著指定的路線移動(dòng)來實(shí)現(xiàn)對(duì)工件的檢測(cè)。 用這種方法檢測(cè)車身，只需要檢測(cè) 30多個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，用不到 40秒的時(shí)間就可以對(duì)每個(gè)車身進(jìn)行實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確的檢測(cè)。 ?影響零件的疲勞強(qiáng)度。 28 粗糙度的接觸式測(cè)量： 工作原理：觸針接觸被測(cè)表面， 移動(dòng)一段長(zhǎng)度（切斷長(zhǎng)度）， 傳感器輸出位移信號(hào) 位移傳感器：電感傳感器、壓電傳感器 測(cè)量頭：導(dǎo)頭－保持移動(dòng)方向，近似測(cè)量基準(zhǔn) 觸針－獲取輪廓信號(hào) 觸針式輪廓儀： 電感式輪廓儀、 激光干涉式輪廓儀、壓電式輪廓儀 二、粗糙度的測(cè)量方法 29 電感式輪廓儀 ：采用 電感傳感器 把觸針的微小位移信號(hào)轉(zhuǎn)換成電量輸出。光柵每移動(dòng)過一個(gè)柵距 W，莫爾條紋就移動(dòng)過一個(gè)條紋間距 B。 傳感器探頭發(fā)射出的激光 ,通過特殊的透鏡被匯聚成一個(gè)直徑極小的光束，此光束被測(cè)量表面漫反射到一個(gè)分辨率極高的 CCD或 PSD探測(cè)器上 ,通過 CCD或 PSD所感應(yīng)到光束位置的不同，精確測(cè)量被測(cè)物體位置變化。 D—— 雷達(dá)物位計(jì)到表面的距離 C—— 光速 T—— 電磁波運(yùn)行時(shí)間 ? 采用一體化設(shè)計(jì)，無可動(dòng)部件，不存在機(jī)械磨損，使用壽命長(zhǎng)； ?幾乎可以測(cè)量所有介質(zhì)； ? 采用非接觸式測(cè)量，不受槽內(nèi)物體的密度、濃度等物理特性的影響； ? 測(cè)量范圍大，最大可達(dá) 0~35m，可用于高溫、高壓的液位測(cè)量。 57 1990年， IBM公司的科學(xué)家展示了一項(xiàng)令世人瞠目結(jié)舌的成果，他們?cè)诮饘冁嚤砻嬗?35個(gè)惰性氣體氙原子組成 “ IBM”三個(gè)英文字母。 原子力顯微鏡同樣具有原子級(jí)的分辨率。 一、掃描隧道顯微鏡（ STM） 1981年， IBM公司蘇黎世實(shí)驗(yàn)室研制成功了世界
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