步步高iqc檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書1-----電子、結(jié)構(gòu)材料部分ic檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)-文庫吧在線文庫
【正文】 擬制 審核 批準(zhǔn) 序 號(hào) 檢驗(yàn)項(xiàng)目 缺 陷 內(nèi) 容 判 定 1 外觀 封裝形式錯(cuò)誤，表面破損，型號(hào)、批號(hào)標(biāo)識(shí)錯(cuò)、標(biāo)識(shí)模糊，（無法認(rèn)出型號(hào)）引線腳嚴(yán)重氧化或斷腳，混裝其他型號(hào)的 IC B 表面臟污，標(biāo)識(shí)不清晰，引線腳輕微氧化 C 2 結(jié)構(gòu)尺寸 主體尺寸、引線腳尺寸及引線腳間距尺寸超差影響裝配 B 主體尺寸、引線腳尺寸及引線腳間距尺寸超差但不影響裝配 C 3 電氣性能 無功能或性能不良 B 4 可焊性 經(jīng)上錫后，上錫面 80% B 經(jīng)上錫后，上錫面 80%~98% C
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