spc數(shù)據(jù)控制圖分析過程-文庫吧在線文庫
【正文】 正態(tài)分布18XR 圖的結(jié)構(gòu)lXR 是最常用的控制圖。控制圖 – 抽樣風(fēng)險漏斗試驗24II類錯誤l 過程實際不在控制狀態(tài)而認為其在控制狀態(tài)l ? = 發(fā)生 II類缺陷的概率 = 又稱為消費者風(fēng)險 Lower Control LimitUpper Control LimitCenter Line抽樣數(shù)或時間%%該過程在受控狀態(tài)嗎 ?還是該點屬于偏移的過程，其發(fā)生于控制界限內(nèi) ?偏移的過程控制圖 – 抽樣風(fēng)險25設(shè)置控制界限Sigma 界限方法l 控制界限常設(shè)置在離中心線 3?w 單位處， I類錯誤為 %?？刂茍D控制圖 平均運行周期平均運行周期 (ARL)29l 控制圖理論的一個重要概念是通過抽樣組成一個數(shù)據(jù)組（子群）l 修華特稱之為合理子群l X圖用于探測由于特殊原因所導(dǎo)致的過程均值偏移。– 因此，在每個子群內(nèi)的變異應(yīng)盡可能小，只存在偶然原因引起的變異。 容易探測出過程偏移。l 這些子群可建立試控制界限以幫助我們評估過程在過去是否受控以及該控制界限是否適合當前或后續(xù)的生產(chǎn)。39l MiniTab:Stat ? Control Charts ?XbarR例 1: XR 圖40該過程受控嗎 ?為何兩邊的距離不等 ?例 1: XR 圖41XR圖必須合并及單獨進行解釋。修訂控制界限及中心線 44l 一些使用者會用目標值代替 X圖上平均值作為中心線 :216。設(shè)計一個 XR 圖51抽樣頻率 ARLl 一個好注意是用 ARL（ 平均運行長度）從統(tǒng)計角度評估抽樣頻率。 設(shè)計一個 XR 圖3 ?3 ?%Lower Control LimitCenter LineUpper Control Limit%%過程偏移56失控 ARL This chart is for OutofControl ARL(1 – b)57樣本容量l 樣本容量方面，如何從統(tǒng)計角度計算適當?shù)臉颖救萘?？l 樣本容量可以限制 II類錯誤的數(shù)量。l 以下情況需要較大的樣本容量：– 需要較小的抽樣風(fēng)險– 需要較大的偏移敏感度– 品質(zhì)特性數(shù)據(jù)不服從正態(tài)分布注意 : 當修華特在 1920年創(chuàng)建 SPC時，沒有簡單方法計算標準偏差 ，因此極差方法得一普及應(yīng)用65使用 SPCl 將 SPC使用于與項目范圍相關(guān)的區(qū)域。l 基于 DOE發(fā)現(xiàn)的關(guān)鍵變量。l 該數(shù)據(jù)常會被繪制于 XbarR圖上，這會導(dǎo)致較小的內(nèi)部變差，它與通常意義上的同一子組內(nèi)的不同樣本間變差是不同的。l 除非過程受控，否則不存在過程能力和有意義的規(guī)格 。 (比如使用 BoxCox轉(zhuǎn)換 )l 如需進行轉(zhuǎn)化，需對相關(guān)的 Xbar, Rbar 及其控制界限也進行相應(yīng)的轉(zhuǎn)換。 (X0 和 Xi1)。66SPC圖可用于什么地方l 當無法使用防錯裝置時。l 允許偏移 :根據(jù)歷史數(shù)據(jù) , Cp ? .最小客戶要求 Cpk ? 設(shè)計一個適當?shù)? XbarR圖，要求滿足以上約束條件61例 2: 設(shè)計一個 XR 圖首先計算 ?l ARL0=1/?=500， ?=l 抽樣頻率設(shè)置為 1次 /小時，平均信號時間為 500小時 計算 b l ARL1=1/(1 b)=3 b=2/3l 抽樣頻率設(shè)置為 1次 /小時，平均信號時間為 3小時 計算 Kl K=3（ CPCPK)= 計算 n n=[(Z?/2+Zb)/K] =≈2l 由此得，本例抽樣頻率為 1次 /小時，子群樣本容量l 為 2，過程控制界限設(shè)置于 。l 如果抽樣間隔為 1小時，意味著每生產(chǎn) 370小時將出現(xiàn)一次假報警。修訂控制界限及中心線 45不穩(wěn)定指示器首要指示l 任一點超出控制界限第二級指示器l 控制圖上的任意非隨機式樣點。l 當 R圖顯示失控狀況時，即子群內(nèi)變異不穩(wěn)定時，不要嘗試去解釋 X圖合并解釋 XR 圖 43l 初始試控制界限需進行修訂以適應(yīng)過程可能的變化。試
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