spc的基礎(chǔ)知識(shí)與數(shù)據(jù)整理-文庫吧在線文庫
【正文】 。 —— 統(tǒng)計(jì)的靈魂。 —— 樣品：樣本中的每一個(gè)個(gè)體。 ? 不受干擾性 。 ? 將零星的、分散的、雜亂的信息數(shù)據(jù)轉(zhuǎn) 化成規(guī)范的表格，圖形。 ?預(yù)防不合格品的發(fā)生或再發(fā)生 。 —— 統(tǒng)計(jì)方法應(yīng)用條件 SS 統(tǒng)計(jì)方法應(yīng)用成功的關(guān)鍵 ： ?強(qiáng)烈的預(yù)防、改進(jìn)的意識(shí) —— 決定每個(gè)人的行為、思維模式。 —— 一個(gè)深化、細(xì)化、進(jìn)一步提高質(zhì)量管理有效性的途徑 —— 統(tǒng)計(jì)方法：結(jié)論 SS 第三講 數(shù)據(jù)的收集、整理與圖示方法 SS 一、數(shù)據(jù)： ? 一般可通過觀察、檢驗(yàn)、測(cè)量、試驗(yàn)獲得。 —— 產(chǎn)品特性值：將要求按特定的準(zhǔn)則，轉(zhuǎn)化為產(chǎn)品功能性的 術(shù)語和量值。 —— 數(shù)據(jù)：產(chǎn)品特性值分類 SS 誤差與容差 —— 數(shù)據(jù)：誤差與容差 SS 誤差： ?產(chǎn)品特性值由過程決定。 ?偶因造成的誤差較小，為過程固有特性，無法消除。 SPC SS SPC 第四講 統(tǒng)計(jì)過程控制 SS 一、 波動(dòng)及其原因 第一節(jié) 統(tǒng)計(jì)過程控制概述 通常波動(dòng)有兩大類 : 異常波動(dòng) SPC 偶然波動(dòng) —— 概述 SS 過程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，也稱為受控狀態(tài)。 異常波動(dòng)是異常因素引起的，非過程所固有。移動(dòng)極差控制圖（ X RS 圖 ) SPC ~ SS (2)計(jì)數(shù)值控制圖 ? 不合格品率控制圖 (p圖 ) ? 不合格品數(shù)控制圖 (np圖 ) ? 單位缺陷數(shù)控制圖 (u圖 ) ? 缺陷數(shù)控制圖 (c圖 ) SPC SS 控制圖的原理 控制圖是根據(jù)正態(tài)分布的 3?原理構(gòu)造的。 極差控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的標(biāo)準(zhǔn)差是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。 SPC ~ SS SPC 控制線如下： CL X R UCL X + A3R B4R LCL X A3R B3R R圖 X 圖 適用樣本容量 n ? 10 ~ ~ ~ ~ SS 計(jì)數(shù)控制圖 計(jì)件控制圖 : 只考慮是否具有某種特性譬如產(chǎn)品是 否合格，記錄不合格的產(chǎn)品數(shù)。 SPC SS （四）判異準(zhǔn)則 （ 2種類型） ； 。 ? 應(yīng)首先判斷 R(或 S)圖的受控狀態(tài)。 必要時(shí)，重復(fù)直到所有點(diǎn)受控 SPC SS ，用留下的子組數(shù) 據(jù)，計(jì)算和，并計(jì)算它們的上下控制線。 SPC SS 第三節(jié) 過程能力分析 1. 設(shè)規(guī)范要求特性值在 LTL與 UTL 之間 過程的 標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)為： 過程能力指數(shù)為 : SPC CP = USLLSL 6 ? ^ ? = 或 S c4 R d2 ^ SS 這是一個(gè)潛在的過程能力指數(shù) 當(dāng) Cp1時(shí)，過程不能滿足規(guī)范要求 當(dāng) Cp=1時(shí)，過程剛好滿足規(guī)范要求 在實(shí)際中最好能使 Cp= SPC SS cpk的計(jì)算 : 當(dāng)產(chǎn)品質(zhì)量分布的均值與公差中心 M不重合(有偏離 )時(shí)需對(duì) cp加以修正、計(jì)算如下 偏離度 修正過程能力指數(shù) SPC K = =2?/T ? T/2 ?= M ? Cpk = (1K)CP SS 提高過程能力的途徑 (1)適當(dāng)加大公差范圍 (應(yīng)經(jīng)顧客同意 ) (2)減少偏離度 (設(shè)備調(diào)整、量具校準(zhǔn) ) (3)減少 ?(系統(tǒng)的調(diào)整改進(jìn) ) SPC SS 七、建立控制圖前期的準(zhǔn)備工作 ，確定控制點(diǎn) :一般以時(shí)間劃分 要求：組內(nèi)變異應(yīng)由隨機(jī)原因引起 組間差異 應(yīng)由 異常原因 引起 20到 75組 SPC SS 當(dāng)控制圖使用了一段時(shí)間后，應(yīng)根據(jù)實(shí)際的質(zhì)量水平，對(duì)控制圖的中心線和上、 下控制線進(jìn)行修正 ，使控制水平能夠不斷提高。 一旦發(fā)現(xiàn)失控或出現(xiàn)異常模式的信號(hào)時(shí)，應(yīng)該及時(shí)分析原因，并采取行動(dòng)。并 計(jì)算 R 圖的 控制限。 有關(guān)極差的控制圖 (或標(biāo)準(zhǔn)差 )揭示了組內(nèi)的異常波動(dòng)，是考察過程波動(dòng) (變異 )大小的指示器，是過程一致性或均勻性的 一個(gè)度量。 SPC SS 計(jì)件控制圖控制界限如下： SPC CL = P UCL = P + 3 P(1P)/n LCL = P 3 P(1P)/n P 圖 SS 當(dāng)樣本大小 n 不等時(shí)， UCL與 LCL將隨之而變化 當(dāng)樣本大小相差不大時(shí)： 在 與 n+ 之間時(shí)用 n代替 n 當(dāng) LCL 0時(shí)，取 LCL=0 SPC SS 控制界限如下： SPC CL = np UCL= np + 3 np(1 p ) LCL= np 3 np(1 p ) np 圖 當(dāng)樣本容量相等時(shí)，可以用 np圖 當(dāng) LCL0?時(shí)，取 LCL=0 SS 單位不合格數(shù)控制圖控制界限如下： SPC CL = u UCL = u + 3 u / n LCL = u 3 u / n u 圖 SS SPC CL = C UCL = C + 3 C LCL = C 3 C 當(dāng)樣本容量相等時(shí)，可以用 c圖 控制界限如下 : c圖 當(dāng) LCL 0 時(shí) ,取 LCL = 0 SS 控制圖實(shí)際上是生產(chǎn)過程質(zhì)量的一種記錄圖形，它提供了判斷過程是否處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)的一種方法。 兩張圖一起用，稱為均值 標(biāo)準(zhǔn)差控制圖。 當(dāng)點(diǎn)超出上下控制線時(shí)表示過程失控，需要采取措施 SPC —— 控制圖的原理 SS 有時(shí)還把控制線內(nèi)分成幾個(gè)區(qū)域： SPC ?T+2?T 與 ?T+3?T 之間稱為 A上 區(qū) ?T+ ?T 與 ?T+2?T 之間稱為 B上 區(qū) ?T ?T 與 ?T + ?T 之間稱為 C 區(qū) ?T 2 ?T 與 ?T ?T 之間稱為 B下 區(qū) ?T 3 ?T 與 ?T 2?T 之間稱為 A下 區(qū) 稱 ?T 2
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