【正文】 。 —— 統(tǒng)計的靈魂。 —— 樣品：樣本中的每一個個體。 ? 不受干擾性 。 ? 將零星的、分散的、雜亂的信息數(shù)據(jù)轉(zhuǎn) 化成規(guī)范的表格，圖形。 ?預防不合格品的發(fā)生或再發(fā)生 。 —— 統(tǒng)計方法應用條件 SS 統(tǒng)計方法應用成功的關鍵 ： ?強烈的預防、改進的意識 —— 決定每個人的行為、思維模式。 —— 一個深化、細化、進一步提高質(zhì)量管理有效性的途徑 —— 統(tǒng)計方法：結(jié)論 SS 第三講 數(shù)據(jù)的收集、整理與圖示方法 SS 一、數(shù)據(jù)： ? 一般可通過觀察、檢驗、測量、試驗獲得。 —— 產(chǎn)品特性值：將要求按特定的準則，轉(zhuǎn)化為產(chǎn)品功能性的 術語和量值。 —— 數(shù)據(jù)：產(chǎn)品特性值分類 SS 誤差與容差 —— 數(shù)據(jù)：誤差與容差 SS 誤差： ?產(chǎn)品特性值由過程決定。 ?偶因造成的誤差較小，為過程固有特性，無法消除。 SPC SS SPC 第四講 統(tǒng)計過程控制 SS 一、 波動及其原因 第一節(jié) 統(tǒng)計過程控制概述 通常波動有兩大類 : 異常波動 SPC 偶然波動 —— 概述 SS 過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，也稱為受控狀態(tài)。 異常波動是異常因素引起的，非過程所固有。移動極差控制圖（ X RS 圖 ) SPC ~ SS (2)計數(shù)值控制圖 ? 不合格品率控制圖 (p圖 ) ? 不合格品數(shù)控制圖 (np圖 ) ? 單位缺陷數(shù)控制圖 (u圖 ) ? 缺陷數(shù)控制圖 (c圖 ) SPC SS 控制圖的原理 控制圖是根據(jù)正態(tài)分布的 3?原理構造的。 極差控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的標準差是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài)。 SPC ~ SS SPC 控制線如下： CL X R UCL X + A3R B4R LCL X A3R B3R R圖 X 圖 適用樣本容量 n ? 10 ~ ~ ~ ~ SS 計數(shù)控制圖 計件控制圖 : 只考慮是否具有某種特性譬如產(chǎn)品是 否合格，記錄不合格的產(chǎn)品數(shù)。 SPC SS （四）判異準則 （ 2種類型） ； 。 ? 應首先判斷 R(或 S)圖的受控狀態(tài)。 必要時，重復直到所有點受控 SPC SS ，用留下的子組數(shù) 據(jù)，計算和，并計算它們的上下控制線。 SPC SS 第三節(jié) 過程能力分析 1. 設規(guī)范要求特性值在 LTL與 UTL 之間 過程的 標準差的估計為： 過程能力指數(shù)為 : SPC CP = USLLSL 6 ? ^ ? = 或 S c4 R d2 ^ SS 這是一個潛在的過程能力指數(shù) 當 Cp1時，過程不能滿足規(guī)范要求 當 Cp=1時，過程剛好滿足規(guī)范要求 在實際中最好能使 Cp= SPC SS cpk的計算 : 當產(chǎn)品質(zhì)量分布的均值與公差中心 M不重合(有偏離 )時需對 cp加以修正、計算如下 偏離度 修正過程能力指數(shù) SPC K = =2?/T ? T/2 ?= M ? Cpk = (1K)CP SS 提高過程能力的途徑 (1)適當加大公差范圍 (應經(jīng)顧客同意 ) (2)減少偏離度 (設備調(diào)整、量具校準 ) (3)減少 ?(系統(tǒng)的調(diào)整改進 ) SPC SS 七、建立控制圖前期的準備工作 ，確定控制點 :一般以時間劃分 要求：組內(nèi)變異應由隨機原因引起 組間差異 應由 異常原因 引起 20到 75組 SPC SS 當控制圖使用了一段時間后，應根據(jù)實際的質(zhì)量水平，對控制圖的中心線和上、 下控制線進行修正 ，使控制水平能夠不斷提高。 一旦發(fā)現(xiàn)失控或出現(xiàn)異常模式的信號時，應該及時分析原因，并采取行動。并 計算 R 圖的 控制限。 有關極差的控制圖 (或標準差 )揭示了組內(nèi)的異常波動，是考察過程波動 (變異 )大小的指示器，是過程一致性或均勻性的 一個度量。 SPC SS 計件控制圖控制界限如下： SPC CL = P UCL = P + 3 P(1P)/n LCL = P 3 P(1P)/n P 圖 SS 當樣本大小 n 不等時， UCL與 LCL將隨之而變化 當樣本大小相差不大時： 在 與 n+ 之間時用 n代替 n 當 LCL 0時，取 LCL=0 SPC SS 控制界限如下： SPC CL = np UCL= np + 3 np(1 p ) LCL= np 3 np(1 p ) np 圖 當樣本容量相等時，可以用 np圖 當 LCL0?時，取 LCL=0 SS 單位不合格數(shù)控制圖控制界限如下： SPC CL = u UCL = u + 3 u / n LCL = u 3 u / n u 圖 SS SPC CL = C UCL = C + 3 C LCL = C 3 C 當樣本容量相等時，可以用 c圖 控制界限如下 : c圖 當 LCL 0 時 ,取 LCL = 0 SS 控制圖實際上是生產(chǎn)過程質(zhì)量的一種記錄圖形，它提供了判斷過程是否處于統(tǒng)計控制狀態(tài)的一種方法。 兩張圖一起用，稱為均值 標準差控制圖。 當點超出上下控制線時表示過程失控，需要采取措施 SPC —— 控制圖的原理 SS 有時還把控制線內(nèi)分成幾個區(qū)域： SPC ?T+2?T 與 ?T+3?T 之間稱為 A上 區(qū) ?T+ ?T 與 ?T+2?T 之間稱為 B上 區(qū) ?T ?T 與 ?T + ?T 之間稱為 C 區(qū) ?T 2 ?T 與 ?T ?T 之間稱為 B下 區(qū) ?T 3 ?T 與 ?T 2?T 之間稱為 A下 區(qū) 稱 ?T 2