【正文】 CLXS X Xp)1np33U數(shù)據(jù)的收集 數(shù)據(jù)的收集數(shù)據(jù)的收集66SHIRONGWEI167。：可以是每兩班一次或每小時一次。 關(guān)鍵質(zhì)量特性 一個過程往往具有各種各樣的特性，在使用控制圖時應(yīng)選擇能夠真正能代表過程的主要指標作為控制對象。76SHIRONGWEI表 XR圖 數(shù)據(jù)及計算表XiRX4 20775 例如第一組樣 Xmax－ Xmin=其余類推。(∑R)/n=D3=0,LCLR)=UCLX*?處理后，去掉第 13組及第 17組數(shù)據(jù) ﹡ ，再重新計算 X圖和 R圖的參數(shù)，就有：23(3571831)247。新的控制圖步驟 6： 延長控制線，作為日常監(jiān)控用。中位數(shù)控制圖的作用及詳細說明與 XR圖類似，所不同的是用中位數(shù)代替了平均數(shù)。在有些情況下，是用單值而不是用子組來進行過程控制。過程任何時點的輸出性質(zhì)比較一致時（譬如化學液體的 pH值）】 (3)測定值… … … =根據(jù)表 （ 3）欄的數(shù)據(jù)，得到247。0X圖： =n 優(yōu)點： n 包括： 5/p 95SHIRONGWEIn P圖控制限公式 步驟 1： 根據(jù)數(shù)據(jù)采集計劃，取得數(shù)據(jù)如表 示。p ，利用表 ，有 p＝ ∑np/∑n=組號 樣本大小 19 … √n=時，有： 當消除變異的特殊原因后，重新計算控制線，進行日?？刂?。=== 不合格品總數(shù)np組號 樣本大小 2 762 ＝ ==取 0 ∑c缺陷總數(shù)k√110SHIRONGWEI【 c圖實例 】2 3=82247。Σ+3=n u√LCL/u=總單位數(shù)115SHIRONGWEI[u圖實例 ] 現(xiàn)在以電鍍板的缺陷（針孔）為例，來建立 u圖 。c單位缺陷數(shù) 75 4247。使用表 57的數(shù)據(jù)，有＝ 2.npc即 標準差 σ是計算評價過程能力的基礎(chǔ)。ssCp： 無偏移過程指數(shù)， 代表過程的 潛在能力 。CpCPL132SHIRONGWEI 期望值： 3.minCPU, 國內(nèi)教材將之稱作過程 “偏移系數(shù) ”，用 k表示。Ca===( 過過 程能力程能力 分析分析 示例示例136SHIRONGWEI[解 ]n 首先，估算過程標準差 σ：247。=Cpk︳ 范圍 C維持持續(xù)改進持續(xù)改進應(yīng)盡速檢討作業(yè)應(yīng)緊急采取措施 AD能力不足＞ 66800ppm均值偏移 1/8公差，理想狀態(tài)均值偏移 1/4公差，均值偏移 1/2公差，均值偏移大于 1/2公差， Z%143SHIRONGWEI144SHIRONGWEIn 示例 61的數(shù)據(jù) ： =PL =a.156SHIRONGWEI 控制圖的模式 — 周期n 周期 ： 連續(xù) 9點分布在中心線一側(cè)分析 ： 測量系統(tǒng)改變163SHIRONGWEI 控制圖的判異準則n 準則 165SHIRONGWEI 控制圖的判異準則n 準則 區(qū)以外分析： 通常表明過程 均值 發(fā)生偏移。（ 2）數(shù)據(jù)被編輯；169SHIRONGWEI 第八章 統(tǒng)計過程控制原則171SHIRONGWEI8． 2． 1在變化時期的所有不穩(wěn)定因素都能解決后，應(yīng)評價新的過程能力。變異類別 持續(xù)作用于過程 管理層 不行動 調(diào)整不會影響增加過程的變異。=3σ質(zhì)量 CPPPM 2.==SPC)假設(shè)過程中心與目標重合不良率 =2*10 策略改進成本低，方法簡單 局部措施和系統(tǒng)改進174SHIRONGWEI 不同變異原因的特征及行動策略 在對系統(tǒng)采取措施后，過程工程師應(yīng)對修改的過程繪制控制圖并進行分析，以驗證過程改進的效果：n n 方法 ：高級統(tǒng)計技術(shù)，如 DOE……n 措施舉例 ：過程重新設(shè)計、改善機器性能、培訓方法的改進、選擇提供一致性材料的供應(yīng)商、調(diào)整作業(yè)環(huán)境（如照明、濕度等）。n 效應(yīng) ：大約可糾正 15%的過程問題。5點中有 4點落在中心線同側(cè)的 過程隨時間的變化趨勢： 一點超出控制限分析 ： 圖形呈鋸齒狀，表明流程中存在著系統(tǒng)差異，由于分層問題引起，既混入了兩個流程的據(jù)。155SHIRONGWEI 控制圖的模式 — 偏移n 偏移 周期它是判斷變差的特殊原因的依據(jù)。透過解讀控制圖，團隊成員應(yīng)當回答如下問題；n 過程當前發(fā)生了什么？n 這些變異可以看作一種偶然嗎？n 我們是否需要采取行動？n 如果需要，該如何行動？151SHIRONGWEIn 判定過程異常的標志有兩類：【 使用過程績效指數(shù)應(yīng)注意的幾個問題 】148SHIRONGWEI149SHIRONGWEI 第七章a.Min（ 過程不良率 =USL=X=ZMinB維持持續(xù)改進持續(xù)改進應(yīng)盡速 檢討作業(yè)應(yīng)緊急 采取措施140SHIRONGWEI 過過 程能力程能力 評價評價 標準（標準（ Ca））等級 C.67— 21A=＝（ ） /6σ＝ R/X=│CpCaUSLLSLX(Capability3LSL） /3σ（ USLX） CPU過程容差218。公差 n 2 3 4 5 6 7 8d2 129SHIRONGWEI 過程能力指數(shù)130SHIRONGWEI/R圖方法： 過程能力的概念127SHIRONGWEI 觀察下圖幾種 受控過程 滿足規(guī)格的情況 128SHIRONGWEI 過程能力的估計 過程能力研究的目的125SHIRONGWEI 確定產(chǎn)品的特性和規(guī)格； 進行測量系統(tǒng)分析 MSA； 收集 50~150個數(shù)據(jù)，取 n=3~5，作圖（可以利用初始圖的數(shù)據(jù)）； 檢討控制圖是否存在特殊原因，如果存在，則采取措施消除之，使過程受控； 計算過程均值和標準差： 計算過程能力指數(shù) CP、 CPK； 計算過程不良率。圖 圖 恒定XRa. － 3*/ 2 6 1 8/5=假如，有一個 5平方米并帶有 8個針孔的電路板。參見表 的數(shù)據(jù)。＝=n不恒等 。取 0 82247。3表 3…… 3 1 樣本號 c=＝c圖主要應(yīng)用處理每個小組缺陷總數(shù)，以下幾種情況：（ 1）不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（例如；每匹維尼龍上的瑕疵、玻璃上的氣泡、印刷品的印刷錯誤等）；（ 2）可以用不合格的平均比率表示的地方（如每平方米維尼龍上的瑕疵）；（ 3）在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)的不合格（例如一臺機器修理、每輛車可能存在一個或多個不合格）； c 圖 （ 缺陷數(shù) ）109SHIRONGWEI ? c 圖基于泊松分布?！?)=1014 … 62 n不合格品數(shù) npnp圖計算公式105SHIRONGWEI【 np圖實例 】 建立 np圖的步驟與 p圖相同。p+ 用于 np控制圖的計算方法基于 二項分布 。 當超出上述值時，則單獨計算這些特殊的控制線。==++3√()/√np＝ （ 5－ 6），得… 31 9 p1＝ 12247。（４６）96SHIRONGWEI【 操作實例 】 某電子廠 5月份某種產(chǎn)品的數(shù)據(jù)如表 示。LCL=*＝ 步驟 3： 計算移動極差。(2)在生產(chǎn)穩(wěn)定時測得 25組數(shù)據(jù)，如表 。注意： 判斷過程變化的靈敏度較差一些。建立Ｘ R圖的方法與Ｘ Ｒ圖相似，這里不再演繹． 中位數(shù)為 17＝（ 16＋ 18） 247。作用與 XR圖相似，所不同的是，樣本標準差 s是過程變異性更有效的指標，但計算比較復雜。適用范圍和特點：?X80SHIRONGWEI（ 4）判斷控制圖是否穩(wěn)定。X計算 0== 1917 150 158 154 181 168 … 828 X2 值 號 按制定計劃： k=25, n=5, 將收集到的數(shù)據(jù)記錄到預先準備的數(shù)據(jù)表。5． 273SHIRONGWEI計量型控制圖之優(yōu)缺點? 優(yōu)點 : ＊ 用于制程之管制 ,甚靈敏 ,很容易調(diào)查事故發(fā)生的原因 ,因此可以預測將發(fā)生之不良狀況 。5． 68SHIRONGWEI167。67SHIRONGWEI 167。產(chǎn)品檢查：情況分析：n U3p np3(pA3SS B4S B3Sp p pA2R X圖 ─61SHIRONGWEIσ均值 +“過度調(diào)整 ”n 第 Ⅱ 類錯誤： 記為 β橫坐標：常用樣本序號表示 ……58SHIRONGWEI 167。用于樣本量方差的檢驗和估計。u圖的統(tǒng)計基礎(chǔ)。p圖、 中心極限定理n 定義： 不論總體分布形狀如何，隨著樣本容量的無限增加，從總體抽得的 樣本均值 的分布趨于正態(tài)分布。52SHIRONGWEI167。 正態(tài)分布 性質(zhì) 2n 均值 （ μ）與 標準差 （ σ）是正態(tài)分布的兩個重要參數(shù)。離散度 從 ~l.126.122.125.127令 μ( 13 )167。缺陷數(shù)、機器發(fā)生的故障次數(shù) ……167。不合格品數(shù)、機器數(shù)目 ……u 從分布可以看出過程（數(shù)據(jù)）的 3個特性： 位置 、 離散度 、 形狀 。1/6。 n 概率用 pAn隨機變量分類：n 離散隨機變量 — 產(chǎn)品質(zhì)量的變異具有統(tǒng)計規(guī)律性。改變過程，測其效果，從而更好 理解 『普通 原因 』 變異●●必須同時減少特殊原因和普通原因。受控，但無能力應(yīng)當減少普通原因引起的變差。滿足要求，可接受 。理想過程 變異、穩(wěn)定性和能力28SHIRONGWEI統(tǒng)計控制狀態(tài)受控 不受控過程能力滿足Ⅰ 當過程還存在變異的 特殊原因 時，稱過程處于非統(tǒng)計控制狀態(tài)，簡稱非 受控 。當過程只存在變異的 普通原因 時，稱過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)， 特殊原因是一種間斷性的、不可預計的、不穩(wěn)定的變異根源。n 表現(xiàn)舉例 隨機原因、隨機波動q 定義 變異 是指過程的單個輸出（產(chǎn)品或服務(wù)）之間不可避免的差別。員 17SHIRONGWEIn 避免浪費如果發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品不能滿足顧客要求（產(chǎn)品不合格并且超出接受界限），采取的措施只能是分類（即 100%檢驗）、返工或者是報廢。運作和管理的方式 …… 過程性能的好壞取決于：供方 ： 指提供資訊、材料和服務(wù)的單位和個人。確定普通原因 變異的大小并采取減少它的措施重復這三個階段從而不斷改進過程。收集資料并畫在圖上：正態(tài)分布 是其最基本的統(tǒng)計理論；SPC最初在美國西方電氣公司霍桑工廠得到應(yīng)用，其后 SPC在歐美特別在日本得到廣泛運用。代表人物是美國的費根堡姆和戴明，在日本獲得發(fā)展； ：包括 ISO9000、六西格瑪管理；167。n 滿足顧客要求：產(chǎn)品和服務(wù)的質(zhì)量最終由顧客來決定。常規(guī)控制圖的應(yīng)用n 第 6章 計數(shù)值控制圖 ： p圖、