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【正文】 正態(tài)分布形狀，看不出它的原始分布是什麼。 ◆ SPC由 Ⅱ 狀態(tài)達(dá)到 Ⅰ 狀態(tài)，要收緊控制規(guī)格，減少超差。這個判斷是錯誤的，這種錯誤稱為第二類，其發(fā)生概率記為 β ，見圖： 見圖示（請點(diǎn)擊） 注： 第一類錯誤又稱虛發(fā)警報， 虛發(fā)警報會引起白費(fèi)功夫去尋找根本不存在的異常變異而造成損失。 SPC控制圖判讀原則 SPC控制圖判讀原則： ■ 三條判穩(wěn)原則 ■ 八條判異原則 PIN SHINE PIN SHINE 三條判穩(wěn)原則 如果 SPC滿足下列情形之一，則 過程是穩(wěn)定的 ： 連續(xù) 25個點(diǎn)，界外點(diǎn)數(shù) D=0。 PIN SHINE 原則二： 連續(xù) 9點(diǎn)落在中心線同一側(cè)。 備注： 出現(xiàn)這種情況是存在兩個總體。 PIN SHINE 原則七： 連續(xù) 15點(diǎn)落在中心線兩側(cè)的 C區(qū)之內(nèi)。 將各組數(shù)據(jù)納入規(guī)定欄目內(nèi)。上述步驟 1－ 11為分析用控制圖階段，步驟 12為控制用控制圖階段?？v坐標(biāo)表示 X值或 R值，中心線用實(shí)線，控制界限用虛線。這種情況說明過程的標(biāo)準(zhǔn)差太大，造成本現(xiàn)象的主要原因是數(shù)據(jù)分層不夠。 如圖： X LCL UCL A B C C B A 說明： ◆ 落在中心線上的 B區(qū)之外，說明均值增大； ◆ 落在中心線下的 B區(qū)之外，說明均值減小了。 如圖： X LCL UCL A B C C B A 說明： ◆ 落在中心線上側(cè)，說明均值增大； ◆ 落在中心線上側(cè)，說明均值減小了。在 SPC控制圖中，連續(xù) 100個點(diǎn)中，如果只有 2個超出控制規(guī)格，則該過程是穩(wěn)定的。為此常規(guī) SPC控制圖僅考慮第一類錯誤的概率 α。 3σ作為 SPC控制圖界限是合理的嗎？控制限 μ177。 狀態(tài) Ⅱ ：過程受控但技術(shù)不滿足要求。 μ+3σ μ3σ μ3σ μ+3σ μ μ ?… 中心極限定律 2 設(shè) X X ???Xn為某總體抽取的樣本，其總體分布未知，但其均值 μ 和方差 σ都存在，則有如下結(jié)論： 定理： 當(dāng)總體為正態(tài)分布時，樣本均值 X精確服從正態(tài)分布 N，當(dāng)總體為非正態(tài)分布時，樣本均值 X近似服從正態(tài)分布 N，且樣本量 n愈大， 近似程度愈好。4σ ％ ％ 當(dāng)過程僅含正常變異時，過程輸出的質(zhì)量特性 X呈正態(tài)分布 N（ μ， σ)，其中 μ為正態(tài)均值， σ為標(biāo)準(zhǔn)差。 PIN SHINE SPC控制圖的 3σ原理 PIN SHINE 界限 μ177。 預(yù)測 時間 范圍 目標(biāo)值線 如果存在變差的特殊 原因，隨著時間的推 預(yù)測 移，過程的輸出不 穩(wěn)定。判斷過程是否正常，從中發(fā)現(xiàn)問題。第一個分量是過程內(nèi)部引起的穩(wěn)定分量，即正常變異；第二個分量是可查明原因的間斷變異，即異常變異。 －－ 控制圖的保管問題。 特殊原因： （通常也叫可查明原因）是指造成不是始終作用于過 程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時將造成（整個） 過程的分布改變。 ☆ 每個變異源的出現(xiàn)是隨機(jī)的。2σ ％ ％ μ177。 UCL LCL CL 休哈特建議： 把正態(tài)分布圖及其控制限 μ177。 2 n=30時 x=(X1+X2+???X30)/
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