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電學(xué)半導(dǎo)體測試技術(shù)實踐-文庫吧在線文庫

2025-04-28 02:55上一頁面

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【正文】 件下進(jìn)行多次測試以確保那些對溫度敏感的特征參數(shù)。 Quad Flat Pack (quad indicates the package has pins on four sides) TQFP:為保持正確性和一致性,測試系統(tǒng)需要進(jìn)行定期校驗,用以保證信號源和測量單元的精度。在CP測試中,Performance board和Probe card一起使用構(gòu)成回路使電信號得以在測試系統(tǒng)和晶片之間傳輸。一種快速進(jìn)行FT測試的方法是使用自動化的機(jī)械手(Handler),機(jī)械手上有一種接觸裝置實現(xiàn)封裝引腳到負(fù)載板的連接,這可以在測試機(jī)和封裝內(nèi)的晶片之間提供完整的電路。 過去,在模擬和數(shù)字電路設(shè)計之間,有著顯著的不同。APG在器件的每次測試時生成測試模型,而不帶內(nèi)存的測試系統(tǒng)將預(yù)先生成的模型保存到向量存儲區(qū),然后每次測試時從中取出數(shù)據(jù)。c 混合信號器件類 僅含有數(shù)字邏輯的電路器件可使用數(shù)字電路測試系統(tǒng)來完成測試,這些測試系統(tǒng)之間在價格、性能、尺寸、可選項上有著明顯的不同。 2 半導(dǎo)體測試基礎(chǔ) 半導(dǎo)體測試程序的目的是控制測試系統(tǒng)硬件以一定的方式保證被測器件達(dá)到或超越它的那些被具體定義在器件規(guī)格書里的設(shè)計指標(biāo)。很多因素都在影響著測試行為的構(gòu)建方式,下面我們就來看一些影響力大的因素。開發(fā)測試程序不是一件簡單的正確或者錯誤的事情,它是一個在給定的狀況下尋找最佳解決方案的過程。有一般判據(jù),外來或錯位的物質(zhì),結(jié)構(gòu)缺陷,封裝課題或蓋帽的鍍涂層,引線,有引線器件的封裝殼體或蓋帽和玻璃密封,對照規(guī)定判定是否失效。應(yīng)該在每個工作班次期間,至少用經(jīng)校準(zhǔn)的擴(kuò)散型標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)一次檢漏儀的指示器。但光源在觀察位置上(即在觀察氣泡時放置被測器件的位置上)產(chǎn)生的亮度應(yīng)受到驗證。 3.積累一定的工作經(jīng)驗和社會經(jīng)驗,在職業(yè)道德、職業(yè)素質(zhì)、 勞動觀念、工作能力等方面都有明顯的提高,逐步掌握從學(xué)生到員工的角色轉(zhuǎn)換,為畢業(yè)后的就業(yè)打下良好的基礎(chǔ),提高就業(yè)競爭力。 我們適時地抓住該次實習(xí)的機(jī)會,努力地運(yùn)用在學(xué)校學(xué)習(xí)的書本知識,將他們轉(zhuǎn)化為實地操作的能力。當(dāng)把器件浸入指示用的液體中時,能用該放大鏡觀察到從器件中冒出的氣泡。 常溫中測2按照器件相應(yīng)規(guī)范 低溫測試,T=55℃,t=48h 高溫測試,T=125℃,t=48h1 細(xì)檢漏, 條件A1條件A1為示蹤氣體氦細(xì)檢漏,用該條件進(jìn)行試驗所需設(shè)備包括合適的壓力室,真空室和一臺質(zhì)譜檢漏儀。在測試實踐的過程中測試流程和方法的選擇也是非常有講究的。3500元的器件能支持昂貴的測試費(fèi)用,而15元的器件只能支付最低的測試成本。Pass指器件達(dá)到或者超越了其設(shè)計規(guī)格;Fail則相反,器件沒有達(dá)到設(shè)計要求,不能用于最終應(yīng)用。這類測試設(shè)備多運(yùn)行在50100MHz,提供256個測試通道,通常帶有一些可選的配置。它們被用于驗證新的超大規(guī)模(VLSI)集成電路,但是昂貴的成本阻礙了他們用于生產(chǎn)測試。 低端的測試機(jī)被用來測試低價格或者低性能的低端產(chǎn)品,通常是些管腳少、復(fù)雜度低的器件;一般運(yùn)行于低于20MHz的時鐘頻率,且只能存儲少量的測試向量;用于小規(guī)模(SSI)或中規(guī)模(MSI)集成電路的測試?;旌闲盘枩y試系統(tǒng)發(fā)展為兩個系列:大部分?jǐn)?shù)字電路測試結(jié)構(gòu)、少量模擬測試結(jié)構(gòu)的系列,被設(shè)計成用于測試以數(shù)字電路為主的混合信號器件,它能有效地進(jìn)行DC參數(shù)測試和功能測試,但是僅支持少量的模擬測試;大部分模擬電路測試結(jié)構(gòu)、少量數(shù)字測試結(jié)構(gòu)的系列,相反,能夠精確地測試模擬參數(shù)而在功能測試上稍遜風(fēng)騷。另一種描述這種混合
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