測(cè)試測(cè)量技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)-文庫(kù)吧在線文庫(kù)
【正文】 塊化的硬件，并同時(shí)強(qiáng)調(diào)了軟件的能動(dòng)作用。 不過(guò)，這樣并行的開(kāi)發(fā)理念使得習(xí)慣于傳統(tǒng)串行開(kāi)發(fā)方式的工程師難以適應(yīng)，尤其是當(dāng)核的數(shù)目越來(lái)越多……挑戰(zhàn)和機(jī)遇往往是并存的，作為圖形化語(yǔ)言的代表，LabVIEW在設(shè)計(jì)當(dāng)初就考慮到了并行處理的需求，從LabVIEW 。為了保證極高的可靠性和精確性，F(xiàn)PGA成為其必備的測(cè)試和控制技術(shù)。 這些都給無(wú)線技術(shù)的開(kāi)發(fā)和測(cè)試帶來(lái)了巨大的挑戰(zhàn)，測(cè)試技術(shù)如何跟上無(wú)線技術(shù)的發(fā)展成為工程師面臨的最大難題。這是一種模仿器件真實(shí)使用環(huán)境(包括外圍接口)的方法，按照器件期望的使用方式，進(jìn)行有針對(duì)性的器件功能測(cè)試和驗(yàn)證。這樣，在統(tǒng)一的模塊化硬件平臺(tái)上，只需修改軟件就可以滿足不同無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試需求，使得工程師有能力在第一時(shí)間測(cè)試最新的標(biāo)準(zhǔn)，加快產(chǎn)品的上市時(shí)間。FPGA的高性能和可重復(fù)配置特性一直是硬件設(shè)計(jì)工程師們的最?lèi)?ài)，而對(duì)于測(cè)試工程師而言，又何嘗不想擁有硬件級(jí)的確定性和并行性呢？像諸如實(shí)時(shí)系統(tǒng)仿真、高速內(nèi)存測(cè)試等應(yīng)用都需要用到FPGA來(lái)確保響應(yīng)的實(shí)時(shí)性和高速的數(shù)據(jù)流入和流出，F(xiàn)PGA的IP核更是可以為工程師植入自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的算法提供契機(jī)。 目錄1. 趨勢(shì)一：軟件定義的儀器系統(tǒng)成為主流 2. 趨勢(shì)二：多核/并行測(cè)試帶來(lái)機(jī)遇和挑戰(zhàn) 3. 趨勢(shì)三：基于FPGA的自定義儀器將更為流行 4. 趨勢(shì)四：無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的爆炸性增長(zhǎng) 5. 趨勢(shì)五：協(xié)議感知（ProtocolAware）ATE將影響半導(dǎo)體的測(cè)試趨勢(shì)一：軟件定義的儀器系統(tǒng)成為主流如今的電子產(chǎn)品(像iPhone和Wii等)已越來(lái)越依重于軟件去定義產(chǎn)品的功能。同樣的，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和客戶需求日益復(fù)雜的今天，用于測(cè)試測(cè)量的儀器系統(tǒng)也朝著以軟件為核心的模塊化方向發(fā)展，使得用
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