測試測量技術發(fā)展趨勢(完整版)
【正文】 戶能夠更快更靈活的將測試集成到設計過程中去，進一步減少了開發(fā)時間。圖1：以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)參考架構趨勢二：多核/并行測試帶來機遇和挑戰(zhàn)多核時代的來臨已成為不可避免的發(fā)展趨勢，雙核乃至八核的商用PC現在已隨處可見。然而，苦于對硬件設計知識的缺乏和對VHDL或Verilog語言編程的恐懼，許多測試工程師對于FPGA技術望而卻步。 圖3:NI帶FPGA的可重復配置I/O板卡和LabVIEW FPGA圖形化編程NI LabVIEW和PXI RF平臺就是這樣一個軟件無線電的測試平臺，多年來已經成為工程師和科學家們開發(fā)無線標準和測試無線應用的必備工具。趨勢五：協(xié)議感知（ProtocolAware）ATE將影響半導體的測試如今的半導體器件變得愈加的復雜，高級的片上系統(tǒng)(SoC)和封裝系統(tǒng)(SiP)相比典型的基于矢量的器件測試而言，需要更為復雜的系統(tǒng)級的功能測試。復雜的測試需求催生了協(xié)議感知(ProtocolAware)ATE的誕生，Andrew Evans在2007國際測試會議(ITC)上發(fā)表的論文“The New ATE Protocol Aware”中首次提出了這個概念。聚星儀器(NI大陸地區(qū)系統(tǒng)聯盟商)也開發(fā)出了全球首個支持C1G2 RFID標準全部指令的測試設備，并實現了與RFID標簽微秒級的實時通信。越來越多的消費電子產品和工業(yè)產品都或多或少的集成了無線通信的功能，像蘋果公司最新的3G版iPhone手機，更是同時集成了UMTS, HSDPA, GSM, EDGE, WiFi, GPS和藍牙等多種最新的無線標準。(見圖3)前段時間，歐洲核子研究中心(CERN)為世界最強大的粒子加速度器——大型強子對撞機(
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