測(cè)試測(cè)量技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)(完整版)
【正文】 戶(hù)能夠更快更靈活的將測(cè)試集成到設(shè)計(jì)過(guò)程中去，進(jìn)一步減少了開(kāi)發(fā)時(shí)間。圖1：以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)參考架構(gòu)趨勢(shì)二：多核/并行測(cè)試帶來(lái)機(jī)遇和挑戰(zhàn)多核時(shí)代的來(lái)臨已成為不可避免的發(fā)展趨勢(shì)，雙核乃至八核的商用PC現(xiàn)在已隨處可見(jiàn)。然而，苦于對(duì)硬件設(shè)計(jì)知識(shí)的缺乏和對(duì)VHDL或Verilog語(yǔ)言編程的恐懼，許多測(cè)試工程師對(duì)于FPGA技術(shù)望而卻步。 圖3:NI帶FPGA的可重復(fù)配置I/O板卡和LabVIEW FPGA圖形化編程N(yùn)I LabVIEW和PXI RF平臺(tái)就是這樣一個(gè)軟件無(wú)線電的測(cè)試平臺(tái)，多年來(lái)已經(jīng)成為工程師和科學(xué)家們開(kāi)發(fā)無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試無(wú)線應(yīng)用的必備工具。趨勢(shì)五：協(xié)議感知（ProtocolAware）ATE將影響半導(dǎo)體的測(cè)試如今的半導(dǎo)體器件變得愈加的復(fù)雜，高級(jí)的片上系統(tǒng)(SoC)和封裝系統(tǒng)(SiP)相比典型的基于矢量的器件測(cè)試而言，需要更為復(fù)雜的系統(tǒng)級(jí)的功能測(cè)試。復(fù)雜的測(cè)試需求催生了協(xié)議感知(ProtocolAware)ATE的誕生，Andrew Evans在2007國(guó)際測(cè)試會(huì)議(ITC)上發(fā)表的論文“The New ATE Protocol Aware”中首次提出了這個(gè)概念。聚星儀器(NI大陸地區(qū)系統(tǒng)聯(lián)盟商)也開(kāi)發(fā)出了全球首個(gè)支持C1G2 RFID標(biāo)準(zhǔn)全部指令的測(cè)試設(shè)備，并實(shí)現(xiàn)了與RFID標(biāo)簽微秒級(jí)的實(shí)時(shí)通信。越來(lái)越多的消費(fèi)電子產(chǎn)品和工業(yè)產(chǎn)品都或多或少的集成了無(wú)線通信的功能，像蘋(píng)果公司最新的3G版iPhone手機(jī)，更是同時(shí)集成了UMTS, HSDPA, GSM, EDGE, WiFi, GPS和藍(lán)牙等多種最新的無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)。(見(jiàn)圖3)前段時(shí)間，歐洲核子研究中心(CERN)為世界最強(qiáng)大的粒子加速度器——大型強(qiáng)子對(duì)撞機(jī)(
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