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同軸電纜測試培訓(xùn)課件(存儲版)

2025-01-21 01:56上一頁面

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【正文】 測試。 測試結(jié)果描述 線纜測試中 Pass/Fail的評估 使用 DTX測試雙絞線鏈路選擇 TIA/EIA標(biāo)準(zhǔn)、測試 UTP CAT 6 永久鏈路為例介紹測試過程。4 按 TEST鍵,啟動自動測試,最快 9秒鐘完成一條正確鏈路的測試。按故障信息鍵 ”( F1 鍵)直觀顯示故障信息并提示解決方法,再啟動HDTDR和 HDTDX功能,掃描定位故障。u測試注意事項(xiàng)n 認(rèn)真閱讀測試儀使用操作說明書,正確使用儀表。 n 由于是在時(shí)域進(jìn)行測試,因此根據(jù)串?dāng)_發(fā)生的時(shí)間和信號的傳輸速度可以精確地定位串?dāng)_發(fā)生的物理位置。2)深入評估 RL的影響,按 “ EXIT” 鍵返回摘要屏幕。長度未通過的原因可能有: NVP設(shè)置不正確,可用已知長度的好線纜校準(zhǔn) NVP;實(shí)際長度超長;設(shè)備連線及跨接線的總長過長?;夭〒p耗是由于鏈路阻抗不匹配造成的信號反射。n 光纜的彎曲程度。校準(zhǔn)后的結(jié)果可為所有被測光纜的光功率損耗測試提供一個(gè)基點(diǎn),兩個(gè)功率的差值就是每個(gè)光纖鏈路的損耗。( 4)操作測試儀,在所選擇的波長上分別進(jìn)行兩個(gè)方向的光傳輸衰耗測試。光纖鏈路損耗 =光纖損耗 +連接器件損耗 +光纖連接點(diǎn)損耗 216。u正確理解基本鏈路、永久鏈路和信道的概念及它們的關(guān)系。u會用光功率計(jì)等儀表測光纖衰減。 OTDR測試 uOTDR可 測試 的主要參數(shù)有:⑴ 測纖長 和事件點(diǎn)的位置;⑵ 測 光 纖 的衰減和衰減分布情況;⑶ 測 光 纖 的接 頭損 耗;⑷ 光 纖 全回 損 的 測 量。光纜可以為水平光纜、建筑物主干光纜和建筑群主干光纜。( 2)測試連接前應(yīng)對光連接的插頭、插座進(jìn)行清潔處理,防止由于接頭不干凈帶來附加損耗,造成測試結(jié)果不準(zhǔn)確。第一個(gè)是從光源注入到光纜的能量,第二個(gè)是從光纜段的另一端的射出的能量。2) Tier 2 n 等級二測試包括等級一的測試參數(shù),還包括對每條光纜鏈路的 OTDR追蹤 ,進(jìn)行故障定位 .n 等級 2測試需要使用光時(shí)域反射計(jì) OTDR . 光功率計(jì)測衰減u 引起光纖鏈路損耗的原因主要有:n 材料原因。對這類故障可以利用 HDTDX發(fā)現(xiàn)它們的故障位置,無論它是發(fā)生在某個(gè)接插件還是某一段鏈路。當(dāng)然定位的準(zhǔn)確與否還受設(shè)備設(shè)定的信號在該鏈路中的標(biāo)稱傳輸率( NVP)值影響。 。 n 該技術(shù)通過在被測試線對中發(fā)送測試信號,同時(shí)監(jiān)測信號在該線對的反射相位和強(qiáng)度來確定故障的類型,通過信號發(fā)生反射的時(shí)間和信號在電纜中傳輸?shù)乃俣瓤梢跃_地報(bào)告故障的具體位置。9 打印輸出。7 故障診斷。( 1)將旋鈕轉(zhuǎn)至 SETUP,如圖(中)所示;( 2)選擇 “ Twisted Pair” ;( 3)選擇 “ Cable Type” ;( 4)選擇 “ UTP” ;( 5)選擇 “ Cat 6 UTP” ;( 6)選擇 “ Test Limit” ;( 7)選擇 “ TIA Cat 6 Perm. Link” ,如圖(右)所示。 測試結(jié)果描述u 最差情況的裕量有兩種情況,一種是在整個(gè)測試頻率范圍( 5E類至 100MHz, 6類至 250MHz)上距離測試標(biāo)準(zhǔn)極限值最近的點(diǎn),如左圖所示最差情況的裕量是 dB,發(fā)生在約 ;另一種是所有線對中裕量最差的線對,如右圖所示,最差情況的裕量在 1278線對間,值為 dB。使用 6類電纜時(shí),近端串音應(yīng)進(jìn)行雙向測試,即對同一條電纜必須測試兩次,而帶有智能遠(yuǎn)端器的測試儀可實(shí)現(xiàn)雙向測試一次完成。u由于通常在布線過程中使用同一廠商的線纜,同種顏色的線芯其幾何結(jié)構(gòu)(線對的扭絞率)幾乎一致,所以同顏色線芯間的干擾尤其嚴(yán)重。 u 延遲偏離是指同一 UTP電纜中傳輸速度最快的線對和傳輸速度最慢線對的傳輸延遲差值,它以同一纜線中信號傳播延遲最小的線對的時(shí)延值作為參考,其余線對與參考線對都有時(shí)延差值。u 與 NEXT一樣 ,FEXT也用遠(yuǎn)端串音損耗來度量。近端串?dāng)_的影響u類 似噪聲干 擾u干 擾 信號可能足 夠 大從而:n 破壞原來的信號n 錯(cuò)誤地被識別為信號u影響n 站點(diǎn)間歇地鎖死n 網(wǎng)絡(luò)的連接完全失敗u施工注意事 項(xiàng)n 近端串?dāng)_與端接工藝密切相關(guān),雙絞線的兩條導(dǎo)線絞合在一起后,因?yàn)橄辔幌嗖?180而抵消而相互間的信號干擾,絞距越緊抵消效果越好,也就越能支持較高的數(shù)據(jù)傳輸速率。每個(gè) 連 接器 對 信號的減量;216。u 典型的非屏蔽雙絞線的 NVP值從 62%~ 72%之間 ,通常NVP的取值在 69%左右。連接方式 認(rèn)證測試參數(shù)u測試參數(shù)名稱本教材采用 GB503112023和 GB503122023參數(shù)名 表 81測試參數(shù)不同名稱對照表測試參數(shù)GB503112023和 GB503122023中的名稱EIA/TIA等其它名稱NEXT 近端串音 近端串?dāng)_PS NEXT 近端串音功率和 綜合近端串?dāng)_ACR 衰減串音比 衰減串?dāng)_比PS ACR 衰減串音比功率和 綜合衰減串?dāng)_比FEXT 遠(yuǎn)端串音 遠(yuǎn)端串?dāng)_ELFEXT 等電平遠(yuǎn)端串音 等效遠(yuǎn)端串?dāng)_PS ELFEXT 等電平遠(yuǎn)端串音功率和 綜合等效遠(yuǎn)端串?dāng)_現(xiàn)場需要測試的參數(shù)u所需測試的參數(shù)與應(yīng)用的測試標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)n Wire Map接線圖 (開路 /短路 /錯(cuò)對 /串繞 )n Length長度n Insertion Lose插入損耗 /Attenuation衰減 n NEXTn PS NEXTn Return Lossn ACRn EL FEXTn PS ELFEXTn Propagation Delayn Delay Skew接線圖 Wire Mapu正確u開路 (open)u短路 (short)u錯(cuò)對 (cross)u反接 (reverse)u串繞 (split)u其它 ...正確接線4545T568AT568B開路短路反接 /交叉跨接 /錯(cuò)對串繞線對 長度 Lengthu測量雙絞線長度時(shí),通常采用 TDR(時(shí)域反射分析)測試技術(shù)u時(shí)域反射分析 TDR的工作原理是:測試儀從電纜一端發(fā)出一個(gè)脈沖波,在脈沖波行進(jìn)時(shí),如果碰到阻抗的變化,如開路、短路或不正常接線時(shí),就會將部分或全部的脈沖能量反射回測試儀。n 現(xiàn)場測試儀測試結(jié)果與試驗(yàn)室測試儀器測試結(jié)果的比較。自我認(rèn)證測試由施工方自行組織,按照設(shè)計(jì)所要達(dá)到的標(biāo)準(zhǔn)對工程所有鏈路進(jìn)行測試,確保每一條鏈路都符合標(biāo)準(zhǔn)要求。 測試類型2 認(rèn)證測試認(rèn)證測試分為自我認(rèn)證測試和第三方認(rèn)證測試 n 自我認(rèn)證測試 216。n 定義了對現(xiàn)場測試儀的技術(shù)和精度要
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