無損檢測人員技術(shù)資格等級(jí)培訓(xùn)考核射線檢測高級(jí)(存儲(chǔ)版)
【正文】 則該源的半衰期為(a)(b): (a) (e) (e) (f) (d),它在接受中子照射后能放出(d)輻射而使X射線膠片感光 (e)(a)(rad)(R) (式中:D空氣空氣的吸收劑量。f與光子能量及受照物質(zhì)原子序數(shù)有關(guān)的系數(shù)。f與光子能量及受照物質(zhì)原子序數(shù)有關(guān)的系數(shù)。(d) ,射線底片對(duì)比度為(a) ,對(duì)比度越大 ,散射比隨有效能量的提高而(b) ,縱縫Ug與環(huán)縫Ug的重要區(qū)別是:在一張底片的不同部位(a),而環(huán)縫Ug值隨部位而變化 ,而縱縫Ug值隨部位而變化。B像質(zhì)計(jì)在底片上所顯現(xiàn)的最小孔徑/被檢物厚度x100%)、框架,其材質(zhì)的射線吸收系數(shù)應(yīng)比金屬絲的射線吸收系數(shù)(b) ,其曝光條件為Agfa D7膠片,焦距700mm,該X光機(jī)的額定管電流為6mA,試確定曝光量2040之間對(duì)應(yīng)220KV的厚度寬容量是多少毫米?(b) ,其曝光條件為Agfa D7膠片,焦距700mm,該X光機(jī)的額定管電流為6mA,試確定曝光量2040之間對(duì)應(yīng)300KV的厚度寬容量是多少毫米?(c) ,始終要輻射出γ射線。/d的比值大于1時(shí),其數(shù)值隨d39。(0),其曝光量倒數(shù)的104,定義為膠片的感光速度(0),散射光子的波長大于入射光子的波長0、銫137以外,還有75Se、169Yb、170Tm和153Gd0(硒75)的半衰期是118天0(鐿169)的半衰期是31天0(銩170)的半衰期是129天0(釓153)的半衰期是242天0,使一軌道電子脫離軌道,且具有50KeV動(dòng)能飛出,則新光子的能量是250KeVX。鋼屏。λ為射線的波長(0),其能量E124000 eV2107爾格(0),(0),兩種主要效應(yīng)的發(fā)生幾率與光子能量的關(guān)系:Jσc時(shí),E≈100keV。③反應(yīng)堆中子源(0),115個(gè)中子,其半衰期為75天,(0),如192Ir和60Co,也有是核裂變的產(chǎn)物,如137Cs(0),聚焦電子漂移會(huì)造成曝光量不穩(wěn)定(0)、III、V型膠片,其感光度大致相當(dāng)于國外Agfa牌號(hào)的DDD4型膠片,或國外富士牌號(hào)的400、200、100或80型膠片(0)%,則實(shí)際圓形氣孔的檢出靈敏度約為3%。2電子射線和β射線。質(zhì)子射線與氘核射線可利用回旋加速器或靜電加速器得到,α射線是放射性同位素在α衰變過程中從原子核內(nèi)發(fā)出的。3質(zhì)子射線、氘核射線和α射線。角時(shí),最容易發(fā)現(xiàn)該裂紋X三. 問答題1 射線可分為哪幾類,對(duì)于工業(yè)探傷的射線有哪幾種?答:射線可分為以下幾類:1Χ射線和γ射線。α掃描點(diǎn)面積(0),由于吸收系數(shù)變化很快,管電壓的選擇比較嚴(yán)格。D≈()時(shí),出現(xiàn)一時(shí)性血象變化。X,由于“互易定律失效”,不能根據(jù)曝光因子公式修正透照參數(shù)。(0),不宜用鉛作過濾材料,原因是鉛在高能量射線照射下會(huì)被激活。(0),當(dāng)射線源經(jīng)過幾個(gè)半衰期后,將其放在核反應(yīng)堆中激活,可重復(fù)使用。T工件的透照厚度)(a) (b) (b) (b) (d) (d) (a) ,底片總的不清晰度與幾何不清晰度和膠片固有不清晰度的關(guān)系可以表達(dá)為(a)+Ui2 +Ui2 (式中:U底片總的不清晰度。時(shí)稱之為(a) ,隨著透照厚度的增加,總的強(qiáng)度遞減,而平均波長值(b) ,由于鹵化銀顆粒發(fā)生光化反應(yīng),在晶格缺陷處沉積出(b),形成潛像 (d) (射線角)超過(c)時(shí),裂縫的檢出程度就變得很低了 176。f與光子能量及受照物質(zhì)原子序數(shù)有關(guān)的系數(shù)。,與靶的什么相互作用而放出電子的能量,產(chǎn)生連
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