【正文】 D105E LEVEL S4 %單次抽樣計(jì)劃之標(biāo) 準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及判定． ：依【成品測(cè)試項(xiàng)目及抽樣標(biāo)準(zhǔn)】 WIEA238 進(jìn)行抽樣檢驗(yàn) , Ac=0 Re=1 進(jìn)行判定． 出貨檢驗(yàn)及判定 ：采用 MILSTD105E LEVELⅡ Ac=0 Re=1 單次抽樣 174。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) RH磁芯 ： 、物理性能不合格； ； 斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形、孔位、孔數(shù)不符、孔堵塞等嚴(yán)重不良。 、針腳基部嚴(yán)重彎曲等； ，或 ψ6( 或以下的 )有孔徑、深度超過 ，或 ψ6 以上的有孔徑、深度超過 ； ； 。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm 。 ； ( )冒油、起泡等。掛線柱缺損等 。 漆包線 (圓形 ) 嚴(yán)重缺點(diǎn) :【針孔測(cè)試】 WIQT017 ﹑ 【 耐壓測(cè)試】 WIQT018 、 【 卷繞試驗(yàn)】 WIQT01【 可焊性檢測(cè)】 WIQT016等不合格； 。 ,髒污 ,有斑痕 . : 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 。 ﹑ 顏色等不符合要求。 嚴(yán)重缺點(diǎn) : ﹑ 材質(zhì)不合格； ； 。 次要缺點(diǎn) : 標(biāo)示不良 (不清晰、損壞、不全 )。 主要缺點(diǎn) : 機(jī)械尺寸 (角度 )不在規(guī)格內(nèi) . 鐵芯 、 底座本體斷裂 ,裂縫 。 冷焊 、 漏焊 、 焊錫不全 。 (不能滿足材料承認(rèn)要求 )。 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差為 ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的 1/2或以內(nèi) 。 標(biāo)記不清晰 、 偏斜或易脫落 。 繞線方向錯(cuò) 。 線傷 、 爆皮尺寸超本身線徑 1半 ,并已氧化發(fā)黑 。 次要缺點(diǎn) : 接腳處氣孔大小超過 。 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 以下 ,則引腳長(zhǎng)度差不需作管制 。 繞線方向錯(cuò) 。 剝漆處漆包殘留或銅線剝傷 。 線圈 ,磁芯端面或引腳上附膠或附異物 。引腳明顯不平行 。 主要缺點(diǎn) : 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi) 。 (產(chǎn)品 SPEC中引腳長(zhǎng)度尺寸一致時(shí) ) 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 以上 ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的 1/4或以內(nèi) 。 鐵芯配套錯(cuò)位面積超過相應(yīng)接觸面的 5%。 產(chǎn)品烘烤后磁芯易鬆動(dòng) 。 凡立水濃度不符合規(guī)格書要求 ,真空含浸后有氣泡產(chǎn)生 。線傷超過 2處或線傷 2處相碰 。 針腳易鬆動(dòng)或脫落 : 引腳拉力強(qiáng)度不能滿足材料承認(rèn)要求 。 基座表面燙傷高度大於 1mm,起泡尺寸超過 mm。 斷線 ， 繞線 、 繞腳方向 、 組合方向錯(cuò) 。 傾斜度超過 。 引線未貼緊鍍銀面 。 磁芯磁套斷裂 、 裂痕 、 掉漆 (SDRH的涂裝磁套掉漆 )。 傾斜度超過 。 鐵片刮傷尺寸超過 mm。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) PAD有露銅現(xiàn)象或附異物 . 瑪拉膠帶露出磁套 . SC、 ST系列 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 電氣 、 物理性能不符要求 。 mm(特殊以工程規(guī)定為準(zhǔn) )。 PAD有露銅現(xiàn)象或附異物 。 貼片面平整度超過 mm(特殊除外 :BF73**系列的產(chǎn)品貼片面平整度超過 mm)。(掛腳圈數(shù)需依產(chǎn)品的具體線徑而定 : 單線 : φ 2TS。 異物附著 . 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) SCH系列 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 電氣 、 物理性能不符要求 。 ∮≦ 2mm以下 CORE之引腳拉力 。 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 ~ 之間 ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的 1/3或以內(nèi) 。 異物附著 。 產(chǎn)品表面有凹痕 ,凹痕尺寸 : T30或以下規(guī)格超過 mm， T50或以下規(guī)格超過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 主要缺點(diǎn) : 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi) 。 點(diǎn)膠位置錯(cuò) ,膠的高度超出線圈平面且超出尺寸要求 ,點(diǎn)膠少致產(chǎn)品鬆動(dòng) 。 線圈與磁芯間隙超過一根本身線 。 PIN端上錫不良 (有黑點(diǎn)或上錫不全 ). 包裝外觀檢驗(yàn) 主要缺點(diǎn) : 。 。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 。 繞腳留尾線頭 。 線圈相對(duì)于 Base有歪斜現(xiàn)象 . 線傷尺寸超本身線徑 1半 、 爆皮尺寸超 1mm,或線傷 、 爆皮尺寸超 化發(fā)黑 。 產(chǎn)品上有錫渣或錫珠 。 BASE,CASE上的 PIN有鬆動(dòng)情形 . 加底座之產(chǎn)品 ,線圈未貼平底座 。 鐵芯 、 底座本體斷裂 ,裂縫 。 焊錫面發(fā)黃 、 粗糙 、 氧化 、 發(fā)黑 。 φ 1TS。 標(biāo)記內(nèi)容 、 顏色 、 位置不符合承認(rèn)書要求 。 點(diǎn)膠時(shí)多膠 、 少膠或零散膠附著 。 漆層不均勻 ,掉漆 。 鐵芯掉漆 1處 。 PIN的邊緣有毛邊 . 次要缺點(diǎn) : 點(diǎn)膠品多膠 、 少膠或零散膠附著 ,點(diǎn)膠處有氣孔 。 ； 1個(gè)； 。 標(biāo)記不清晰 、 偏斜或易脫落 。 文字與 PAD方向不一 。 崩口總個(gè)數(shù)超過 3個(gè) 。 斷線 ， 繞線 、 繞腳方向 、 組合方向錯(cuò) 。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) . 線圈附錫珠 ,錫渣 。 單個(gè)崩口 : ψ 6或以下的超過 mm； ψ 6以上的超過 mm； 多個(gè)崩口 : ψ 6或以下的超過 mm； ψ 6以上的超過 mm 。 異物附著或錫渣附著 。 φ 1TS。 標(biāo)記內(nèi)容 、 顏色 、 位置不符合承認(rèn)書要求 。 鐵芯本體斷裂 ,裂縫 ,脫落 。 點(diǎn)膠不均勻 ,多膠或少膠至易脫落或裂縫現(xiàn)象 。 針腳上附油污 、 易鬆動(dòng)或脫落 。 主要缺點(diǎn) : 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi) 。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 多膠或少膠致線圈鬆動(dòng) ,零散膠附著 。 線圈末端一圈有凸起現(xiàn)象 ,使整個(gè)線圈不平整 . AM系列 : 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 、 物理性能不符要求 。 引腳彎曲 。 次要缺點(diǎn) : 線圈交叉重疊 。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 產(chǎn)品線傷 、 爆皮尺寸 :Φ 、 爆皮尺寸超過 ,Φ 傷 、 爆皮尺寸超過 。 線徑 ≦ mm之產(chǎn)品套管未包住磁芯端面處引出線 。 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 ~ 之間 ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的 1/3或以內(nèi) 。 套管材質(zhì)不良 。 焊錫過深 (引腳錫位超過 CORE下擺的 1/2)。 裝配不良 (磁芯繞線與基座偏位或傾斜 ,引線按規(guī)定位置引出等 )。 繞腳方向錯(cuò)或留尾 。 引腳明顯長(zhǎng)短不一 (產(chǎn)品 SPEC中引腳長(zhǎng)度尺寸一致時(shí) ) 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的 1/4或以內(nèi) 。 引腳刮傷至露銅 。 產(chǎn)品 2根相鄰繞線爆皮 。 固定圈數(shù)產(chǎn)品圈數(shù)錯(cuò) 。 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 型號(hào)不符或已失效。 主要缺點(diǎn) : ； ﹑ 披鋒 ﹑ 裂紋。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 色澤不一致 ﹑ 有折皺 ﹑ 灰塵污物等外觀不良。 。 : 、四周切割不平 ?？s水處超過三個(gè) 。 ； 1個(gè)； : 外表面 尺寸超過 , 內(nèi)表面 尺寸超過 。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm 。 ﹑ 髒污等外觀不良。 主要缺點(diǎn)： 、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)或附雜質(zhì)； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 1個(gè) , 非兩端面有崩口。 文管單位進(jìn)行編號(hào) 、 受控發(fā)行本標(biāo)準(zhǔn) 。 次要缺點(diǎn) : 不影響制品的使用目的之缺點(diǎn) ， 如 : 視覺上存在瑕玼 。 查附表，得代字 F。 ? 加嚴(yán)檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換成正常檢驗(yàn)時(shí)：當(dāng)實(shí)施加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí) ， 如原來檢驗(yàn)之連續(xù) 5批中被允收時(shí) ， 即可開始改用正常檢驗(yàn) 。 抽樣檢驗(yàn)的由來 抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃的分類 計(jì)數(shù)值抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 規(guī)準(zhǔn)型、選別型、調(diào)整型 計(jì)數(shù)值抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 規(guī)準(zhǔn)型、調(diào)整型 三種抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 此種抽樣計(jì)劃的精神在兼顧買賣雙方之利益和損失即規(guī)定雙方的冒險(xiǎn)率 α及 β為一定之?dāng)?shù)字 (一般取 α =5%， β =10%) 。 ) 不合格判定數(shù) (判定批為不合格時(shí)，樣本內(nèi)所含之最少不良品個(gè)數(shù)，以 Re表示之。 檢驗(yàn)批 檢驗(yàn)批構(gòu)成之目的乃是便利抽樣計(jì)劃之進(jìn)行，依其 [ 批量 ]大小照 [ 抽樣計(jì)劃 ] 抽出樣本加以檢驗(yàn)，再依照抽樣檢驗(yàn)的原則來判定這個(gè)檢驗(yàn)批是否允收 批量 批量是指每個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)製品單位的數(shù)量，其符號(hào)以 [ N ]表示。 (2)主要缺點(diǎn) (Major defect) 製品單位的使用性能不能達(dá)到所期望之目的，或顯著的減低其實(shí)用性 質(zhì)的缺點(diǎn)謂之主要缺點(diǎn)。此方法須有連續(xù)批送驗(yàn)時(shí)方可應(yīng)用。 ? 檢驗(yàn)的終止：在原來加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí) ， 如果沒有允收的連續(xù)批數(shù) ， 累積到 5批 ，則本標(biāo)準(zhǔn)之允收程序即告終止 。 ， 則遵循客戶要求作業(yè) 。 【 MIL STD105E抽樣計(jì)劃 】 WIQT021。計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及判定 ? ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 Ac=0 Re=1單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及判定． ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 Ac=0 Re=1單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及判定． ：采用 5 pcs /批， Ac=0 Re=1進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及判定． 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 檢驗(yàn)狀態(tài)標(biāo)示 檢驗(yàn)前、中、後須作好狀態(tài)標(biāo)示及隔離安全放置。 ：