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正文內(nèi)容

質(zhì)量管理→品質(zhì)檢驗標準討論(存儲版)

2025-02-11 15:13上一頁面

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【正文】 D105E LEVEL S4 %單次抽樣計劃之標 準進行抽樣檢驗及判定. :依【成品測試項目及抽樣標準】 WIEA238 進行抽樣檢驗 , Ac=0 Re=1 進行判定. 出貨檢驗及判定 :采用 MILSTD105E LEVELⅡ Ac=0 Re=1 單次抽樣 174。 品質(zhì)檢驗標準 RH磁芯 : 、物理性能不合格; ; 斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形、孔位、孔數(shù)不符、孔堵塞等嚴重不良。 、針腳基部嚴重彎曲等; ,或 ψ6( 或以下的 )有孔徑、深度超過 ,或 ψ6 以上的有孔徑、深度超過 ; ; 。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過 mm; ψ10 以上的超過 mm; 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過 mm; ψ10 以上的超過 mm 。 ; ( )冒油、起泡等。掛線柱缺損等 。 漆包線 (圓形 ) 嚴重缺點 :【針孔測試】 WIQT017 ﹑ 【 耐壓測試】 WIQT018 、 【 卷繞試驗】 WIQT01【 可焊性檢測】 WIQT016等不合格; 。 ,髒污 ,有斑痕 . : 品質(zhì)檢驗標準 。 ﹑ 顏色等不符合要求。 嚴重缺點 : ﹑ 材質(zhì)不合格; ; 。 次要缺點 : 標示不良 (不清晰、損壞、不全 )。 主要缺點 : 機械尺寸 (角度 )不在規(guī)格內(nèi) . 鐵芯 、 底座本體斷裂 ,裂縫 。 冷焊 、 漏焊 、 焊錫不全 。 (不能滿足材料承認要求 )。 產(chǎn)品引腳長度公差為 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/2或以內(nèi) 。 標記不清晰 、 偏斜或易脫落 。 繞線方向錯 。 線傷 、 爆皮尺寸超本身線徑 1半 ,并已氧化發(fā)黑 。 次要缺點 : 接腳處氣孔大小超過 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 以下 ,則引腳長度差不需作管制 。 繞線方向錯 。 剝漆處漆包殘留或銅線剝傷 。 線圈 ,磁芯端面或引腳上附膠或附異物 。引腳明顯不平行 。 主要缺點 : 機械尺寸不在規(guī)格內(nèi) 。 (產(chǎn)品 SPEC中引腳長度尺寸一致時 ) 產(chǎn)品引腳長度公差在 以上 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/4或以內(nèi) 。 鐵芯配套錯位面積超過相應(yīng)接觸面的 5%。 產(chǎn)品烘烤后磁芯易鬆動 。 凡立水濃度不符合規(guī)格書要求 ,真空含浸后有氣泡產(chǎn)生 。線傷超過 2處或線傷 2處相碰 。 針腳易鬆動或脫落 : 引腳拉力強度不能滿足材料承認要求 。 基座表面燙傷高度大於 1mm,起泡尺寸超過 mm。 斷線 , 繞線 、 繞腳方向 、 組合方向錯 。 傾斜度超過 。 引線未貼緊鍍銀面 。 磁芯磁套斷裂 、 裂痕 、 掉漆 (SDRH的涂裝磁套掉漆 )。 傾斜度超過 。 鐵片刮傷尺寸超過 mm。 品質(zhì)檢驗標準 PAD有露銅現(xiàn)象或附異物 . 瑪拉膠帶露出磁套 . SC、 ST系列 嚴重缺點 : 電氣 、 物理性能不符要求 。 mm(特殊以工程規(guī)定為準 )。 PAD有露銅現(xiàn)象或附異物 。 貼片面平整度超過 mm(特殊除外 :BF73**系列的產(chǎn)品貼片面平整度超過 mm)。(掛腳圈數(shù)需依產(chǎn)品的具體線徑而定 : 單線 : φ 2TS。 異物附著 . 品質(zhì)檢驗標準 SCH系列 嚴重缺點 : 電氣 、 物理性能不符要求 。 ∮≦ 2mm以下 CORE之引腳拉力 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 ~ 之間 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/3或以內(nèi) 。 異物附著 。 產(chǎn)品表面有凹痕 ,凹痕尺寸 : T30或以下規(guī)格超過 mm, T50或以下規(guī)格超過 mm, T50至 T90規(guī)格超過 , T90或以上規(guī)格超過 。 品質(zhì)檢驗標準 主要缺點 : 機械尺寸不在規(guī)格內(nèi) 。 點膠位置錯 ,膠的高度超出線圈平面且超出尺寸要求 ,點膠少致產(chǎn)品鬆動 。 線圈與磁芯間隙超過一根本身線 。 PIN端上錫不良 (有黑點或上錫不全 ). 包裝外觀檢驗 主要缺點 : 。 。 品質(zhì)檢驗標準 。 繞腳留尾線頭 。 線圈相對于 Base有歪斜現(xiàn)象 . 線傷尺寸超本身線徑 1半 、 爆皮尺寸超 1mm,或線傷 、 爆皮尺寸超 化發(fā)黑 。 產(chǎn)品上有錫渣或錫珠 。 BASE,CASE上的 PIN有鬆動情形 . 加底座之產(chǎn)品 ,線圈未貼平底座 。 鐵芯 、 底座本體斷裂 ,裂縫 。 焊錫面發(fā)黃 、 粗糙 、 氧化 、 發(fā)黑 。 φ 1TS。 標記內(nèi)容 、 顏色 、 位置不符合承認書要求 。 點膠時多膠 、 少膠或零散膠附著 。 漆層不均勻 ,掉漆 。 鐵芯掉漆 1處 。 PIN的邊緣有毛邊 . 次要缺點 : 點膠品多膠 、 少膠或零散膠附著 ,點膠處有氣孔 。 ; 1個; 。 標記不清晰 、 偏斜或易脫落 。 文字與 PAD方向不一 。 崩口總個數(shù)超過 3個 。 斷線 , 繞線 、 繞腳方向 、 組合方向錯 。 品質(zhì)檢驗標準 . 線圈附錫珠 ,錫渣 。 單個崩口 : ψ 6或以下的超過 mm; ψ 6以上的超過 mm; 多個崩口 : ψ 6或以下的超過 mm; ψ 6以上的超過 mm 。 異物附著或錫渣附著 。 φ 1TS。 標記內(nèi)容 、 顏色 、 位置不符合承認書要求 。 鐵芯本體斷裂 ,裂縫 ,脫落 。 點膠不均勻 ,多膠或少膠至易脫落或裂縫現(xiàn)象 。 針腳上附油污 、 易鬆動或脫落 。 主要缺點 : 機械尺寸不在規(guī)格內(nèi) 。 品質(zhì)檢驗標準 多膠或少膠致線圈鬆動 ,零散膠附著 。 線圈末端一圈有凸起現(xiàn)象 ,使整個線圈不平整 . AM系列 : 品質(zhì)檢驗標準 、 物理性能不符要求 。 引腳彎曲 。 次要缺點 : 線圈交叉重疊 。 品質(zhì)檢驗標準 產(chǎn)品線傷 、 爆皮尺寸 :Φ 、 爆皮尺寸超過 ,Φ 傷 、 爆皮尺寸超過 。 線徑 ≦ mm之產(chǎn)品套管未包住磁芯端面處引出線 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 ~ 之間 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/3或以內(nèi) 。 套管材質(zhì)不良 。 焊錫過深 (引腳錫位超過 CORE下擺的 1/2)。 裝配不良 (磁芯繞線與基座偏位或傾斜 ,引線按規(guī)定位置引出等 )。 繞腳方向錯或留尾 。 引腳明顯長短不一 (產(chǎn)品 SPEC中引腳長度尺寸一致時 ) 產(chǎn)品引腳長度公差在 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/4或以內(nèi) 。 引腳刮傷至露銅 。 產(chǎn)品 2根相鄰繞線爆皮 。 固定圈數(shù)產(chǎn)品圈數(shù)錯 。 嚴重缺點 : 型號不符或已失效。 主要缺點 : ; ﹑ 披鋒 ﹑ 裂紋。 次要缺點 : ﹑ 色澤不一致 ﹑ 有折皺 ﹑ 灰塵污物等外觀不良。 。 : 、四周切割不平 ??s水處超過三個 。 ; 1個; : 外表面 尺寸超過 , 內(nèi)表面 尺寸超過 。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過 mm; ψ10 以上的超過 mm; 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過 mm; ψ10 以上的超過 mm 。 ﹑ 髒污等外觀不良。 主要缺點: 、裝配之燒結(jié)不良點或附雜質(zhì); : ψ6 或以下的超過 mm; ψ6 以上的超過 mm; : ψ6 或以下的超過 mm; ψ6 以上的超過 mm; 1個 , 非兩端面有崩口。 文管單位進行編號 、 受控發(fā)行本標準 。 次要缺點 : 不影響制品的使用目的之缺點 , 如 : 視覺上存在瑕玼 。 查附表,得代字 F。 ? 加嚴檢驗轉(zhuǎn)換成正常檢驗時:當(dāng)實施加嚴檢驗時 , 如原來檢驗之連續(xù) 5批中被允收時 , 即可開始改用正常檢驗 。 抽樣檢驗的由來 抽樣檢驗計劃的分類 計數(shù)值抽樣檢驗計劃 規(guī)準型、選別型、調(diào)整型 計數(shù)值抽樣檢驗計劃 規(guī)準型、調(diào)整型 三種抽樣檢驗計劃 此種抽樣計劃的精神在兼顧買賣雙方之利益和損失即規(guī)定雙方的冒險率 α及 β為一定之?dāng)?shù)字 (一般取 α =5%, β =10%) 。 ) 不合格判定數(shù) (判定批為不合格時,樣本內(nèi)所含之最少不良品個數(shù),以 Re表示之。 檢驗批 檢驗批構(gòu)成之目的乃是便利抽樣計劃之進行,依其 [ 批量 ]大小照 [ 抽樣計劃 ] 抽出樣本加以檢驗,再依照抽樣檢驗的原則來判定這個檢驗批是否允收 批量 批量是指每個檢驗批內(nèi)製品單位的數(shù)量,其符號以 [ N ]表示。 (2)主要缺點 (Major defect) 製品單位的使用性能不能達到所期望之目的,或顯著的減低其實用性 質(zhì)的缺點謂之主要缺點。此方法須有連續(xù)批送驗時方可應(yīng)用。 ? 檢驗的終止:在原來加嚴檢驗時 , 如果沒有允收的連續(xù)批數(shù) , 累積到 5批 ,則本標準之允收程序即告終止 。 , 則遵循客戶要求作業(yè) 。 【 MIL STD105E抽樣計劃 】 WIQT021。計劃之標準進行抽樣檢驗及判定 ? :采用 MILSTD105E LEVEL S4 Ac=0 Re=1單次抽樣計劃之標準進行抽樣檢驗及判定. :采用 MILSTD105E LEVEL S4 Ac=0 Re=1單次抽樣計劃之標準進行抽樣檢驗及判定. :采用 5 pcs /批, Ac=0 Re=1進行抽樣檢驗及判定. 品質(zhì)檢驗標準 檢驗狀態(tài)標示 檢驗前、中、後須作好狀態(tài)標示及隔離安全放置。 :
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