【正文】 而成 ,另外還有一只 D24 作電壓鉗位之用 (防止 TH與散熱器短路時(shí)損壞 CPU) ,及一只 C16 電容作濾波。雖然將 R14 換成 電阻電磁爐恢復(fù)正常 ,但維修時(shí)不能簡單將電阻改 ,因?yàn)楫a(chǎn)生本故障說明整流橋 DB 特性已變 ,快將損壞 ,所己必須將 R14 換回 10K 電阻并更換整流橋 DB。 處理 方法 : 按 主板測試不合格對策 第 (7)項(xiàng)方法檢查。 (9) 按 主板檢測表 測試到第 8 步驟時(shí)發(fā)現(xiàn) V3 為 0V,再按 主板測試不合格對策 第 (8)項(xiàng)方法檢查 ,結(jié)果發(fā)現(xiàn) R78 開路。 (5) 測 Q1 G 極沒有試探電壓 ,再測 V8 點(diǎn)也沒有試探電壓 , 再測 G 點(diǎn)也沒有試探電壓 ,再測 Q7 基極也沒有第 18 頁 試探電壓 , 再測 CPU 第 13 腳有試探電壓輸出 ,結(jié)果發(fā)現(xiàn) C33 漏電。以下是有關(guān)這種故障的案例： (1) 測 +22V 電壓高于 24V,按 主板測試不合格對策 第 (3)項(xiàng)方法檢查 ,結(jié)果發(fā)現(xiàn) Q4 擊穿。 (16) 動(dòng)檢時(shí)風(fēng)扇不轉(zhuǎn) 測 CN6 兩端電壓高于 11V 應(yīng)為風(fēng)扇不良 ,如 CN6 兩端沒有電壓 ,測 CPU 第 15 腳如沒有電壓則為 CPU 不良 ,如有請檢查 Q R5。 (8) V3 電壓過高或過低 過高檢查 R5 D16, 過低查 R7 C13。 +22V 偏低時(shí) ,應(yīng)檢查 ZD C3 R7,另外 , +22V 負(fù)載過流也會令 +22V 偏低 ,但此時(shí) Q4 會很熱。 按 第 (11)項(xiàng)查 12 D26 正極 177。 2V 按 第 (3)項(xiàng)查 第 16 頁 4 +5V 5V177。包括能拆除和焊接集成電路。 交流電壓由 D3~D6組成的橋式整流電路整流、 C37濾波 ,在 C37 上獲得的直流電壓VCC 除供給散熱風(fēng)扇使用外 ,還經(jīng)由 IC1 三端穩(wěn)壓 IC 穩(wěn)壓、 C38濾波 ,產(chǎn)生 +5V電壓供控制電路使用。 (5) 電磁爐剛啟動(dòng)時(shí) ,當(dāng)測得環(huán)境溫度 0℃ ,CPU 調(diào)用低溫監(jiān)測模式加熱 1 分鐘 , 1 分鐘后再轉(zhuǎn)用正常監(jiān)測模式 ,防止電路零件因低溫偏離標(biāo)準(zhǔn)值造成電路參數(shù)改變而損壞 電磁爐。 (2) 當(dāng)鍋具溫度高于 220℃ 時(shí) ,加熱立即停止 , 并報(bào)知信息 (祥見故障代碼表 )。 電流檢測電路 電流互感器 CT 二次測得的 AC 電壓 ,經(jīng) D20~D23 組成的橋式整流電路整流、 C31 平滑 ,所獲得的直流電壓送至 CPU,該電壓越高 ,表示電源輸入的電流越大 , CPU 根據(jù)監(jiān)測該電壓的變化 ,自 動(dòng)作出各種動(dòng)作指令 : (1) 配合 VAC 檢測電路、 VCE 電路反饋的信息 ,判別是否己放入適合的鍋具 ,作出相應(yīng)的動(dòng)作指令 (祥見加熱開關(guān)控制及試探過程一節(jié) )。 加熱開關(guān)控制 (1) 當(dāng)不加熱時(shí) ,CPU 19 腳輸出低電平 (同時(shí)13 腳也停止 PWM 輸出 ), D18 導(dǎo)通 ,將V8 拉低 ,另 V9V8,使 IGBT 激勵(lì)電路停止輸出 ,IGBT 截止 ,則加熱停止。 (3) V6 放電至小于 V5 時(shí) , 又重復(fù) (1) 形成振蕩。 (6) GT60M303 東芝公司出品 ,耐壓 900V,電流容量 25℃ 時(shí) 120A,100℃ 時(shí) 60A, 內(nèi)部帶阻尼二極管。 , 安全工作區(qū)大 , 在瞬態(tài)功率較高時(shí)不會受損壞。 IGBT 絕緣柵雙極晶體管 (Iusulated Gate Bipolar Transistor)簡稱 IGBT,是一種集 BJT 的大電流密度和 MOSFET等電壓激勵(lì)場控型器件優(yōu)點(diǎn)于 一體的高壓、高速大功率器件。 200~240V機(jī)種電壓使用范圍為 160~260V, 100~120V機(jī)種電壓使用范圍為 90~135V。 技術(shù)支持 : TCL 家庭電器（南海）有限公司 TEL : (0757) FAX : (0757) Email : 地址 : 郵政編碼 : 目錄 第 2 頁 一、簡介 電磁加熱原理 TC 系列簡介 二、原理分析 特殊零件簡介 LM339 集成電路 IGBT 電路方框圖 主回路原理分析 振蕩電路 IGBT 激勵(lì)電路 PWM 脈寬調(diào)控電路 同步電路 加熱開關(guān)控制 VAC 檢測電路 電流檢測電路 VCE 檢測電路 浪涌電壓監(jiān)測電路 過零檢測 鍋底溫度監(jiān)測電路 IGBT 溫度監(jiān)測電路 散熱系統(tǒng) 主電源 輔助電源 報(bào)警電路 三、故障維修 故障代碼表 主板檢測標(biāo)準(zhǔn) 主板檢測表 主板測試不合格對策 故障案例 故障現(xiàn)象 1 一、簡介 電磁加熱原理 第 3 頁 電磁灶是一種利用電磁感應(yīng)原理將電能轉(zhuǎn)換為熱能 的廚房電器。電控功能有鍋具超溫保護(hù)、鍋具干燒保護(hù)、鍋具傳感器開 /短路保護(hù)、 2 小時(shí) 不按鍵 (忘記關(guān)機(jī) ) 保護(hù)、 IGBT 溫度限制、 IGBT 溫度過高保護(hù)、低溫環(huán)境工作模式、 IGBT 測溫傳感器開 /短路保護(hù)、高低電壓保護(hù)、浪涌電壓保護(hù)、 VCE 抑制、 VCE 過高保護(hù)、過零檢測、小物檢測、鍋具材質(zhì)檢測。 從 IGBT的下述特點(diǎn)中可看出 , 它克服了功率 MOSFET的一個(gè) 致命缺陷 , 就是于高壓大電流工作時(shí) , 導(dǎo)通電阻大 , 器件發(fā)熱嚴(yán)重 , 輸出效率下降。 目前 458 系列因應(yīng)不同機(jī)種采了不同規(guī)格的 IGBT,它們的參數(shù)如下 : (1) SGW25N120西門子公司出品 ,耐壓 1200V,電流容量 25℃ 時(shí) 46A,100℃ 時(shí) 25A,內(nèi)部不帶阻尼二極第 8 頁 管 ,所以應(yīng)用時(shí)須配套 6A/1200V 以上的快速恢復(fù)二極管 (D11)使用 ,該 IGBT 配套 6A/1200V 以上的快速恢復(fù)二極管 (D11)后可代用 SKW25N120。 Q1 的 VCE 電壓變化 :在靜態(tài)時(shí) ,UC 為輸入電源經(jīng)過整流后的直流電源 ,t1~t2,Q1 飽和導(dǎo)通 ,UC 接近 地電位 ,t4~t5,阻尼管 D11 導(dǎo)通 ,UC 為負(fù)壓 (電壓為阻尼二極管的順向壓降 ),t2~t4,也就是 LC 自由振蕩的半個(gè)周期 ,UC 上出現(xiàn)峰值電壓 ,在 t3 時(shí) UC 達(dá)到最大值。 (2) V8 ON 時(shí) (V8=),V8V9,V10 為低 ,Q8 和 Q3 截止、 Q9 和 Q10 導(dǎo)通 ,+22V通過 R7 Q10 加至 Q1 的 G 極 ,Q1 導(dǎo)通。 (2) 配合電流檢測電路、 VCE 電 路反饋的信息 ,判別是否己放入適合的鍋具 ,作出相應(yīng)的動(dòng)作指令 (祥見加熱開關(guān)控制及試探過程一節(jié) )。 (2) 根據(jù) VCE 取樣電壓值 ,自動(dòng)調(diào)整 PWM 脈寬 ,抑制 VCE 脈沖幅度不高于 1100V(此值適用于耐壓1200V 的 IGBT,耐壓 1500V 的 IGBT 抑制值為 1300V)。 IGBT 溫度監(jiān)測電路 IGBT 產(chǎn)生的溫度透過散熱 片傳至緊貼其上的負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻 TH,該電阻阻值的變化間接反影了 IGBT 的溫度變化 (溫度 /阻值祥見熱敏電阻溫度分度表 ),熱敏電阻與 R59分壓點(diǎn)的電壓變化其實(shí)反影了熱敏電阻阻值的變化 ,即 IGBT的溫度變化 , CPU 通過監(jiān)測該電壓的變化 ,作出相應(yīng)的動(dòng)作指令 : (1) IGBT 結(jié)溫高于 85℃ 時(shí) ,調(diào)整 PWM 的輸出 ,令 IGBT 結(jié)溫 ≤ 85℃ 。 CPU 發(fā)出風(fēng)扇停轉(zhuǎn)指令時(shí) ,15 腳輸出低電平 ,Q5 截止 ,風(fēng)扇因沒有電流流過而停轉(zhuǎn)。 三、故障維修 TC 系列雖然機(jī)種較多 ,且功能復(fù) 雜 ,但不同的機(jī)種其主控電路原理一樣 ,區(qū)別只是零件參數(shù)的差異及 CPU 程序不同而己。 ? 電路維修 電路維修以本手冊為藍(lán)本，電路原理圖及電路板圖的更改恕不另行通知，請與技術(shù)服務(wù)部門聯(lián)系。 按 第 (8)項(xiàng)查 9 V4 177。 按 第 (13)、 (14)、 (15)項(xiàng)查 14 CN6 兩端 12V177。 +5V偏低時(shí) ,應(yīng)為 IC1 或 +5V 負(fù)載過流 ,而負(fù)載過流 IC1 會很熱。 (11) D24 正極電壓過高或過低 過高檢查 D24 及接入的 30K 電阻 , 過低查 R5 C16。 分 析 : 根椐報(bào)警信息 ,此為 CPU判定為加熱鍋具過小 (直經(jīng)小于 8cm)或無鍋放入或鍋具材質(zhì)不符而不加熱 ,并作出相應(yīng)報(bào)知。結(jié)論 : 由于 CPU 第 19 腳對地短路 ,造成加至 IC2C 負(fù)輸入端的試探電壓通過 D18 被拉低 , 結(jié)果 Q1 G 極無試探信號電壓 ,CPU 也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。結(jié)論 : 由 于 C33 漏電 ,造成加至振蕩電路的控制電壓偏低 ,結(jié)果 Q1 G極上的平均電壓偏低 ,CPU 因檢測到的反饋電壓不足而不發(fā)出正常加熱指令。 分 析 : 一般情況下 ,CPU 檢測不到反饋信號電壓會自動(dòng)發(fā)出報(bào)知信號 ,但當(dāng)反饋信號電壓處于足夠與不足夠之間的臨界狀態(tài)時(shí) ,CPU 發(fā)出的指令將會在試探 → 正常加熱 → 試探循環(huán)動(dòng)作 ,產(chǎn)生啟動(dòng)后指示燈指示正常 , 但不加熱的故障。 處理 方法 : 按 主板測試不合格對策 第 (7)項(xiàng)方法檢查。 處理 方法 : 檢查 D26 是否擊穿、鍋傳感器有否插入及開路 (判斷熱敏電阻的好壞在沒有專業(yè)儀器時(shí)簡單用室溫或體溫對比 電阻值 溫度分度表 阻值 )。 分 析 : 此現(xiàn)象為 CPU檢測到按裝在散熱器的 TH傳感器 (負(fù)溫系數(shù)熱敏電阻 ) 短路信息 ,其實(shí) CPU是根椐第 4 腳電壓情況判斷散熱器溫度及 TH開 /短路的 ,而該點(diǎn)電壓是由 R5熱敏電阻分壓而成 ,另外還有一只 D24 作電壓鉗位之用 (防止 TH與散熱器短路時(shí)損壞 CPU) 及一只 C16 電容作濾波。 故障現(xiàn)象 12 : 燒保險(xiǎn)管。結(jié)論 : 由于晶振 X1 損壞 ,導(dǎo)至 CPU 內(nèi)程序不能運(yùn)轉(zhuǎn) ,上電時(shí) CPU 各端口的狀態(tài)是不確定的 ,假如 CPU 第 1 19 腳輸出為高 ,會另振蕩電路輸出一直流另 IGBT 過流而擊穿。 (2) 換入新的保險(xiǎn)管后首先對主回路作檢查 ,發(fā)現(xiàn)整流橋 DB、 IGBT 擊穿，更換零件后按 主板檢測表 測試發(fā)現(xiàn) +22V 偏低 , 按 主板測試不合格對策 第 (3) 項(xiàng)方法檢查 ,結(jié)果為 Q9 擊穿另 +22V 偏低 , 換入新零件后再按 主板檢測表 測試至第 10 步驟時(shí)發(fā)現(xiàn) Q6 基極電壓偏低 , 按 主板測試不合格對策 第 (10) 項(xiàng)方法檢查 ,結(jié)果原因?yàn)?R76 阻值變大 ,換入新零件后測試一切正常。 處理 方法 : 先檢查風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)是否正常 ,如果不正常則檢查 Q R風(fēng)扇 , 如果風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)正常 ,則檢查 IGBT激勵(lì)電路 ,主要是檢查 R18 阻值是否變大、 Q Q8 放大倍數(shù)是否過低、 D19 漏電流是否過大。 故障現(xiàn)象 8 : 插入電源電磁爐每隔 5 秒 發(fā)出四長五短報(bào)警聲 (數(shù)顯型機(jī)種顯示 E7)?；谝陨戏治?,先將 R14 換入 電阻 (目的將 Q11 基極分壓電壓降低 ,以抵消比正常稍高的過零點(diǎn)脈動(dòng)電壓 ),結(jié)果電磁爐恢復(fù)正常。 分 析 : 此現(xiàn)象為 CPU 檢測到電壓過低信息 ,如果此時(shí)輸入電壓正常 ,則為 VAC 檢測電路故障。結(jié)論 : 由于 C31 漏電 ,造成加至 CPU 第 6 腳的反饋電壓不足 , CPU 因檢測到的反饋電壓不足而不發(fā)出正常加熱指令。結(jié)論 : 由于 Q7 開路導(dǎo)至沒有試探電壓加至振蕩電路 , 結(jié)果 Q1 G 極無試探信號電壓 ,CPU 也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加 熱指令。三是到達(dá) CPU 第 6 腳的電壓必須足夠 ,影響該電壓的因素是流過互感器 CT 的試探工作電流及電流檢測電路。 (15) 動(dòng)檢時(shí) Q1 G 極試探電壓過低 檢查 C3 C Q7。 (7) VAC 電壓過高或過低 過高檢查 R55,過低查 C3 R79。 +22V 偏高時(shí) ,應(yīng)檢查 Q ZD1。 斷開 TH,接入 1 只 30K電阻 ,測試完后拆除 ,再接回 TH。 主板檢測表 一、待機(jī)測試 (不接入線盤 ,接入電源后不按任何鍵 ) 步驟