[工學(xué)]復(fù)習(xí)思考題及解答(存儲版)
【正文】 動。 8. 二次離子質(zhì)譜分析原理是什么，有何特點(diǎn)。 X射線 能譜 原理 ：能譜儀是利用入射電子與樣品物質(zhì)的內(nèi)層電子作用激發(fā)出特征 X 射線，將特征 X 射線按能量色散，根據(jù)譜線的位置和強(qiáng)度來分析所含元素及含量的方法。 13. 什么是原子探針，與電子探針相比有何特點(diǎn)和應(yīng)用。 因時(shí)間關(guān)系，沒有將全部問題解 答。 特點(diǎn)：具有比能譜更高的空間分辨率（ ~1nm）；對原子序數(shù)低的元素靈敏度高，適于分析輕元素；檢測效率高；可反映試樣中有關(guān)電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵的詳細(xì)信息。其性能特點(diǎn)和應(yīng)用略。衍射峰的寬度 通常 用半高寬表示， 半高寬 與晶粒尺寸之間存在經(jīng)驗(yàn)公式，即謝樂公式。 5. 電子衍射與 X射線衍射有何異同。 3. 高分辨電子顯微像是如何獲得的，二維晶格像與二維結(jié)構(gòu)相的成像方式有何區(qū)別。二次電子能量較低，產(chǎn)生于表面 5~10nm深度范圍，其產(chǎn)額對樣品表面形貌十分敏感，而與原子序數(shù)無關(guān)。 衍射電子 ：當(dāng)入射電子通過薄晶體樣品時(shí)，可與晶體樣品作用發(fā)生布拉格衍射產(chǎn)生包含晶體結(jié)構(gòu)信息的電子衍射花樣 ，通過對衍射花樣分析，可獲得樣品材料的相結(jié)構(gòu)、晶體缺陷等信息，是透射電鏡的主要信號。透射電子強(qiáng)度與樣品微區(qū)的厚度、成分、晶體結(jié)構(gòu)和取向等有關(guān)，可用于材料內(nèi)部顯微形貌分析，是透射電子顯微鏡的主要信號。 二次電子： 當(dāng)入射電子（一次電子）的能量大于樣品原子核外電子結(jié)合能后，核外電子被入射電子轟
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