qcc改善sc312ft測(cè)試穩(wěn)定性(存儲(chǔ)版)
【正文】 4) YIELD1 149 1 0 0 149 1 0 0 0 298 2 %2 149 1 0 0 148 2 0 0 1 297 3 %3 149 0 0 1 149 1 0 0 0 298 2 %4 150 0 0 0 148 2 0 0 2 298 2 %5 148 1 0 1 148 0 0 2 0 296 4 %6 148 2 0 0 149 0 0 1 1 297 3 %7 150 0 0 0 150 0 0 0 0 300 0 %8 149 1 0 0 149 1 0 0 0 298 2 %9 150 0 0 0 149 1 0 0 1 299 1 %10 149 0 0 1 147 1 0 2 2 296 4 %11 148 0 0 2 148 1 1 0 0 296 3 %12 148 0 0 2 149 0 1 0 1 297 2 %13 148 1 0 1 150 0 0 0 2 298 2 %14 147 0 0 3 149 1 0 0 2 296 4 %15 150 0 0 0 150 0 0 0 0 300 0 %16 148 0 1 1 148 2 0 0 0 296 3 %17 150 0 0 0 149 1 0 0 1 299 1 %18 149 0 0 1 150 0 0 0 1 299 1 %19 147 1 0 2 148 1 1 0 1 295 4 %20 149 1 0 0 150 0 0 0 1 299 1 %21 147 1 0 2 150 0 0 0 3 297 3 %22 149 0 0 1 148 2 0 0 1 297 3 %23 149 0 0 1 149 1 0 0 0 298 2 %24 148 1 0 1 148 1 1 0 0 296 3 %25 148 1 0 1 146 1 0 3 2 294 6 %26 147 2 0 1 147 1 0 2 0 294 6 %27 150 0 0 0 149 0 0 1 1 299 1 %Testing I / R340 FACTOR Si DF V F 貢獻(xiàn)度 39。改善 SC312 FT 測(cè)試穩(wěn)定性 測(cè)試一廠 R340 成員介紹 R340 DOE IMPROVE TEAM OUTLINE 1. 現(xiàn)況分析 2. 要因分析 3. 第一階段實(shí)驗(yàn) 4. 第二階段實(shí)驗(yàn) 5. 第三階段再現(xiàn)性實(shí)驗(yàn) 6. 標(biāo)準(zhǔn)化 選題理由 ? SC312 TESTER FT 測(cè)試容易發(fā)生兩頭差異，使得機(jī)臺(tái)穩(wěn)定性不佳。(%)CG 2 %C 2 %G 2 %F 2 %e 18 %ST = (%).= % ANOVA analysis (1) FACTOR Si AVE(L1) AVE(L2) AVE(L3)1 C 2 G 3 CG 4 CGG 5 e 6 e 7 e 8 e 9 F 10 e 11 e 12 e 13 e ANOVA Result VARIANCE 無(wú)顯著因子 !!! CG C G F e 0%10%20%30%40%50%60%70%80%90%100% CG C G F e貢獻(xiàn)度 39。(%)累積貢獻(xiàn)率 (%)Total yield貢獻(xiàn)度柏拉圖 %%%%%%%%%0%10%20%30%40%50%60%70%80%90%100%% % % % % % % % %G A AG CG DG F C D e貢獻(xiàn)度 39。 ? 因兩頭差異的產(chǎn)生，造成良率 loss，批結(jié)良率不高。(%)累積貢獻(xiàn)率 (%)Testing I / R340 ANOVA analysis (2) 貢獻(xiàn)度柏拉圖 隨機(jī)誤差 第二階段實(shí)驗(yàn)結(jié)論 Testing I / R340 最佳生產(chǎn)條件 實(shí)驗(yàn)因子 因子代號(hào) 最佳作業(yè)條件Supporter A A2Test Head 水平角度 B B1Socket 測(cè)試次數(shù) C CL1CL2Drop In Test D D1Machine Speed F FL1FL2Contact Pressure G GL2GL3第三階段再現(xiàn)性實(shí)驗(yàn) Seeing is believing !! Experiment Plan 1. Tester amp。 ( % )G 1 2 2 5 . 0 0 1 1 2 2 5 . 0 0 4 2 . 4 5 3 6 . 6 5 % **A 5 5 2 . 2 5 1 5 5 2 . 2 5 1 9 . 1 3 1 6 . 0 4 % **AG 4 8 4 . 0 0 1 4 8 4 . 0 0 1 6 . 7 7 1 3 . 9 5 % **CG 1 9 6 . 0 0 1 1 9 6 . 0 0 6 . 7 9 5 . 1 2 % *DG 1 6 9 . 0 0 1 1 6 9 . 0 0 5 . 8 5 4 . 2 9 % *F 1 6 9 . 0 0 1 1 6 9 . 0 0 5 . 8 5 4 . 2 9 % *C 1 5 6 . 2 5 1 1 5 6 . 2 5 5 . 4 1 3 . 9 0 %D 1 1 0 . 2 5 1 1 1 0 . 2 5 3 . 8 2 2 . 4 9 %e 2 0 2 . 0 0 7 2 8 . 8 5 1 3 . 2 6 %St = (%).= % Yield_Different ANOVA 分析表 Total Yield ANOVA 分析表 ANOVA analysis (2) Testing I / R340 FACTOR Si AVE(L1) AVE(L2)1 G G2 *2 C C1 **3 CG 4 D D1 **5 DG 6 CD 7 e 8 e 9 e 10 F F1 *11 FG 12 B B1 *13 BG 14 AG 15 A A2 *Total Yield VARIANCE FACTOR Si AVE(L1) AVE(L2)1 G G2 **2 C C13 CG 4 D D15 DG 6 CD 7 e 8 e 9 e 10 F F1 *11 FG 12 B B113 BG 14 AG 15 A A2 **Yield_Different VARIANCE ANOVA analysis (3) Testing I / R340 %%%%%% % %%0%10%20%30%40%50%60%70%80%90%100%% % % % % % % % %D C AG A F G B BG e貢獻(xiàn)度 39。 ? 利用 “ ” 手法 ， 找出 最佳生產(chǎn)條件 ，以提升測(cè)試效率 。 Handler : SC4 SEIKO4 2. Product : SB5521 3. Factor Settings : 第二階段實(shí)驗(yàn)之最佳生產(chǎn)條件 4. Data Collection : 10/16 – 10/23 5. 觀察重點(diǎn) : 機(jī)臺(tái)穩(wěn)定性 及 測(cè)試良率 Testing I / R340 Machine Stability Testing I / R340 TRANS DATE ENTITY EVENT STATUS TIME LOT NO10/16/20xx 07:20:00 am SC_4 正常生產(chǎn) 342 2134622010/16/20xx 01:02:33 pm SC_4 品管借機(jī) 112 2134622010/16/20xx 02:54:19 pm SC_4 S/T1 16 2134622010/16/20xx 03:10:3
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