qcc改善sc312ft測試穩(wěn)定性(文件)
【正文】 94% 95% 96% 97% 98% March April May June July August October (1623) 月份 良率 Testing I / R340 Good Yield Performance % Conclusion (3) 效益評估 Testing I / R340 測試時間 670min/10000ea T e s t i n g e ff i c i e n c y / 1 0 0 0 0 e a4 . 9 5 %4 . 3 9 %3 . 7 3 %6 . 1 0 %8 0 . 8 3 %S / W t i m eH / W t i m e ( h a n d l e r i n d e x )H / W t i m e ( d r o p i n t i m e )R e t e s t t i m eO t h e r t i m eTesting Efficiency Increase!! ? 620min/10000ea 標(biāo)準(zhǔn)化 最佳生產(chǎn)條件 TESTING I / R340 DOE Improve team 。(%)CG 2 %C 2 %G 2 %F 2 %e 18 %ST = (%).= % ANOVA analysis (1) FACTOR Si AVE(L1) AVE(L2) AVE(L3)1 C 2 G 3 CG 4 CGG 5 e 6 e 7 e 8 e 9 F 10 e 11 e 12 e 13 e ANOVA Result VARIANCE 無顯著因子 !!! CG C G F e 0%10%20%30%40%50%60%70%80%90%100% CG C G F e貢獻度 39。 ( % )D 1 2 2 5 . 0 0 1 1 2 2 5 . 0 0 2 0 . 7 6 2 4 . 6 8 % **C 9 0 0 . 0 0 1 9 0 0 . 0 0 1 5 . 2 5 1 7 . 8 0 % **AG 6 5 0 . 2 5 1 6 5 0 . 2 5 1 1 . 0 2 1 2 . 5 1 % **A 5 2 9 . 0 0 1 5 2 9 . 0 0 8 . 9 7 9 . 9 5 % *F 5 0 6 . 2 5 1 5 0 6 . 2 5 8 . 5 8 9 . 4 7 % *G 3 8 0 . 2 5 1 3 8 0 . 2 5 6 . 4 4 6 . 8 0 % *B 7 2 . 2 5 1 7 2 . 2 5 1 . 2 2 0 . 2 8 %BG 4 9 . 0 0 1 4 9 . 0 0 0 . 8 3 0 . 2 1 %e 4 1 3 . 0 0 7 5 9 . 0 0 1 8 . 3 1 %St = (%).= % F A C T O R Si DF V F 貢獻度 39。改善 SC312 FT 測試穩(wěn)定性 測試一廠 R340 成員介紹 R340 DOE IMPROVE TEAM OUTLINE 1. 現(xiàn)況分析 2. 要因分析 3. 第一階段實驗 4. 第二階段實驗 5. 第三階段再現(xiàn)性實驗 6. 標(biāo)準(zhǔn)化 選題理由 ? SC312 TESTER FT 測試容易發(fā)生兩頭差異，使得機臺穩(wěn)定性不佳。 現(xiàn)況分析 R340 現(xiàn)況分析 (1) SC312 測試 FT 7/8/9 月各機臺 MTBF 比較 05001000150020xx2500300035007/2 7/97/16 7/23 7/308/68/13 8/20 8/279/39/10 9/17 9/24 10/1 10/8 weeklyminutesSC_1 SC_2 SC_3 SC_4 Testing I / R340 現(xiàn)況分析 (2) Testing I / R340 SC4 7/8 月 測 試 狀 況%% %% % %%% %% % %0%20%40%60%80%100%正 常 生 產(chǎn) 批 完 直 接 重 測 兩 頭 差 異 CORR FAIL 連 續(xù) FAIL OPEN現(xiàn)況分析 (3) Testing I / R340 SC4 測試 SB5521 3/4/5/6/7/8 月平均良率 9 3 %9 4 %9 5 %9 6 %9 7 %9 8 %M a r c h A p r i l M a y J u n e J u l y A u g u e s t預(yù)期目標(biāo) ? 求穩(wěn) – 1. 機 臺 MTBF 1500 分鐘 2. 兩頭差異當(dāng)機 INDEX 貢獻 % ? 求準(zhǔn) – 1. 正批測試良率 (批結(jié)不重測 ) 97% Testing I / R340 要因分析 R340 特性要因圖 為何 FT測試會有兩頭差異 Tester 有問題 PE/card有問題 PE/card品質(zhì)不良 PE/card level shift Test head mount機不佳 Head與 handler mount機位置不佳 Tester位置不佳 head沒水平 Head水平位置不正 支撐架支撐不當(dāng) 太緊 太鬆 Contact不良 Contact壓力不當(dāng) 太大 太小 Socket不良 Socket阻 值太大 測太久 氧化 沾有異物 Socket損壞 壓 2顆 IC 測太久變形 Contact blade不良 壓痕太深 壓座損壞 Contact blade安裝不良 墊片厚度不當(dāng) 線貨有問題 包裝有問題 膠體太厚 膠體太薄 POGO pin有問題 凹陷 線貨 yield不佳 太厚 太薄 測太久 壓 2顆 IC Contact壓力太大 L/Board有問題 L/B上焊點不佳 L/B斷線 豐田原則 像話原則 特性要因圖 為何 FT測試會有兩頭差異 Test head mount機不佳 Head與 handler mount機位置不佳 Tester位置不佳 head沒水平 Head水平位置不正 支撐架支撐不當(dāng) 太緊 太鬆 Contact不良 Contact壓力不當(dāng) 太大 太小 Socket不良 Socket阻 值太大 測太久 氧化 沾有異物 Socket損壞 壓 2顆IC 測太久變形 Contact blade不良 壓痕太深 壓座損壞 Contact blade安裝不良 墊片厚度不當(dāng) 太厚 太薄 測太久 壓 2顆 IC Contact壓力太大 豐田原則 像話原則 要因分析 Testing I / R340 小 要 因 控制力 技術(shù)力 因子( 母數(shù) )*1 ( 強 )*2 代號Supporter √ + ATest Head 水平角度 √ + BSocket 測試次數(shù) √ Δ CDrop In Test √ Δ DMachine Speed √ Δ FContact Pressure √ + G實驗因子篩選表 因子選擇 步驟一 : 控制力篩選 步驟二 : 技術(shù)性篩選 母數(shù) 1. 水 準(zhǔn)可被指定 2. 指定之水準(zhǔn)有自主權(quán) ? 策略一 : 第一階段實驗 – 篩
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