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【正文】 3 ， 181。P控制圖 (不良率 ) 中位數(shù)與極差控制圖用途與特點(diǎn)同上，但處理簡(jiǎn)單，檢出過程不穩(wěn)定的能力比不上平均值與極差控制圖。 因此，難以做到質(zhì)量的預(yù)測(cè)。 +3?? 中心線： CL= 181。 與 ?取值如何，產(chǎn)品質(zhì)量特性落在 [181。 fN (x。統(tǒng)計(jì)過程控制課程目的? 所有產(chǎn)品和服務(wù)都是過程的結(jié)果。 ?2 , 181。 ? 3?， 181。 ? 下控制限： LCL= 181。因此，建議計(jì)數(shù)值也盡量做到連續(xù)抽樣，這樣可以預(yù)知下批的檢驗(yàn)時(shí)間，也可以根據(jù)圖形預(yù)測(cè)下一步的質(zhì)量狀態(tài)。適用于每次取樣小于 10。+3 )范圍 內(nèi)，因此將過程能力 PC定義為： PC=6? b、 生產(chǎn)能力 加工數(shù)量方面的能力。 穩(wěn)態(tài)時(shí)， %的產(chǎn)品落在 (181。常規(guī)控制圖及用途常見符號(hào)序 號(hào) 名 稱 代 號(hào)序 號(hào) 名 稱 代 號(hào)01 母體數(shù)（批量數(shù)） N 11 管制上限（控制上限） UCL02 樣本數(shù)（抽樣數(shù)） n 12 管制中心線（控制中心線） CL03 平均數(shù)（均值） (Bar) 13 管制下限（控制下限） LCL04 組距或全距 R 14 規(guī)格上限 USL05 標(biāo)準(zhǔn)差（群體、樣本） δ (S) 15 規(guī)格中心線 SL06 不良率 P 16 規(guī)格下限 LSL07 不良數(shù) Pn 17 準(zhǔn)度（偏移度） Ca08 缺點(diǎn)數(shù) C 18 密度（離散度） Cp09 單位缺點(diǎn)數(shù) U 19 穩(wěn)定過程能力指數(shù) Cpk10 百萬分之不良 PPM 20 中位數(shù) M21 幾倍標(biāo)準(zhǔn)差控制圖 Kδ常規(guī)控制圖及用途常規(guī)控制圖及用途常規(guī)控制圖及用途均值控制圖? controlChart? ? (1) 公組樣本大小 n相等時(shí)：? CL ＝? UCL ＝ ＋ 3? LCL ＝ － 3? (2) n不等，且相差小于 20%時(shí)：? C
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