【正文】 S P C . 對過程普通原因進(jìn)行改善后： 過程能力的提高是與引起過程變異的普通原因的消除緊密相關(guān)，在對過程能力改善后，過程均值更接近目標(biāo)值，過程變異變小，舊有控制規(guī)格已不再適用。對正在生產(chǎn)的產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時(shí)一次等。 S P C . 作用 總體統(tǒng)計(jì)量 樣本統(tǒng)計(jì)量 名稱 符號 名稱 符號 表示分布置 總體平均值 μ 樣本平均值 X 樣本中位數(shù) X 表示分布形狀和范圍 總體方差 σ 樣本方差 S 總體標(biāo)準(zhǔn)差 σ 樣本標(biāo)準(zhǔn)差 S 樣本極差 R 2 2 基本統(tǒng)計(jì)術(shù)語 S P C . XR 均值和極差圖 S P C . 正態(tài)分布篇 S P C . ∑ i=1 X i N N μ 總體平均值 總體中數(shù)據(jù)的數(shù)量 總體中第 i 個(gè)數(shù)據(jù) 總體平均值計(jì)算 X1+X2+……+Xi N S P C . ∑ i=1 X i n n X 樣本平均值 總體中第 i 個(gè)數(shù)據(jù) 樣本數(shù)量 樣本平均值 的 計(jì)算 X1+X2+……+Xi n S P C . 練 習(xí) 給定樣本： 10,16,18,20,27,15,14,8.求樣本平均值 S P C . 總體標(biāo)準(zhǔn)差 總體容量 總體中第 i 個(gè)數(shù)據(jù) 總體平均值 總體標(biāo)準(zhǔn)差的計(jì)算 σ ∑ i=1 N （ X i μ ） N 2 S P C . S X ∑ i=1 n （ X i ） n1 2 樣本 標(biāo) 準(zhǔn)差 樣本容量 樣本中第 i 個(gè)數(shù)據(jù) 樣本平均值 樣本標(biāo)準(zhǔn)差的計(jì)算 S P C . 練 習(xí) 給定樣本： 10,16,18,20,27,15,14,8.求樣本標(biāo)準(zhǔn)差 S P C . R= X X max min 極差 樣本中最大 值 樣本中最 小值 極差的計(jì)算 S P C . 練 習(xí) 給定樣本： 10,16,18,20,27,15,14,8.求極差 S P C . 什么是正態(tài)分布 ? 一種用于計(jì)量型數(shù)據(jù)的 ,連續(xù)的 ,對稱的鐘型頻率分布 ,它是計(jì)量型數(shù)據(jù)用控制圖的基礎(chǔ) .當(dāng)一組測量數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布時(shí) ,有大約 %的測量值落在平均值處正負(fù)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差的區(qū)間內(nèi),大約 %的測量值將落在平均值處正負(fù)兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差的區(qū)間內(nèi) 。 S P C . 名稱 解釋 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點(diǎn) 。 樣本 總體的一個(gè)子集 ,是從總體中抽取的能代表母體特征的一部份 ,對樣本進(jìn)行測量后得到的樣本數(shù)據(jù) ,用 n 表示 平均值 是總體或樣本所有數(shù)值的平均數(shù) .總體平均值 ,是用 μ表示 。測量結(jié)果指出過程是 處于穩(wěn)定和“受控”或“不受控”的狀態(tài) 。只用特殊原因被查出且采取措施， 否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出。 上、下控制線 控制圖上的一條線，代表按照所給 數(shù)據(jù)所計(jì)算出的制程管制區(qū)間 ，用 UCL、 LCL來表示。 普通原因（ Common Cause） 造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。 注：一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。 S P C . 過程流程發(fā)生變化時(shí)： 如增加或減少某個(gè)工序，改變了某個(gè)工序的作業(yè)方法或作業(yè)步驟，這可能導(dǎo)致過程位置和分布發(fā)生變化，這種變化可能使有控制規(guī)格不再適用。 S P C . 計(jì)數(shù)值控制圖種類 控制圖種類 用途 P圖 用以監(jiān)視過程不良品的比率 P 圖 用以監(jiān)視過程不良品的數(shù)目 U圖 用以監(jiān)視每個(gè)單位產(chǎn)品的平均缺陷數(shù) C圖 用以監(jiān)視過程缺陷的數(shù)目 n S P C . PChart 不合格率圖 (計(jì)數(shù)型 ) S P C . P np n 不合格品率 不合格品數(shù) 被檢項(xiàng)目的數(shù)量 S P C . 計(jì)算過程平均不合格品率 P np1+ np2 +np3+…… + np K n1+ n2+ …… + nK 多個(gè)子組不合格品率總和 多個(gè)子組數(shù)總和 S P C . UCL P+3 P (1P) n P3 P (1P) n LCL 樣本均值 控制上限 控制下限 S P C . S P C . 課 后 練 習(xí) 根據(jù)下列數(shù)據(jù) ,作出 P圖 S P C . 分析 P 控制圖 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制上限 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制下限 S P C . 數(shù)據(jù)點(diǎn)超出 P 控制圖上下限的可能原因 : 控制界限計(jì)算錯誤 描點(diǎn)錯誤 測量系統(tǒng)變化 過程不合格率上升 上述原因中，只有最后原因是與過程能力相關(guān)的變化特殊原因 ,其余均為人為錯誤造成 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 連續(xù)七點(diǎn)上升 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 連續(xù)七點(diǎn)下降 S P C . 數(shù)據(jù)點(diǎn)連續(xù)上升或下降的原因可能有 : 測量系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生變化 過程性能已發(fā)生變化 S P C . 控制界限的更換篇 P Chart S P C . 控制界限建立以后并非一成不變，而根據(jù)實(shí)際控制狀況加以調(diào)整，在過程發(fā)生以下變化時(shí)，需重新計(jì)算控制界限。 S P C . S P C . 課 后 練 習(xí) S P C . 分析控制圖 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Low