【正文】 j K X 計(jì)算過程平均值 K代表子組數(shù) X代表每個(gè)子組的均值 S P C . R K ???????niiy155567...7465R j 計(jì)算極差平均值 K 代表子組數(shù) R 代表每個(gè)子組的極差 S P C . 計(jì)算均值圖控制限 UCL = X + A R X 2 常數(shù) 均值圖控制上限 均值圖控制下限 LCL = X A R X 2 S P C . 計(jì)算極差圖控制限 極差圖控制上限 極差圖控制下限 常數(shù) 常數(shù) LCL = D R 3 R UCL = D R R 4 S P C . XR圖常數(shù)表 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。 S P C . 將計(jì)算結(jié)果繪于 X R Chart S P C . 注意事項(xiàng) X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值 的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。（ 例如：平均值圖上 1個(gè)刻度代表 ，則在極差圖上 1個(gè)刻度代表 ） ，如：設(shè)備故障，新的材料批次等，有利于下一步的過程分析。對正在生產(chǎn)的產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時(shí)一次等。一般為 25組，首次使用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 S P C . S P C . 課 后 練 習(xí) S P C . 控制界限的更換篇 X –MR Chart X R Chart S P C . 控制界限建立以后并非一成不變，因?yàn)檫^程永遠(yuǎn)是處于波動的，因此控制界限需定期檢討，以判斷是否需要更換控制界限，檢討控制界限的周期，應(yīng)根據(jù)過程變化而定。 S P C . 使用新的設(shè)備： 新設(shè)備的使用可能導(dǎo)致過程位置和分布發(fā)生變化，這種變化可能使原有控制規(guī)格不再適用。 S P C . 對過程普通原因進(jìn)行改善后： 過程能力的提高是與引起過程變異的普通原因的消除緊密相關(guān)，在對過程能力改善后，過程均值更接近目標(biāo)值，過程變異變小，舊有控制規(guī)格已不再適用。 S P C . 分析過程能力篇 X –MR Chart X R Chart S P C . 分析過程能力的前提： 過程必 須受控 服從正 態(tài)分布 測量系 統(tǒng)可接受 S P C . 計(jì)算穩(wěn)定過程能力指數(shù) CP （不考慮過程有無偏移） C P USL LSL 6 ^ σ R /d 2 規(guī)格上限 規(guī)格上限 常數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)偏差 S P C . 常數(shù)表 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D 2 S P C . 計(jì)算過程實(shí)際能力指數(shù) CPK ，（它考慮了過程輸出平均值的偏移） C PK 3 ^ σ X LSL USL X 3 ^ σ 最小值 R/d 2 3 ^ σ = 其 中 過程總分布的一半 S P C . 計(jì)算產(chǎn)品性能指數(shù) PPK （說明過程有無偏移的指數(shù)） Ｐ PK 3 ^ σ Ｓ X LSL USL X 3 ^ σ Ｓ 最小值 ^ σ Ｓ = X ∑ i=1 n （ X i ） n1 2 式中 過程總變差 S P C . 練 習(xí) S P C . S P C . S P C . 對能力分析的解釋 …… 結(jié) 果 說 明 CPK＞ 滿足客戶要求 ,可按控制計(jì)劃執(zhí)行生產(chǎn) . ≤CPK ≤ 目前可接受 ,但仍須改進(jìn) . CPK＜ 該過程目前不能滿足客戶要求 , 仍須改進(jìn) . 注 :CPK只能用于穩(wěn)定過程 S P C . CPK PPK CP A+級 CPK≧ PPK≧ CP≧ 工序 能力過高 A級 ≦ CPK≦ ≦ PPK ≦ CP 工序 能充足 B級 ≦ CPK≦ ≦ PPK ≦ CP 工序 能力尚可 C級 ≦ CPK≦ ≦ PPK ≦ CP 工序 能力不足 D級 CPK≦ PPK CP% 工序 能力太低 S P C . (計(jì)數(shù)型 ) S P C . 計(jì)數(shù)值控制圖用來控制不可以用計(jì)量數(shù)據(jù)度量的特性，通常而言，用于合格與不合格，通過與未通過，良品與不良品等。 ， ，經(jīng)過改善 過程重新受控后， S P C . 分析過程能力篇 P Chart S P C . P圖分析過程能力的前提條件： 過程受控 測量系統(tǒng)可接受 S P C . 根據(jù)計(jì)算出的過程能力指數(shù)可以直觀評價(jià)過程能力，如能達(dá)到 6σ 標(biāo)準(zhǔn) ,則過程不合格率為 PPM P圖的過程能力的度量指數(shù)為 P S P C . 附錄 : 常數(shù)表 X R Charts X S Charts X Chart R Chart X Chart S Chart Sub group Size Factor for Control Limit Divisor for Estimate of Standard Deviation Factor for Control Limit Factor for Control Limit Divisor for Estimate of Standard Deviation Factor for Control Limit n A 2 d 2 D 3 D 4 A 3 c 4 B 3 B 4 2 3 4 5 6 7 8 9 10 S P C . 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH