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免疫學(xué)檢測中的曲線擬合-免費閱讀

2025-08-29 02:48 上一頁面

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【正文】 ? 重復(fù)性 reproducibility —通過重復(fù)測定的 SD或算術(shù)平均值的區(qū)間值來考察。 NoSA5 中文統(tǒng)計軟件。 SigmaStat Demo 是一個易于使用的智能統(tǒng)計軟件,尤其適合對統(tǒng)計知識了解不多的人使 用,它具有一個“專家系統(tǒng)”,引導(dǎo)你對數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計分析。 ? Scatchard plot 繪制方法 : 以 [AbAg]/[Ag]比值對 [AbAg]作圖可得到一條直線;計算機(jī)軟件作圖。d值,則為 b, c兩參數(shù)。 多項式擬合: ? 適用范圍 : ? 一個三次多項式可被快速和成功地用于 競爭免疫測定 數(shù)據(jù)擬合; ? 非競爭性免疫測定 :有部分校準(zhǔn)曲線為直線,可能擬合不好;x的次方為非整數(shù)時能夠再現(xiàn)校準(zhǔn)曲線的實際線性部分,但在零濃度附近和高濃度時不準(zhǔn)確,需要截尾。 擬合曲線的階次: ?雙曲線模式 hyperbolic curve: 曲線形狀:雙曲線; 假定數(shù)據(jù)擬合下式: y=a+b(1/x) 或 (1/y)=p+q(x)。 線性插值在免疫檢測中的應(yīng)用: ? 采用某些更 光滑的曲線 來擬合數(shù)據(jù)點; ? 最常用的方法是 3階多項式,對相繼數(shù)據(jù)點之間的各段建模,這種類型的插值被稱為 3次樣條 或簡稱為 樣條; ? 處理 :為將每一個短曲線相互之間平滑地連起來,需對其進(jìn)行修飾( smoothing),這需要反復(fù)重新計算所有的曲線直至每一片段與其數(shù)據(jù)點的擬合間的連接可以接受。 單純線性回歸往往不能反應(yīng)真實情況 Figure 1 Falsely low and falsely elevated assay values resulting from drawing a straight line for the calibration curve. 數(shù)據(jù)處理與科學(xué)作圖 ? 問題: 給定一批離散的數(shù)據(jù)點,需確定滿足特定要求的曲線或 曲面 ,從而獲取整體的規(guī)律。 定性測定數(shù)據(jù)處理 cutoff值的確定 相關(guān)概念: ELISA測定的 “ 灰區(qū) ” 陽性判斷值的確定就是要使以其得到的測定結(jié)果的假陽性和假陰性的發(fā)生率最低,處于陽性判斷值定值域中的測定結(jié)果可歸為可疑,亦即 ELISA測定的 “ 灰區(qū) ” 。免疫測定中的數(shù)據(jù)處理與曲線擬合 ? 免疫測定中的數(shù)據(jù)處理 ? 數(shù)據(jù)處理與科學(xué)作圖 免疫測定中的數(shù)據(jù)處理與曲線擬合 免疫測定的數(shù)據(jù)處理及結(jié)果報告 ? 臨床免疫檢測技術(shù) : RIA和 EIA等; ? 數(shù)據(jù)處理的意義和目標(biāo) : – 只有在測定結(jié)果以一種有意義的方式報告時,測定結(jié)果才有用; – 免疫測定結(jié)果的客觀評價,對改善免疫測定的重復(fù)性以及免疫 測定的標(biāo)準(zhǔn)化都有重要意義。 定性測定數(shù)據(jù)處理 cutoff值的確定 Cutoff 值設(shè)定的一般方法: 1. 標(biāo)準(zhǔn)差比率 standard deviation ratio, SDR 2. 測定標(biāo)本對陰性比值 ( P/N or S/N) test to negative ratio, TNR 3. 以陰性對照均值 +2或 3SD作為 cutoff值 4. 綜合陰性對照均值 +2或 3SD及陽性對照 2或 3SD建立 cutoff值 5. 綜合陰性對照均值 +2或 3SD及陽性對照 2或 3SD和轉(zhuǎn)化血清結(jié)果建立 cutoff值 6. 百分位數(shù)法 7. 相對單位 ( relative units, EIU): 標(biāo)本 EIU= 8. 雙質(zhì)控 ( double control, 2C) : (陰性質(zhì)控物中值 +陽性質(zhì)控物中值) 9. 使用 ROC曲線設(shè)定 cutoff值 標(biāo)本測定值 參考樣本(弱陽性質(zhì)控)測定值 使用 ROC曲線設(shè)定 cutoff 值: ? ROC曲線 :橫坐標(biāo)為 假陽性率 FPR=[假陽性數(shù) /(假陽性 +真陰性) ] 縱坐標(biāo)為 真陽性率 TPR=[真陽性數(shù) /
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