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可靠性基礎(chǔ)知識部分-免費閱讀

2025-07-22 18:30 上一頁面

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【正文】 如何進(jìn)行可靠性增長?首先,要掌握的是生產(chǎn)流程、制作工藝,每個流程的操作方法也是應(yīng)該完全了解的。測試的變動;很多原因,導(dǎo)致你在實際工作過種中需要對某些測試進(jìn)行相應(yīng)的變動。等有了溫濕度箱后,你就可以開始測試了??傊?,要讓全公司都知道你是可靠性工程師,這樣做的好處你很快就能親身體驗到。另外可靠性的工作,其效果在半年內(nèi)很難看出來,沒有領(lǐng)導(dǎo)的重視,很難順利進(jìn)行下去。作為一名可靠性工程師,在這種情況下,如何推行可靠性工作?一般情況下,實施可靠性分為:編寫計劃、可靠性測試、可靠性提升、可靠性保持等四大步;其實可靠性工作中最主要、最有效、最根本的是上面四大步之外的第五步:可靠性設(shè)計;但目前99%以上的公司(除軍工企業(yè)外)其可靠性設(shè)計都只停留在前四步,沒有充分的可靠性設(shè)計。四、產(chǎn)品貯存和運輸?shù)目刂?;產(chǎn)品貯存/運輸控制的基本要求:不讓產(chǎn)品受到額外的應(yīng)力; 對貯存而言,需要控制溫、濕度,防止擠壓、倒塌等,必要時防靜電;運輸過程中要防止受到超標(biāo)準(zhǔn)的振動、碰撞等,必要時控制溫度、溫度和靜電;五、人員的培訓(xùn)無論是從那個方面來說,人員的培訓(xùn)都應(yīng)該做好。因此,使用過程中的可靠性控制就成為可靠性管理十分重要的環(huán)節(jié)了。用于自動控制的生產(chǎn)設(shè)備,則應(yīng)重視和保證傳感器、計算機程序等硬、軟件的可靠性,以保證設(shè)備的工藝可靠性。①通過完善工藝結(jié)構(gòu),改進(jìn)工藝方法,制定與實施作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等措施,保障生產(chǎn)過程中減少乃至消除可靠性退化。對生產(chǎn)過程中可靠性出現(xiàn)的異常,應(yīng)該有記載,找出原因、分析改善、防止再發(fā),并按改善后的內(nèi)容,寫入標(biāo)準(zhǔn),指導(dǎo)今后作業(yè)。為方便查找,文控中心可以通過一些Excel表格、Access數(shù)據(jù)庫來管理文件;怎么與ISO9000如此相似?其實也就我從ISO9000上摘錄下來的。 第四節(jié) 可靠性保證研發(fā)階段,產(chǎn)品可以達(dá)到較高的可靠性要求,這只是第一步,只說明產(chǎn)品內(nèi)在可靠性能達(dá)到要求(下文簡稱“設(shè)計可靠性”);但在生產(chǎn)制造過程中,若無適當(dāng)?shù)馁|(zhì)量控制或可靠性措施,就會引起可靠性退化現(xiàn)象;批量生產(chǎn)的產(chǎn)品的可靠性,下文簡稱“生產(chǎn)可靠性”。三次設(shè)計的目的是用廉價元器件做成質(zhì)量上乘、性能穩(wěn)定可靠的產(chǎn)品。接地可分為兩大類,即安全接地與信號接地。對應(yīng)設(shè)計的方法也有多種,如:防靜電設(shè)計、防雷設(shè)計、防地電位升設(shè)計等等;一般從以下方面考慮,以保證產(chǎn)品的EMC特性:靜電放電的防護(hù)。11. 采用強制風(fēng)冷系統(tǒng)時應(yīng)保證在箱內(nèi)有足夠的正壓強。3. 元器件安裝時,要充分考慮周圍元器件輻射換熱的影響,熱敏器件應(yīng)遠(yuǎn)離熱源或采取熱屏蔽措施。如聚苯乙烯電容器,降額太大易產(chǎn)生低電平失效;D、為了降低元器件的失效率,提高設(shè)備可靠性而大幅值降低其應(yīng)用應(yīng)力,按其功能往往需要增加元器件數(shù)量和接點,反而降低了設(shè)備可靠性;E、對器件進(jìn)行降額應(yīng)用時,不能將所承受的各種應(yīng)力孤立看待,應(yīng)進(jìn)行綜合權(quán)衡;F、不能用降額補償?shù)姆椒ń鉀Q低質(zhì)量元器件的使用問題,低質(zhì)量產(chǎn)品要慎重使用;冗余設(shè)計一個系統(tǒng)的可靠度為MTBF=6667H,達(dá)不到設(shè)計目標(biāo)值MTBF=8000H;如果把兩個這樣的系統(tǒng)“并聯(lián)”起來,結(jié)果將會怎么樣呢?R1R1R1并聯(lián)分析:一個系統(tǒng)的可靠度MTBF=6667H,對應(yīng)的失效密度為λ1,可靠度為R1,失效率為F1;并聯(lián)后的系統(tǒng)對應(yīng)的失效密度為λs,可靠度為Rs,失效率為Fs;則:Fs=F1F1,F(xiàn)1=1-el1tFs=1-elstλ1 =1/MTBFMTBFs=1/λs近似計算后得:MTBFs=MTBF=10000(h),也就滿足了設(shè)計目標(biāo)值;這就是一個簡單的冗余設(shè)計例子;冗余設(shè)計過程中,必定會增加整個系統(tǒng)的體積、成本等;在整個設(shè)計過程中也要綜合考慮。但用戶要求MTBF為2000H(則設(shè)計目標(biāo)值為8000H),對于一個MTBF為6667H的系統(tǒng)(此時的可靠性稱為系統(tǒng)的基本可靠性),為了達(dá)到MTBF為8000H的要求,就必須提升系統(tǒng)完成任務(wù)的能力(也就是提升系統(tǒng)的任務(wù)可靠性)。產(chǎn)品在制造過程中,制造工藝不良也會影響產(chǎn)品可靠性;一般取值K5=;N——系統(tǒng)所含電子元器件數(shù)量;MTBFS——系統(tǒng)平均故障間隔時間;用CW法預(yù)計可靠性指標(biāo),只需要知道設(shè)計中所以用到的電子元器件的個數(shù)、電子元器件的產(chǎn)地、系統(tǒng)將要使用的環(huán)境(就可以估計出系統(tǒng)的λS,從而得到MTBF);*降額設(shè)計是一種為了提升產(chǎn)品可靠性而常用的設(shè)計方法,此部分內(nèi)容隨后給出說明。比例組合法只是在一些資料上看到說有這項內(nèi)容,但是我也沒有聽說過,也沒有查到,所以………………55555555……四、可靠性預(yù)計為了達(dá)到分配的目標(biāo)值,首先要知道的是將要設(shè)計的系統(tǒng)的可靠度可以達(dá)到什么水平。LC圖A圖B三、可靠性分配在產(chǎn)品的設(shè)計階段,就要把要求的MTBF“設(shè)計進(jìn)”產(chǎn)品里。θ0——MTBF檢驗上限值,在統(tǒng)計測試方案中,當(dāng)產(chǎn)品MTBF真值接近或等于θ1時,以高概率接收該產(chǎn)品,一般θ0/θ1 =D0;按GJB 899測試方案Ⅲ,α=β=,D0=D=2;θp——MTBF設(shè)計值,又稱規(guī)模值,是《研制任務(wù)書》中規(guī)定和期望達(dá)到的指標(biāo);按GJB299預(yù)計θp/θo=。可靠性預(yù)計則是自下到上地預(yù)計產(chǎn)品各層次的可靠性參數(shù),判斷各層次設(shè)計是否滿足分配的可靠性指標(biāo)。但應(yīng)記錄并采取措施以防止再度發(fā)生。(二):可 靠 性 增 長 試 驗① 在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)該對每個被測參數(shù)規(guī)定可接收的性能范圍?;蛘呷粼囼炿m未達(dá)到規(guī)定的試驗時間,但失效數(shù)已大于或等于標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的拒收判決數(shù)時,亦可停止試驗。典型的可靠性增長模型有Duane模型和Amsaa模型。如溫度循環(huán)一般可以將略高于產(chǎn)品高溫溫度、略低于產(chǎn)品低溫溫度作為溫度循環(huán)的上、下限溫度,溫度變化率可取5℃/min或10℃/min。 三類主要差別如下:可靠性增長試驗可靠性鑒定試驗例行試驗試驗?zāi)康脑谘兄七^程中模擬實際的或加速的使用條件進(jìn)行試驗,使產(chǎn)品存在的設(shè)計(包括電路設(shè)計、結(jié)構(gòu)設(shè)計和工藝設(shè)計)缺陷變?yōu)橛补收隙浞直┞?,對故障進(jìn)行分析、采取糾正措施,根除故障產(chǎn)生的原因或降低故障率到可以接受的值,使產(chǎn)品的固有可靠性得到增長驗證產(chǎn)品的設(shè)計能否在規(guī)定的環(huán)境條件下滿足規(guī)定的性能及可靠性要求。結(jié)果判定:產(chǎn)品表面無異常,附著力和耐磨性測試合格。結(jié)果判定:檢查產(chǎn)品表面有無劃痕,當(dāng)有1條以下時為合格。5B-劃線邊緣光滑,在劃線的邊緣及交叉點處均無油漆脫落; 4B-在劃線的交叉點處有小片的油漆脫落,且脫落總面積小于5%;3B-在劃線的邊緣及交叉點處有小片的油漆脫落,且脫落總面積在5%~15%之間;2B-在劃線的邊緣及交叉點處有成片的油漆脫落,且脫落總面積在15%~35%之間;1B-在劃線的邊緣及交叉點處有成片的油漆脫落,且脫落總面積在35%~65%之間;0B-在劃線的邊緣及交叉點處有成片的油漆脫落,且脫落總面積大于65%。噴頭距產(chǎn)品表面約半米,對產(chǎn)品表面各處均勻噴水(底面除外)。鹽溶液為濃度5%的NaCl溶液。如果抗沖擊能力較差的方向能夠通過沖擊測試,則其它方向的沖擊測試可以免做。3%;測試時間為24小時。2. 低溫貯存低溫測試的溫度TL必須低于產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定的低溫工作溫度。廣義的可靠性測試也可包括環(huán)境測試。因此,應(yīng)該重視在使用中反饋的信息,與以前的試驗進(jìn)行分析比較,對于改進(jìn)試驗方法、進(jìn)一步提高產(chǎn)品的可靠性都有重要的意義。環(huán)境應(yīng)力篩選方案可以根據(jù)ALT(或HALT)確定的極限來確定。加速環(huán)境試驗在產(chǎn)品全壽命周期管理中的應(yīng)用 在產(chǎn)品的設(shè)計、研制、生產(chǎn)和使用直至壽命末期整個壽命周期內(nèi),其可靠性的設(shè)計、改進(jìn)、評估都離不開環(huán)境試驗手段,而加速環(huán)境試驗在產(chǎn)品的設(shè)計、研制和生產(chǎn)中是實現(xiàn)產(chǎn)品的可靠性增長和確定、評估產(chǎn)品可靠性水平的重要手段。RET的目的是要引起失效,因此它是破壞性試驗,試樣數(shù)量盡可能少。另外試驗得出的數(shù)據(jù)使生產(chǎn)廠商和消費者對產(chǎn)品有充分的信心。 加速壽命試驗(ALT)加速壽命試驗只對元器件、材料和工藝方法進(jìn)行,用于確定元器件、材料及生產(chǎn)工藝的壽命。加速環(huán)境試驗的加速水平通常用加速因子來表示。這種試驗方法的特點是:模擬真實環(huán)境,加上設(shè)計裕度,確保試驗過關(guān)。沖擊加速度范圍:(50~1500)m/s2。 濕度范圍:30%RH~100%RH 霉菌試驗按GB/T —90 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 長霉試驗》進(jìn)行霉菌試驗。但是,這樣的理想測試實際上是不可能的,因為對這種測試而言,要等到最后一個樣品出現(xiàn)故障――需要的測試時間長得無法想象,要所有樣品都出現(xiàn)故障——需要的成本高得無法想象。1. 平均故障間隔時間;可維修的產(chǎn)品,其可靠性主要的參數(shù)是MTBF(Mean Time Between Fail),即平均故障間隔時間,也就是兩次維修間的平均時間;不可維修的產(chǎn)品,用MTTB(Mean Time To Fail);兩個參數(shù)的計算沒有區(qū)別,下文只提到MTBF。[CR(tr)];它與一般理解的壽命有不同含義,概念也不同,設(shè)產(chǎn)品的可靠度為R(t),使可靠度等于規(guī)定值r時的時間tr的,即被定義為可靠壽命。日本的汽車、家用電器等產(chǎn)品,雖然在性能、價格方面與我國彼此相仿,卻能占領(lǐng)美國以及國際市場。其他行業(yè)可靠性工作起步更晚,差距更大,與先進(jìn)國家差距20~30年,雖然國家已制訂可靠性標(biāo)準(zhǔn),但尚未引起所有企業(yè)的足夠重視。對產(chǎn)品而言,可靠性越高就越好。主要的原因就是日本的產(chǎn)品可靠性勝過我國一籌。(故障率)λ(t);它是指某產(chǎn)品(零部件)工作到時間t之后,在單位時間△t內(nèi)發(fā)生失效的概率。MTBF越大,說明產(chǎn)品的可靠性越高。為了測試可靠性,這里介紹:加速測試(也就增加應(yīng)力*),使缺陷迅速顯現(xiàn);經(jīng)過大量專家、長時間的統(tǒng)計,找到了一些增加應(yīng)力的方法,轉(zhuǎn)化成一些測試的項目。 鹽霧試驗按GB/T —93 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 鹽霧試驗》進(jìn)行鹽霧試驗。 碰撞試驗按GB/T —95 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 碰撞試驗》進(jìn)行碰撞試驗。其缺陷在于試驗的效率不高,并且試驗的資源耗費巨大。加速因子定義為設(shè)備在自然服役環(huán)境下的壽命與在加速環(huán)境下的壽命之比。其目的不是暴露缺陷,而是識別及量化在使用壽命末期導(dǎo)致產(chǎn)品損耗的失效及其失效機理。加速壽命試驗的對象是抽樣產(chǎn)品。進(jìn)行RET的理想時間是在設(shè)計周期的末期,此時設(shè)計、材料、元器件和工藝等都準(zhǔn)備就緒,而生產(chǎn)尚未開始。根據(jù)市場需求和用戶的要求確定產(chǎn)品之后,就可初步設(shè)計好產(chǎn)品雛形。以最為有效的溫度循環(huán)和寬帶隨機振動為例,兩端的溫度應(yīng)該比工作極限約低20%,用在生產(chǎn)中的ESS振動量級應(yīng)該約為振動破壞極限的50%。總之,可靠性管理是貫穿于產(chǎn)品全壽命周期的一項工程,也是增強產(chǎn)品的市場競爭力的保證。二、EMC測試隨著電子產(chǎn)品越來越多地采用低功耗、高速度、高集成度的LSI電路,使得這些系統(tǒng)比以往任何時候更容易受到電磁干擾的威脅。研制測試最低,轉(zhuǎn)產(chǎn)測試次之,例行測試最高;通常狀況下三個階段的TL都?。?0℃。5. 隨機振動應(yīng)力最高頻率大于500Hz. (對單機)∽(對單板)g2/Hz.測試方向為X,Y,Z,則其它方向可以免作。8. 開關(guān)電應(yīng)力 在高溫,低溫和濕熱條件下各開關(guān)電3次以上,在整個測試過程中開關(guān)電10次以上。連續(xù)鹽霧測試的時間為24小時。噴頭中心的出水方向與水平方向的夾角大于30度。用專用的日本砂質(zhì)橡皮(橡皮型號:LER902K),施加500g的載荷,以40~60次/分鐘的速度,以20mm左右的行程,在樣本表面來回磨擦300個循環(huán)。注:如果采用的是UV漆,硬度要求達(dá)3H以上。注:汗液的成份為氨水 % ,%,%。試驗結(jié)果作為判斷設(shè)備能否定型的依據(jù)。循環(huán)周期時間根據(jù)溫度變化率而定將產(chǎn)品工作高溫溫度作為試驗溫度按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的工作高、低溫溫度進(jìn)行各種功能和指標(biāo)的檢驗。在試驗達(dá)到終點應(yīng)該達(dá)到或超過規(guī)定的可靠性指標(biāo)見下(一)例行試驗包括如下試驗項目:① 高溫試驗② 低溫試驗③ 恒定濕熱試驗④ 運輸(振動); 試驗合格性在規(guī)范化的試驗設(shè)備中,當(dāng)試驗結(jié)果達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo),認(rèn)為合格。 b 截尾序貫試驗方案根據(jù)已知的0,1,鑒別比d,查表可得具體的試驗方案,再根據(jù)已進(jìn)行的累計試驗時間和累計失效數(shù)確定是接收、拒收還是繼續(xù)試驗。若任一參數(shù)超出這種范圍時,應(yīng)稱作一次失效。⑥ 由于另一個組成部分失效而引起的失效,稱作從屬失效,不記入產(chǎn)品失效數(shù)內(nèi)。只有各層次的可靠性分別達(dá)到分配的要求,才能保證產(chǎn)品可靠性指標(biāo)得以實現(xiàn)。所以θp/θT=;也就是說,設(shè)計目標(biāo)值最小應(yīng)該在實現(xiàn)使用要求值的4倍;一般情況下設(shè)計值為實現(xiàn)使用要求值的5~10倍。當(dāng)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)復(fù)雜時,將可靠性指標(biāo)自上而下逐級地分配到各個簡單的結(jié)構(gòu)。如果系統(tǒng)可以達(dá)到的MTBF遠(yuǎn)大于設(shè)計目標(biāo),就可以進(jìn)行研發(fā);如果小于設(shè)計目標(biāo)值,就必須重新設(shè)計。這里先給出一個CW法預(yù)計實例(例一):某陸用移動產(chǎn)品,該產(chǎn)品含有進(jìn)口電子元器件約為2000個,其固有可靠性指標(biāo)為:λS=λ0這種使產(chǎn)品的可靠性獲得提高的過程稱為可靠性增長。在進(jìn)行冗余設(shè)計時,一般情況下應(yīng)注意:A. 在設(shè)計時應(yīng)在可靠性、體積、重量及成本四者之間進(jìn)行權(quán)衡優(yōu)化設(shè)計;B. 在設(shè)計時,不是構(gòu)成系統(tǒng)所有的單元都需要進(jìn)行冗余設(shè)計,應(yīng)選取那些可靠性薄弱環(huán)節(jié)和對執(zhí)行任務(wù)及安全性影響至關(guān)重要單元進(jìn)行冗余設(shè)計。4. 增加表面黑度,提高輻射換熱能力。12. 進(jìn)氣口和排氣口之間應(yīng)有足夠距離,要避免熱風(fēng)回流。首先要阻止電流直接進(jìn)入電子線路,最普通的辦法就是建立完善的屏蔽結(jié)構(gòu)(必要時在外殼與電路之間增加第二層屏蔽層),屏蔽層接到電路的公共接地點上。接地時應(yīng)該注意:接地線愈短愈好、接地面應(yīng)具有高傳導(dǎo)性、切忌雙股電纜分開安裝、低頻宜采用單點接地系統(tǒng)、高頻應(yīng)采用多點接地系統(tǒng)、去除接地環(huán)路;濾波。在三次設(shè)計中,參數(shù)設(shè)計是最重要的,是三次設(shè)計的核心。實際上,在絕大部分企業(yè)內(nèi),生產(chǎn)可靠性都會比研發(fā)可靠性差。二、原材料和供應(yīng)商的控制 原材料和供應(yīng)商控制的基本要求:保證每個原
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