統(tǒng)計過程控制培訓課件-免費閱讀
【正文】 CPK指數(shù)不僅考慮加工，生產(chǎn)工序的波動，而且還考慮頻次分布平均值與規(guī)格限之間的位置。其他情況，如重新進行測量系統(tǒng)分析和糾正，對過程的輸入采取了措施，均要重新進行試驗（8） 重新畫圖和計算控制限當新的控制圖表明不存在上述的特殊原因變差信息時，所計算得到的控制限有可能用作過程控制用。（3）計算試驗控制限首先計算平均極差R和平均均值XR＝(R1＋R2＋…+RK)/KX＝(X1+X2+…+XK)/K極差圖控制限上限UCLR＝D4R 下限LCLR＝D3R均值圖控制限UCLX＝X＋A2R LCLX＝X－A2R常數(shù)D4，D3，A2，d2按n查表n2345678910D4D3*****A2d2(4) 分別將試驗控制限及中心線畫在極差圖與均值圖上。如果分析結(jié)果顯示過程有異常波動時，則應(yīng)重新抽取樣本，測定數(shù)據(jù)，重新計算控制圖界限進行分析。車間工人更易掌握。l 有助于過程在質(zhì)量上和成本上持續(xù)地，可預測地保持下去。*定義分布中心μ與公差中心M的偏移ε=∣Mμ∣*μ與M 的偏移度K=ε/(T/2)=2ε/T*分布中心偏移的工序能力指數(shù)CPK＝(1－K)T/6σ。＊ 如果存在變差的特殊原因，隨著時間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定。 兩種模型的比較 模型 特點檢 測反 饋控制輸出過程方法事后把關(guān)預防經(jīng)濟性差比較好質(zhì)量不能保證穩(wěn)定 計量型隨機變量的分布 正態(tài)分布――過程控制中最常用的分布μ―均值 σ2―方差 σ－標準差 177。3σ－常用來表示變差大小變量范圍 正態(tài)分布概率 μ177。 兩種過程狀態(tài)僅存在普通原因變差＊ 分布穩(wěn)定的 過程是可預測的 過程是統(tǒng)計受控的 存在特殊原因變差 ＊ 分布不穩(wěn)定的 過程是不可預測的 過程是不受控的 兩種控制措施＊ 系統(tǒng)措施 －通常用來減少變差的普通原因 －通常要求管理層的措施 －工業(yè)經(jīng)驗，約占過程措施的85％＊ 局部措施 －通常用來消除變差的特殊原因 －通常由與現(xiàn)場有關(guān)的人員解決 －工業(yè)經(jīng)驗，約占過程措施的15％ 過程控制要點 －屬于系統(tǒng)的問題不要去責難現(xiàn)場人員，要由系統(tǒng)采取措施 －屬于局部的問題也不要輕易采取系統(tǒng)措施 －考慮經(jīng)濟因素，作出合理的決定 －過程控制系統(tǒng)應(yīng)能提供正確的統(tǒng)計信息（MSA）四、 過程能力與能力指數(shù) 什么是過程能力 －過程在統(tǒng)計受控狀態(tài)下的變差大小 －過程能力是由造成變差的普通原因確定的 －過程能力通常代表過程本身的最佳性能 －過程能力決定于質(zhì)量因素4M1E而與技術(shù)規(guī)范無關(guān) 如何計算過程能力 －正態(tài)分布的情況下，過程能力用分布的177。當μ=M，即分布中心公差中心重合無偏移時，K=0，CPK＝CP，而當μ＝Tu或μ＝TL時，K＝1 CPK＝0表示工序能力由于偏移而嚴重不足，需要采取措施。l 對已達到統(tǒng)計受控的過程采取措施，不斷減少普通原因變差，以達到提高質(zhì)量，降低成本和提高生產(chǎn)率的改進目標。單值－移動極差圖X－MR用單值代替均值，用MR（相鄰數(shù)值之差）代替極差。b) 控制用控制圖：經(jīng)過上述分析證實過程穩(wěn)定并能滿足質(zhì)量要求，此時的控制圖可以用于現(xiàn)場對日常的過程質(zhì)量進行控制。均值圖示例極差圖示例（5） 分析極差圖和均值圖分別分析極差圖和均值圖，找出特殊原因變差數(shù)據(jù)。過程控制圖的目的不是追求“完美”，而是保持合理、經(jīng)濟的控制狀態(tài)。因此該指數(shù)對于作結(jié)論尤為重要。 允許的不合格品率P＝, m=15, n=400 不合格品率P=np/n, 不合格品率的平均值P=Σ(np)/Σn=41/6000=標準偏差σp=√P(1P)/n=√()/400=上控制限=UCL=P+3*σp=+3*=下控制限=LCL= P3*σp=*=CPK=Δ臨界距離/3*σpCPK= (PP)/ 3*=()/ 3*=如定性質(zhì)量特性，則Δ臨界距離由規(guī)定的質(zhì)量目標和分布的平均值計算求得；由
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