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qc七大手法講義1-免費(fèi)閱讀

2025-05-10 12:34 上一頁面

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【正文】 6)點(diǎn)子超出界限或有不正常之狀態(tài),必須利用各種措施研究改善或配合統(tǒng)計(jì)方法,把異常原因找出,同時(shí)加以消除。 (各組數(shù)據(jù)之平均計(jì)算數(shù)則取比測定值多一位數(shù)) 5)點(diǎn)之繪制有[?]、[○]、[△]、[]…等,最好由廠內(nèi)統(tǒng)一規(guī)定。(最大值最小值=R) 6)計(jì)算總平均X。 及時(shí)性不足,易延誤時(shí)機(jī)?!?平均值177。管制圖是1924年由美國的品管大師修哈博士所發(fā)明。步驟四:繪圖。所以直方圖有如下用處:(1)報(bào)告用將數(shù)據(jù)繪成直方圖,另附上數(shù)據(jù)總數(shù)n,平均值X,標(biāo)準(zhǔn)差σ都能讓人一目了然。品管七大手法的運(yùn)用,提升了日本產(chǎn)品的水平,是日本產(chǎn)品走向世界的原動(dòng)力。 第四講 查檢表(check list)一、定義:(三)圓形圖數(shù)據(jù)如下:月份123456789101112流失人數(shù)16201413108221834934(5)、無因果關(guān)系,不需采用。制作特性要因圖,最關(guān)鍵的是要抓住因果關(guān)系。MachineMethod特性要因圖可以配合柏拉圖、直方圖、管制圖連串起來活用。它是在1897年由意大利經(jīng)濟(jì)學(xué)家柏拉圖(Vilfredo Pareto)提出。QC七大手法講義柏拉圖查檢表(CHECKING LIST) 管制表后又有人總結(jié)出新QC七大手法:第一講當(dāng)時(shí)他在研究財(cái)富不均的現(xiàn)象,他在對(duì)意大利財(cái)富的分配調(diào)查中發(fā)現(xiàn)少數(shù)人掌握著大部分的財(cái)富,此種少數(shù)人控制大部分財(cái)富的現(xiàn)象也稱作柏拉圖法則。1) 首先決定收集時(shí)間段、方法、分類。FQC外觀不良狀況數(shù)據(jù)整理3)依項(xiàng)目的數(shù)據(jù)大小從左向右排列特性要因圖一、定義三、做法:抓重點(diǎn)、抓要因,要有中要因分類的項(xiàng)目(結(jié)果),小要因問題點(diǎn)(原因)。(6)、對(duì)原因要深入分析。建立柏拉圖須先以層別建立要求目的的統(tǒng)計(jì)表。依上數(shù)據(jù)做圖如下:70年代初,日本人大力推行QCC活動(dòng),除了重視現(xiàn)場的數(shù)據(jù)分析外,并逐步運(yùn)用一些新的品管手法,對(duì)工作現(xiàn)場伙伴的情感表達(dá)和語言文字資料進(jìn)行分析,并逐漸演譯成新的品管手法。將某時(shí)間段收集的數(shù)據(jù)(比如尺寸、重量、硬度、溫度等)分類整理成量的分配表,以柱狀形式圖形化,此種圖形就叫做直方圖。(2)分析用與層別法配合使用,是分析問題的有效工具。橫軸為特性,縱軸為次數(shù)(發(fā)生頻率) 標(biāo)題什么是管制呢?管制就是將某事物的某一特性的標(biāo)準(zhǔn)值控制在一定的范圍之內(nèi)。而主要的意義是:一種以實(shí)際產(chǎn)品品質(zhì)特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所研究判斷之制程能力的管制界限比較,而以時(shí)間順序用圖表示出來。%的總體數(shù)據(jù)。計(jì)數(shù)值與計(jì)量值管制圖之應(yīng)用比較 計(jì)量值記數(shù)值優(yōu) 點(diǎn)甚靈敏,較少樣本抽樣數(shù),容易調(diào)查真因。四、管制圖之繪制:A2,D3,D4之值,隨每組之樣本數(shù)不同而有差異,但仍遵循三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差之原理,計(jì)算而得,今已被整理成常用系數(shù)表。 6)變管制圖,二個(gè)管制圖之繪制間隔最少距20mm以上,可行的話最好距30mm左右。 制程在滿足上述條件時(shí),雖可認(rèn)為制程在管制狀態(tài)而不予變動(dòng)管制界限,但并非點(diǎn)子超出管制界限外亦可接受;這此超限之點(diǎn)子必有異常原因,故應(yīng)追究調(diào)查原因并予以消除之。 7)XR管制圖里組的大?。╪),一般采n=45最適合。 5)抽樣方法以能取得合理樣組為原則。B 連續(xù)35點(diǎn)中,出現(xiàn)在管制界限外點(diǎn)子不超出1點(diǎn)時(shí)。 4)CL、UCL、LCL之?dāng)?shù)值位數(shù)計(jì)算比測定值多兩位數(shù)即可。(取至測定值最小單位下一位數(shù)) 5)計(jì)算各組之全距R。 無法尋得不良之真因。c 缺點(diǎn)數(shù)管制圖(C chart) a 不良率管制圖(P Chart) 產(chǎn)品名、制程名三、
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