zygo干涉儀使用說明-免費閱讀
【正文】 最值得欣賞的風(fēng)景，是自己奮斗的足跡。去除手動掩膜在mask 窗口中選擇pick 然后選中需要去除的掩膜，點擊delete 按鈕來刪除。點擊analysis control 按鈕，在彈出的窗口中選擇 auto aperture ON，在下面的inside 欄中輸入有效百分比，outside 欄中輸入中心需要去除的部分。調(diào)整前后將細線縮小成點，并調(diào)整到十字線中間。凸面靠近，凹面遠離干涉儀主機尋找表面像，緊盯剛才找到的貓眼條紋，它會漸漸變小然后又慢慢變大，再次變大的條紋就是零件的表面像，微調(diào)六維調(diào)整架將條紋調(diào)到3 根。按下控制盒上align/view 切換到align 模式，將光點作 業(yè) 文 件文件編號ZYGO干涉儀使用說明版本/修訂頁碼7/8調(diào)到十字線的中心。7 細節(jié)說明和結(jié)語 安全要求 測量過程中，注意對透鏡的防護，尤其是表面和邊角容易損壞的部位。，在彈出的對話界面中點擊Fringe按鈕,對話框中圖像顯示會進行更新，鎖定并顯示監(jiān)視器中畫面。點擊Define，定義待測區(qū)域。測試完畢后關(guān)閉平行度測試操作界面，點擊左上角X符號，退回到ZYGO主測試操作桌面。 Data按鈕（如圖三、四所示）, 在彈出的有動態(tài)圖像的對話框中，首先從下部選項中選擇晶體外形標定（例如正方形則選擇square）。如果沒有，關(guān)閉當前的窗口，待其縮小為按鈕后，在應(yīng)用選擇窗口中點擊相應(yīng)的應(yīng)用?？梢愿鶕?jù)需要設(shè)定有效區(qū)域的形狀、大小、位置， 也可以從有效區(qū)域中挖去一部分不需要的。 Align/View 模式按下控制盒上的align/view 切換的2 個模式之一。4 Zygo干涉儀的定義 應(yīng)用（application）應(yīng)用是ZYGO 干涉儀中一系列功能的組合，保存為后綴名為“*.app”的文件。2范圍 本文件涉及用ZYGO 干涉儀檢測平面元件的一般方法。 鏡片像從標準鏡出射的光在整個零件表面被原路反射回來與標準面的反射光發(fā)生干涉產(chǎn)生的干涉圖形。 長度基準設(shè)定圖像的長度基準，因為放大率不同或者屈光度不同，同樣大小的干涉圖所代表的零件大小可能有很大的差異。 定期對設(shè)備進行保養(yǎng)。） Controls 對話框中的 Refractive index, 錄入待測晶體的折射率（，如圖二），按回車鍵確定。再點擊Ref，選擇Fill，添加最后標定的參考區(qū)域，點擊Pick，然后用鼠標點擊待測晶體區(qū)域邊框，選擇Unfill，去除晶體待測區(qū)域，點擊Define，定義Ref（參考區(qū)域）。使用鼠標標記晶體通光面寬度，在彈出的對話框中，錄入晶體通光面寬度，按回車鍵確定。扭動參考反射鏡上方的調(diào)節(jié)旋鈕，調(diào)整鏡面方向，使得反射鏡反射回的
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