外文翻譯--自適應(yīng)測試處理過程可變性中文-免費閱讀
【正文】 所以 ,每一個模是適當(dāng)?shù)暮Y選以最小的成本，來完成工作所需。同時 ,一個供應(yīng)鏈數(shù)據(jù)集成過程需要隨著過程開發(fā)的自動檢測 ,以便糾正供應(yīng)鏈問題。這種類型學(xué)習(xí)會產(chǎn)生基礎(chǔ)設(shè)施改善 ,因為它需要大量的相同的數(shù)據(jù)產(chǎn)生 ,通過使用需要的數(shù)據(jù)從一個自適應(yīng)測試 ,我們可以減少要求 特殊的測試結(jié)構(gòu) ,并使用每一個模在一個晶片內(nèi)作為數(shù)據(jù)源。 我們還可以降低測試成本 ,減少測試時間。降低測試成本 ,更好的質(zhì)量和可靠性 ,提高產(chǎn)量 ,提高學(xué)習(xí)效率是其最大的好處。所以 ,可以進行更嚴格的測試在模在其他分區(qū)。測試極限是獨立設(shè)置 ,使用特征數(shù)據(jù)模型的形式和參數(shù)是固定的。 自適應(yīng)處理面臨的挑戰(zhàn)之一是模擬電路涉及到的大量測量在晶圓測試應(yīng)選用，以達到對于異常值篩選的目的。在測試執(zhí)行時 ,實時響應(yīng)數(shù)據(jù)收集的 DUT 測試儀將被用作輸 入限制設(shè)置算法 ,計算了適當(dāng)?shù)南拗圃趥€人?；A(chǔ)上。這樣的分析是需要允許在測試內(nèi)容的動態(tài)變化和流在模水平。比起傳統(tǒng)的測試 ,重點是大大縮短周期時間的任何修改 ,以減少直接輸入的產(chǎn)品和測試工程人員。 我們可以包括在自適應(yīng)測試的過程的信息從內(nèi)聯(lián)和早期前饋檢測后來測試步驟和反饋檢測后的數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析。時間尺度通常是每幾個月之后 ,經(jīng)過大量的數(shù)據(jù)收集和分析。設(shè)計最壞的狀況是不現(xiàn)實的 ,因為它會導(dǎo)致不能實現(xiàn)操作 ,以及過度區(qū)和功耗。他們的行為是由大量的物理屬性 ,包括尺寸 ,形狀 ,取向 ,摻雜劑的水平。中文 4440 字 自適應(yīng)測試 :處理過程可變性 文獻名稱 Adaptive Testing:Dealing with Process Variability 出處： IEEE Design amp。為了小減幾何形圖 ,它變得越來越難控制這些屬性。解決這些問題已經(jīng)有很多基于統(tǒng)計學(xué)的設(shè)計研究 ,無論大門水平和高度水平。根據(jù)沉降物 ,限制是可以調(diào)整的 ,移除無效的測試、改變測試順序等等。例如 ,過度的后果在封裝測試可能會引發(fā)更多嚴格 的晶片測試。 圖 1 顯示了一個高級流程圖的適應(yīng)性測試。還有一個重要的約束條件是 ,分析不能顯著降低測試。例子對于當(dāng)前的比率 (IDDQ 測試的比例最大到最小電流 ),當(dāng)前簽名 (重要步驟排序的電流 )和 DeltaIDDQ(變化在電流從一個向量到下一個 )，相似的概念被應(yīng)用于最小工作 電壓 (minVDD) 測試 ,得到的 minVDD 預(yù)測值從測量相鄰模 。因為使用可能數(shù)以百計的外置屏幕是不可行 ,一個初始設(shè)置必須選擇 ,但這可能不是最優(yōu)的，需要調(diào)整。傳統(tǒng)的固定閾值落入這分類。
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