【正文】 施 ,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測(cè)的影響過(guò)程的輸出。 達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)？ 確定能力 計(jì)劃 實(shí)施 計(jì)劃 實(shí)施 措施 研究 措施 研究 計(jì)劃 實(shí)施 改進(jìn)過(guò)程 措施 研究 改進(jìn)過(guò)程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 收集 收集數(shù)據(jù)并畫(huà)在圖上 控制 根據(jù)過(guò)程數(shù)據(jù)計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限 識(shí)別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進(jìn) 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn)過(guò)程 管制圖類(lèi)型 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nP chart 不良數(shù)管制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 XMR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關(guān)心的是不合格品率？ 否 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否 桓定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 —例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計(jì)算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁(yè) 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的 S值？ 使用 X—R圖 是 否 使用 X—R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過(guò)評(píng)價(jià)并且是適用的。 b 確保檢測(cè)設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過(guò)程 流等。 接上頁(yè) 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 42 刻度選擇 ： 接上頁(yè) 對(duì)于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對(duì)于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 對(duì)于還沒(méi)有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 13 計(jì)算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁(yè) 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 ? 各控制限畫(huà)成虛線。 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過(guò)程 8 的特殊原因。 a2 測(cè)量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗(yàn)人或新的量具 )。 注 2： 標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸 到鏈的開(kāi)始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開(kāi)始出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間 。 c2 過(guò)程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多 個(gè)具有完全不同的過(guò)程均值的過(guò)程流的測(cè)量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來(lái)測(cè)取數(shù)據(jù)）。 注： 如果存在幾個(gè)過(guò)程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。 a1 過(guò)程均值已改變 a2 測(cè)量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到 鏈的開(kāi)始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開(kāi)始出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對(duì)于 25子組， 如 果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一 種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 。 b 應(yīng)及時(shí)分析問(wèn)題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開(kāi) 始分析過(guò)程原因。方法如下： b 1 估計(jì)過(guò)程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)有的 子組容 量計(jì)算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2 按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2，計(jì)算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫(huà)在控制圖上。 421 對(duì)于單邊容差，計(jì)算： Z=(USLX) / σ? 或 Z=(XLSL) / σ? （選擇合適的確一個(gè)） 注：式中的 SL=規(guī)范界限， X=測(cè)量的過(guò)程均值， σ? =估計(jì)的過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差 。 UCL–X 3 σ X – LCL 3 σ ? ? ? ? 423 估計(jì)超出規(guī)范的百分比 ：（ PZ ） a 對(duì)于單邊容差，直接使用 Z值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表，換算成 百分比。 ≤Cpk≤,說(shuō)明制程能力正常 。 n – 1 式中： Xi， X； N 分別代表單值、均值和樣本容量。 13 過(guò)程控制的分析（同 XR） 14 過(guò)程能力的分析（同 XR） 估計(jì)過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差： σ = S / C4= σ S / C4 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 B4 B3 * * * * A3 ? ? 式中： S 是樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值（標(biāo)準(zhǔn)差受控時(shí)的）， C4為隨樣本容量變化的常數(shù)。 7 c 刻度應(yīng)與量具一致。 6 32 畫(huà)一個(gè)窄的垂直框標(biāo)注超過(guò)極差控制限的子組。 12 53 描點(diǎn) 13 操作者將每個(gè)單值的點(diǎn)標(biāo)在中位數(shù)圖上。 單值和移動(dòng)極差圖（ X—MR） 用途 測(cè)量費(fèi)用很大時(shí)，（例如破壞性實(shí)驗(yàn)）或是當(dāng)任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出 性質(zhì)比較一致時(shí)（例如：化學(xué)溶液的 PH值）。 b 單值的最大值與最小值之差的 2倍 。 式中： R 為移動(dòng)極差的均值， d2是隨樣本容量變化的常數(shù)。 分組頻率： 根據(jù)實(shí)際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 8113 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo) ， 子組別 （ 小時(shí) /天 ） 作為橫坐標(biāo) ,縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 到 2倍 。 在實(shí)際運(yùn)用中 ， 當(dāng)各組容量不超過(guò)其平均容量 25%時(shí) ， 可用平均樣本容量 n 代替 n 來(lái)計(jì)算控制限 USL； LSL。 C、 按上式分別計(jì)算樣本容量為 n 和 n 時(shí)的點(diǎn)的控制限 . UCL,LCL = P 177。 ） 813 過(guò)程控制用控制圖解釋?zhuān)? 8131 分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)（一個(gè)受控的 P管制圖 中，落在均值兩側(cè)的點(diǎn)的數(shù)量將幾乎相等） 。 b 低于控制限之下的點(diǎn)，說(shuō)明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)。 81313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有 規(guī)律的關(guān)系等 。并在備 注欄中詳細(xì)記錄。 822 數(shù)據(jù)的收集（基本和 p 圖相同） 8221 受檢驗(yàn)的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個(gè)子組 內(nèi)都有幾個(gè)不良品并在。 824 過(guò)程控制解釋和過(guò)程能力解釋 同 p管制圖 83 不合格（缺陷）數(shù)的 c 圖 831 采用時(shí)機(jī) C圖用來(lái)測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗(yàn)材料的數(shù)量恒定，主要用于以下兩 類(lèi)檢驗(yàn)： 8311 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻 璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn)），以及可以用不合格的 平均比率表示的地方（如 100平方米上的缺陷） 8312 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。 3 C 834 過(guò)程控制解釋?zhuān)ㄍ?P管制圖） 835 過(guò)程能力解釋 固定樣本容量為 n 的過(guò)程能力為其不合格數(shù)的平均值 c. 84 單位不合格（缺陷）數(shù)的 u圖 841 使用的時(shí)機(jī) u圖用來(lái)測(cè)量具有不