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【正文】 SILITEK CORPORATION7 (1)改善解析用：以改善現(xiàn)場之品質(zhì)、成本或效率時進行現(xiàn)狀改善解析用：以改善現(xiàn)場之品質(zhì)、成本或效率時進行現(xiàn)狀解析解析自左向右劃一粗線，并將評價特性寫在箭頭的右邊，如下自左向右劃一粗線，并將評價特性寫在箭頭的右邊，如下 圖圖 品質(zhì)特性品質(zhì)特性品質(zhì)特性品質(zhì)特性 :制品尺寸、不良率、成本制品尺寸、不良率、成本●● 評價特性評價特性LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION6步驟三：步驟三： 圈選圈選 46項重要要因項重要要因 ●● 依過去的經(jīng)驗判斷影響度大的要依過去的經(jīng)驗判斷影響度大的要因因 ●● 相關(guān)人員共同決定相關(guān)人員共同決定 （（ 1）） 記錄用查檢表：把數(shù)據(jù)分類成數(shù)個項目，以符記錄用查檢表：把數(shù)據(jù)分類成數(shù)個項目，以符 號、數(shù)字記錄作為分析問題及改善用的圖表或號、數(shù)字記錄作為分析問題及改善用的圖表或 表種類如下：表種類如下： ●● 原因別、機臺別、缺點別、不良項目別原因別、機臺別、缺點別、不良項目別 ….. ●● 位置別位置別 LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION10(2)點點 檢用查檢表：把非做不可或非檢查不可之工作或項目按檢用查檢表：把非做不可或非檢查不可之工作或項目按 點檢順序列出，逐一點點檢順序列出，逐一點 檢并做記錄之表檢并做記錄之表 步驟二步驟二 ：決定層別的方法：決定層別的方法分明的想法謂之層別法。類，而按其大小順序排列的圖形。法則。 總檢查數(shù)總檢查數(shù) ) 100影響度影響度 %＝＝ (各項缺點數(shù)各項缺點數(shù) 247。LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION21五、直方圖五、直方圖 （（ HISTOGRAM）） 劃分?jǐn)?shù)據(jù)的分配范圍成數(shù)個組間，計算各組間劃分?jǐn)?shù)據(jù)的分配范圍成數(shù)個組間，計算各組間內(nèi)該數(shù)據(jù)出現(xiàn)的次數(shù)，并制作成次數(shù)分配圖即內(nèi)該數(shù)據(jù)出現(xiàn)的次數(shù)，并制作成次數(shù)分配圖即稱之。 K （?。?組數(shù)）組數(shù)） LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION25 33絕壁型（峭壁型）：絕壁型（峭壁型）： ●● 最高點往某一邊，呈自然降低箷最高點往某一邊，呈自然降低箷●● 制程能力不夠，為了符合規(guī)格而做全數(shù)選別，亦即數(shù)據(jù)制程能力不夠，為了符合規(guī)格而做全數(shù)選別，亦即數(shù)據(jù)經(jīng)挑選經(jīng)挑選 LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION26 34離島型：離島型： ●● 原料或制程發(fā)生異常的分配狀態(tài)原料或制程發(fā)生異常的分配狀態(tài) ●● 應(yīng)迅追求原因采取必要措施 應(yīng)迅追求原因采取必要措施 LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION27 練習(xí)練習(xí) ：直方圖：直方圖為了調(diào)查顧客的等待時間，測定從總機接起電話至被指為了調(diào)查顧客的等待時間，測定從總機接起電話至被指名的職員或該接線生回答為止的對應(yīng)時間，取得數(shù)據(jù)如名的職員或該接線生回答為止的對應(yīng)時間，取得數(shù)據(jù)如下，請制作直方圖下，請制作直方圖LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION28六、推移圖六、推移圖 （趨勢圖）（趨勢圖） ：數(shù)據(jù)的變動依時間序列打點，點與點之間以意義：數(shù)據(jù)的變動依時間序列打點，點與點之間以折線連起來的圖，稱之。：負(fù)相關(guān)強： X增加時則增加時則 Y減少減少16
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