材料分析方法之材料x(chóng)射線衍射分析-預(yù)覽頁(yè)
【正文】 t=0時(shí)，則（ 11）可寫(xiě)成（ 12）（ 12）指數(shù)形式為A = A0ei(φωt)A = A0eiφ eiφ 相位因子X(jué)射線波動(dòng)性粒子性 顯著 光量子流光量子動(dòng)能 E=hν=hc /λ動(dòng)量 P=h/λ=hν /c167。 各波長(zhǎng) X射線強(qiáng)度提高，216。 各波長(zhǎng) X射線強(qiáng)度越大，216。一、 X射線的透射系數(shù)和吸收系數(shù)?l 稱線吸收系數(shù)e?t 稱透射系數(shù) X射線強(qiáng)度隨透入深度的變化?m質(zhì)量吸收系數(shù)可反應(yīng)物質(zhì)本質(zhì)的吸收特性?l X射線通過(guò)單位厚度（體積） 物質(zhì)的相對(duì)衰減量m— 單位面積厚度為 t的體積中的物質(zhì)的質(zhì)量 （ m=? t）?m—X 射線通過(guò) 單位面積上單位質(zhì)量 物質(zhì)后強(qiáng)度的相對(duì)衰減量。 ?m突增說(shuō)明在這幾個(gè)波長(zhǎng) X射線被大量吸收，這個(gè)相應(yīng)的波長(zhǎng)稱為吸收限。 吸收系數(shù)突變是由于光電效應(yīng)消耗大量入射能量引起的216。 激發(fā)態(tài)的原子有 2種釋放能量方式： 熒光效應(yīng)和俄歇效應(yīng)真吸收包括光電效應(yīng)和熱效應(yīng)所引起的入射能量消耗俄歇電子能譜(AES)分析X射線熒光光譜(XFS) 分析光電子、俄歇電子和熒光 X射線三種過(guò)程示意圖濾波片原理示意圖光源波長(zhǎng)與試樣吸收譜的關(guān)系選擇 X射線靶材的依據(jù)吸收限的應(yīng)用 獲得單一波長(zhǎng)的 X射線三、 X射線的散射216。 相干散射（經(jīng)典散射） 入射 X射線與原子內(nèi) 受縛較禁 的電子相遇，光量子能量不足 以使原子電離，但電子在 X射線交變電場(chǎng)作用下發(fā)生受迫振 動(dòng)而成為電磁波的發(fā)射源， 向四周發(fā)射與入射 X射線波長(zhǎng)相 同的輻射 ，因各電子所散射的射線的波長(zhǎng)相同，有可能發(fā)生 相互
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1