顯微鏡的stm原理與afm基本原理介紹-預(yù)覽頁
【正文】 辨透射電子顯微鏡，場離子顯微鏡之后，第三種在原子尺度觀察物質(zhì)表面結(jié)構(gòu)的顯微鏡，它的出現(xiàn)標(biāo)志著納米技術(shù)研究的一個(gè)最重大的轉(zhuǎn)折，甚至可以標(biāo)志著納米技術(shù)研究的正式起步，這是因?yàn)镾TM具有原子和納米尺度的分析和加工的能力。且其中Ub：偏置電壓；k：常數(shù)，約等于1，Φ1/2：平均功函數(shù)，S：距離。這樣就可以通過測量電流的變化來反應(yīng)表面上原子尺度的起伏，如下圖右邊所示。為維持恒定的電流，針尖隨樣品表面的起伏上下移動，從而記錄下針尖上下運(yùn)動的軌跡，即可給出樣品表面的形貌。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時(shí)，針尖尖端的原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力（1012~106N），此時(shí)，微懸臂就會發(fā)生微小的彈性形變。所以，只要測出微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。Mode），是使用最廣泛的掃描方式。這種方式不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時(shí)用得比較多，而對于表面起伏比較大的樣品不適用。Mode）、非接觸（NonContactMode)模式。通常情況下，接觸模式都可以產(chǎn)生穩(wěn)定的、高分辨率的圖像。所以接觸模式一般不適用于研究生物大分子、低彈性模量樣品以及容易移動和變形的樣品。 非接觸模式 由于輕敲模式能夠避免針尖粘附到樣品上，以及在掃描過程中對樣品幾乎沒有損壞。 橫向力顯微鏡（LFM）工作原理與接觸模式的原子力顯微鏡相似。激光檢測器可以實(shí)時(shí)分別測量并記錄形貌和橫向力數(shù)據(jù)。
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