led晶粒的生產(chǎn)流程-預(yù)覽頁
【正文】 EQC3,供EQC3使用。 EQC3（生產(chǎn)機(jī)臺）生產(chǎn)機(jī)臺于全點(diǎn)前先點(diǎn)測特定的坐標(biāo)，點(diǎn)測所設(shè)定的數(shù)量后程式將會自動比對。連線Probe： （1）.外觀教導(dǎo) （2）.Ink點(diǎn)設(shè)定 （3）.開始點(diǎn)測下片：Probe: （1）.回Ink點(diǎn)（2）.檢查晶圓檔Test： （1）.檢查原點(diǎn)（2）.檢查光電性請寫出自主巡檢的事項(xiàng)（1）、綠框（不少于5個(gè)） （2）、 針痕(針偏、雙針、針痕過大、無針痕) (3)、Map圖(光電性資料)請寫出針痕異常的規(guī)范(1)、雙針(2)、針痕過大(3)、無針痕請寫出每日自主檢(Daily monitor)的步驟(1)、建立文件夾：以日期、機(jī)臺號、型號、片號命名；(2)、拷標(biāo)準(zhǔn)檔放于其內(nèi)。 （2）、雙針痕。換針步驟：(1)、將連接針座的香蕉接頭拔出。(5)、將機(jī)臺上的螺絲松開。(9)、將換下來的針頭統(tǒng)一放入盒內(nèi)，以免針頭亂丟刺傷人。(13)、裝好后將螺絲鎖緊。由此我們可以直接將EQC1所整理的資料格式直接復(fù)制一份來使用。開啟分析程式，載入EQC2規(guī)格檔，使用圖形分析模式以“片號”繪圖并自行判斷PASS/FALL。開啟MAP程式，依序拉入各片全點(diǎn)檔做捷徑目錄下。CP IPQC1 需要做“點(diǎn)測資料匯入” IPQC1 DMAP 需要做“FQCxls匯入”和“File Up”上傳點(diǎn)測資料(.ma2) DMAP IPQC2 需要做“File Up”上傳刪圖檔。 CP 站 LED針測機(jī)(WECON)操作流程圖及流程步驟開始 移至異常點(diǎn)重新點(diǎn)測Probe聯(lián)機(jī)開始測試自動教導(dǎo)將芯片置于Probe上測試機(jī)做連線 針座移至原點(diǎn)做Ink設(shè)定手動教導(dǎo)下片測試值是否正常針測機(jī)流程說明：該流程在CP流程中很重要，只有連線Probe測試機(jī)，TEST測試機(jī)對一些程式進(jìn)行操作，才能實(shí)現(xiàn)全點(diǎn)，抽測。Theta ON快速移動 SLOW慢速移動，可供微調(diào)時(shí)使用。在量產(chǎn)模式下，點(diǎn)擊“清除資料”，再點(diǎn)“連線測試”，完成測試機(jī)連線。吸住芯片后按下“開始”，芯片即進(jìn)到CCD下。框選好后再點(diǎn)擊 “圖像教導(dǎo)”，就會彈出晶粒圖片，按“exit”離開。選擇“自動找尋上始點(diǎn)”，即開始點(diǎn)測芯片。只有先校正好機(jī)臺才能點(diǎn)測出好的晶粒，具體操作步驟如下所示：打開路徑：C:\Program Files\led03\Result\Single Chip\PB012周校正 文件夾。 將點(diǎn)測資料與標(biāo)準(zhǔn)檔放于一起。選擇量產(chǎn)分析，選擇正確的側(cè)項(xiàng)后按日期進(jìn)行繪圖；若資料符合規(guī)範(fàn)(不得超過紅線)，則將圖形存于: C:\Program Files\led03\Result\Single Chip\PB012周校正\該日資料夾內(nèi)。對學(xué)生而言，實(shí)習(xí)可以使每一個(gè)學(xué)生有更多的機(jī)會嘗試不同的工作，扮演不同的社會角色，逐步完成職業(yè)化角色的轉(zhuǎn)化，發(fā)現(xiàn)自己真實(shí)的潛力和興趣，以奠定良好的事業(yè)基礎(chǔ)，也為自我成長豐富了閱歷，促進(jìn)整個(gè)社會人才資源的優(yōu)化配置。所有圖不能只給圖，要有文字說明，要告知這是
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