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[工學(xué)]chapter6常規(guī)射氣測量馬-預(yù)覽頁

2025-03-11 18:56 上一頁面

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【正文】 是單一因素,而應(yīng)該是由綜合因素引起的。 射氣的性質(zhì)和射氣暈的形成 第 5章 常規(guī)射氣測量 -核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- 射氣在土壤氣體中的分布與射氣異常的形成 正常場: 由土壤或巖石中正常放射性核素存在形成的射氣濃度,稱為射氣底數(shù)或者射氣正常場。其中一部分射氣可進(jìn)入巖石孔隙或土壤及大氣中。射氣的濃度在礦體上方幾至十幾 m的范圍內(nèi)都有顯著的增高,所以可以根據(jù)氡射氣濃度的增高來發(fā)現(xiàn)鈾礦床。 第 5章 常規(guī)射氣測量 -核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- 若 V= 0,則射氣僅由于擴(kuò)散作用而遷移,此時(shí) N之解為: ????????????????hKshxhKshNN??)(0 氡濃度 K(cm2/s) N0/2 N0/10 N0/100 N0/1000 不同擴(kuò)散條件時(shí)氡擴(kuò)散距離 (m), h=2m 氡濃度 K(cm2/s) N0/2 N0/10 N0/100 N0/1000 不同擴(kuò)散條件時(shí)氡擴(kuò)散距離 (m), h=5m 氡濃度 K(cm2/s) N0/2 N0/10 N0/100 N0/1000 不同擴(kuò)散條件時(shí)氡擴(kuò)散距離 (m), h→∞ 分析 1: 若擴(kuò)散系數(shù)為 ,離礦體 10m時(shí),射氣濃度已經(jīng)下降到原始濃度得千分之一。 第 5章 常規(guī)射氣測量 -核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- 0 2 4 6 8 10 N/N∞ 深 度 ( m) 浮土厚度有限時(shí)氡濃度與深度關(guān)系 K=h=2m h=5m h=10m Tn擴(kuò)散距離討論: 結(jié)論: Tn離開礦層后只能擴(kuò)散十幾厘米。 1cm3浮土中有 ,由其形成的自由氡濃度為: )/()/(13310LBqCcmBqCCNRaRaRa??????????????????第 5章 常規(guī)射氣測量 -核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- 當(dāng)只考慮擴(kuò)散作用,即 V= 0,有 ???????????????????????????xKxKRaeNeCN????11氡濃度隨深度的變化規(guī)律如右圖所示。 射氣分布的理論計(jì)算 (二) 計(jì)算法 第 5章 常規(guī)射氣測量 -應(yīng)用核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- 在野外條件下測定擴(kuò)散系數(shù) 當(dāng)無法確定較深度處的 N∞值時(shí),可以利用 h h2兩個不同深度處的射氣濃度測量值來確定系數(shù) K。 幾點(diǎn)認(rèn)識: 1 2 3 4 5 ?NNx(m) 均勻放射層的射氣分布 0 2 4 6 8 10 N/N∞ 深 度 ( m) 浮土厚度有限時(shí)氡濃度 與深度關(guān)系 K=h=2m h=5m h=10m 離礦層越近,濃度變化梯度越大。 3)利用射氣分布理論,可以在野外條件下測定擴(kuò)散系數(shù)。 排氣孔 取樣器 橡皮管 干燥器 探測器 唧筒 儀器主機(jī) 射氣測量儀器結(jié)構(gòu)圖 射氣分布的理論計(jì)算 第 5章 常規(guī)射氣測量 -應(yīng)用核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- 射氣測量的應(yīng)用 (一) 射氣儀器 FD3017測氡儀原理框圖 FD3017是一種攜帶式、高靈敏、快速、準(zhǔn)確的現(xiàn)場測氡儀,它利用靜電場收集氡衰變的第一代子體 RaA( 218Pb) 作為測量對象。 第 5章 常規(guī)射氣測量 -應(yīng)用核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- 活性炭吸附測氡法 特性: 具有較高的比表面積( 700~ 1600m2/g),因此 具有較強(qiáng)的吸附能力。 其它 射氣測量方法簡介 ( 1)概述 第 5章 常規(guī)射氣測量 -應(yīng)用核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- α 卡 (杯 )測量 ? α卡法或 α杯法,都是采用可以吸附氡子體的材料,埋在地下一段時(shí)間,當(dāng)所吸附氡的子體達(dá)到一定量后,取出,用低本底 α測量儀器進(jìn)行 α計(jì)數(shù)測量,以獲取氡濃度的方法。 ? 3. 測量: 埋杯一定時(shí)間后,取出探杯,立即將其放入電離室。 ? 5. 檢查儀器: 施工前后,應(yīng)進(jìn)行儀器性能檢查,保證儀器工作良好,確保野外獲得的數(shù)據(jù)可靠。如圖 1所示。因此,它比平行板電極容易獲得強(qiáng)電場區(qū)。電荷在電場中作功,使電極電位發(fā)生變化,由于高壓電極的電位衍定,所以電位變化集中在收集電極上,從而形成了電脈沖。而在平行板電離室中,電場分布均勻。 D50 低本底 α測量儀 主要技術(shù)指標(biāo) 探測器有效直徑: 50mm儀器本底:平均不大于 3計(jì)數(shù) /小時(shí)探測效率:不小于 65%(Pu239源)計(jì)數(shù)容量: 9999(有溢出指示)定時(shí):自動定時(shí)分為30秒、 1分、 2分、 5分、 10分、 20分、30分、 60分、 100分及不控制十檔自檢:分慢檢和快檢信號,可觀察儀器計(jì)數(shù)部分是否正常。 測量效率:對活性區(qū)面積為 7mm的 Pu源分別不小于 60%( 2 )、 65%、70%。、 5180。、 100180。十檔及手控停止。 ? 埋杯最佳時(shí)間: – 根據(jù)氡及其子體的放射性積累特征,埋杯最佳時(shí)間為 4h或大于 4h,不論何種累積測氡方法,若氡子體收集器埋置時(shí)間小于 ,則只能收集小部分氡子體信息,因此,此時(shí)氡子體的收集量正處于快速增加階段 ,是不穩(wěn)定的;只要埋杯時(shí)間達(dá)到 4h,收集氡的短壽命子體就達(dá)到了飽和量,此后收集到的信息量始終為穩(wěn)定值。由于鈾和釷的地球化學(xué)性質(zhì)不同,以及 222Rn和 220Rn的衰變積累規(guī)律不同, 220Rn主要反映近地表的信息,而 222Rn可以反映地下深部的信息。埋置時(shí)間 1~ 24小時(shí)。國內(nèi)尚未開展。 ? 用于記錄輻射損傷的探測器一般為塑料,如醋酸纖維(電影膠片)等。 ( 2)輻射損傷形成機(jī)理 具有一定動能的質(zhì)子、 α粒子、重離子、宇宙射線等重帶電粒子以及裂變碎片射入絕緣固體物質(zhì)中時(shí),在它們經(jīng)過的路徑上會造成物質(zhì)的輻射損傷,留下微弱的痕跡 (僅幾十 ),稱為潛跡。用一定的化學(xué)溶劑對固體物質(zhì)進(jìn)行腐蝕 (蝕刻 )時(shí),徑跡的圖象就可以顯示出來,直到將它們擴(kuò)大到用普通的光學(xué)顯微鏡就可以直接進(jìn)行觀測。 ? 初始電離率既與粒子的電荷數(shù) (原子序數(shù) )、粒子的速度(質(zhì)量和能量 )有關(guān),也與記載徑跡的物質(zhì)的性質(zhì)有關(guān)。 ( 3)固體徑跡探測器的基本特征- 2 T( ℃ ) D( μ) 固定配方與時(shí)間 t( m) D( μ) 固定配方與溫度 t( m) D( μ) 固定配方與溫度 醋酸釬維 硝酸釬維 第 5章 常規(guī)射氣測量 -應(yīng)用核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- ? 醋酸釬維探測器蝕刻配方 – 22克 NaOH+ 3克 KMnO4+ 100毫升 H2O – 28克 KOH+ 3克 KMnO4+ 100毫升 H2O ? 硝酸釬維探測器蝕刻配方 – 26克 NaOH+ 100毫升 H2O ? 蝕刻程序 – 將野外取回的探測器(薄膜)洗凈,晾干 – 配置好蝕刻劑 – 將配置好的蝕刻劑放入恒溫鍋,加熱到選定穩(wěn)定 – 將探測器(薄膜)在蝕刻架上掛好,放入鍋內(nèi)蝕刻到選定時(shí)間 – 將蝕刻好的探測器(薄膜)取出,用水洗凈,晾干 ( 4) α徑跡蝕刻方法 第 5章 常規(guī)射氣測量 -應(yīng)用核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- 80 84 88 92 96 10 00100200300400500長沙鐵道學(xué)院 α 徑跡測量剖面 1-第四系, 2-砂巖, 3-斷層充填物, 4-裂隙, 5-鉆孔 測點(diǎn)號 j/mm2 ( 5)應(yīng)用實(shí)例 尋找基巖裂隙水 第 5章 常規(guī)射氣測量 -應(yīng)用核技術(shù)與自動化工程學(xué)院- 氡氣測量系統(tǒng)的標(biāo)定 氡氣測量系統(tǒng)的標(biāo)定是將一已知濃度的氧氣引入裝探測器的容器內(nèi),然后,按照一定規(guī)則進(jìn)行測量求出測量系統(tǒng)的讀數(shù)與氡氣濃度的關(guān)系,即標(biāo)定系數(shù),或稱換算系數(shù)(刻度系數(shù)、校正系數(shù)) 標(biāo)定方法:循環(huán)法、真空法、擴(kuò)散法 第 5章 常規(guī)射氣測量
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