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《超聲探傷方法講義》ppt課件-預(yù)覽頁

2025-02-10 19:28 上一頁面

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【正文】 法 ? ? 根據(jù)工件探傷靈敏度要求。 ? 試塊反射體和工件檢測靈敏度要求的反射體種類不同引起補(bǔ)償。 ? 如帶中心孔的軸或筒體外表面或內(nèi)表面探測。 ? 三、橫波平面工件缺陷定位: ? 定出水平距離 Lf=nTfSinβ和深度 df=nTfCOSβ,二次波 df=2TnTfCOSβ。 ? H為曲面工件上缺陷離外表面實際深度。 ? L ? 2. 內(nèi)壁周向探測 ? h= - r ? ⌒ = tg1 ? ? ? ?22 drKd ??180?r drKd?L ? 特點: hd ⌒ L ? L ? 式中: r為工件內(nèi)半徑。 ? ⌒ ? 設(shè) AE 為厚度為 T的平板工件一次橫波聲程, 為工件上外園面一跨距弧長,則: ? μ= ? m = ABAFAGAC ? ⌒ AE ? 經(jīng)整理得 μ= ? m= ? DTCOSDT/2211 ??????? ?????tgDT ? ? 方法:將人工缺陷(試塊上標(biāo)準(zhǔn)反射體)與工件中自然缺陷回波比較,定出 ? 的缺陷當(dāng)量。 ? 優(yōu)點:直觀,測得當(dāng)量值較明確。 ? △由于實際缺陷的幾何形狀,表面狀況、方向,缺陷性質(zhì)各不相同,其聲吸 ? 收、聲散射比標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則幾何反射體復(fù)雜的多。PPB ?? 平底孔: ? 長橫孔: ? 短橫孔: Lf——短橫孔長, Df——短橫孔直徑。?短XdPP d 4? 考慮材質(zhì)衰減應(yīng)均乘上: e ? 式中: P=2P0Sin ? 在 X3N時 ? P= ? 具體計算: ? 用公式計算:應(yīng)根據(jù)缺陷波高與所定探傷靈敏度比較或和底波高比較,再與探傷靈敏度比較。 ? ② 是否要不同孔型之間相互換算。 ? ④ 用實用當(dāng)量曲線可在曲線上直接查得缺陷當(dāng)量直徑。 ? 特點:由于工件中實際缺陷取向、性質(zhì)、表面狀態(tài)均影響缺陷回波高度。 ? ① 6dB法(半波) ? 適用于: 缺陷只有一個高點 ? 缺陷基本垂直聲束 ? 缺陷沿探頭移動方向基本均勻 ? 缺陷長度大于 聲束截面 ? 指所用波束截面 這里指 6dB波束截 面 ? ② 端點 6dB法:一般將缺陷測大 ? 缺陷有多個高點時,用端部 6dB法即使端部波高下降 6dB。 ? 特點:① 測長是與缺陷最高波多少無關(guān)。 ? 在探頭移動過程中發(fā)現(xiàn)缺陷有多個高點,則將缺陷兩端點最大波高處探頭位置的距離作為端點峰值法指示長度。 ? ③ 對條形氣孔、未焊縫等宜用 6dB法。 ? ④ 對中間粗、兩端細(xì)或細(xì)長缺陷(裂紋、未熔合)用端點法可獲得較好的結(jié)果。 第七節(jié) 缺陷自身高度的測定 ? 一、表面波波高法: ? 利用表面波傳播時遇到深度較小缺陷時反射回波隨深度增加而升高的特點。 2λ,可探測的深度范圍也為 2λ。 ? CR= ? (二) 表面波產(chǎn)生 ? 1. 直接用石英進(jìn)行 Y切割產(chǎn)生。 ~64176。 ? (即透聲楔內(nèi)縱波行程較大。 時有 ? 較強(qiáng)的反射;大于 90176。 ? 表面波傳到棱邊時會產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換,變型波遇到反射面時,同樣 ? 會產(chǎn)生反射回波,形成干擾回波。 ? 4. 表面光潔度和材料組織對表面波傳播影響:粗糙的表面,不但聲耦合不好,而且表面波傳播過程中容易發(fā)生散射,使表面波衰減較大,(傳播方向與機(jī)加工刀痕同向,衰減小些),材料晶粒粗大,且晶粒界面對表面波減衰很大,晶粒越大,衰減作用越大。 ? (直角棱邊槽)與槽的長度和深度有關(guān)。 ? ☆ 因此,表面波波高法只適用于裂紋長度一定時,波高隨著深度增加而增加。則裂紋深度 h=n(TBTA)。將始波調(diào)在 O,記錄直通回波 H在 T1。 2 12 TT ?? 缺點:① 這種方法測量的是裂紋開口處到達(dá)尖端的距離 h’當(dāng)裂紋傾斜時,則 h’h。將探頭垂直對準(zhǔn)工件的一個棱邊,探頭前沿距棱邊 40mm,熒光屏出現(xiàn)棱邊波 B1,將 B1調(diào)在4格。據(jù)實驗:對 ,深度為 開口裂紋用 5MHZ探頭表面波探測(垂直探測),在距離 40mm時比直角棱邊反射波低21dB。 ?tga o?? ka o??oa ?? TF圖49? ② 利用此法測表面未口裂紋高度, 聚焦探頭測效果好 對上端點深度小于 5mm困難 ? 將掃描線按深度 1:1調(diào), h1和 h2分別表示缺陷上、下端點離開探測面距離,可直接在掃描線讀取,則裂紋高度 h: ? h=h2 – h1= ( a為探頭分別探測到缺陷上、下端點時的探測位置處探頭入射點之間的距離,可以在工件上測量出來, k探頭 k值。 ? 當(dāng)橫波探測到下表面開口缺陷時,形成角鏡反射條件,可用角鏡反射法測量: ? 將探傷儀掃描線按深度 1:1調(diào)節(jié),當(dāng)探測面與缺陷不在同一面時使探頭置于表面開口背側(cè),聲束軸線對準(zhǔn)缺陷與下表面直角處(此處角鏡),將此波調(diào)至熒光屏高 80%,此波用 ΔC表示,然后提高靈敏度 15~25dB,探頭向前移動, ? 當(dāng)聲束軸線掃查到開口缺陷頂部時,出現(xiàn)缺陷波反射波 ΔDE,當(dāng) ΔDE達(dá)到最大值聲束軸線完全離開缺陷端點時,在近靠 ΔDE的前方,將出現(xiàn)第一個峰值加波,稱端點衍射波 ΔDW,則開口缺陷自身高度 ΔH=ΔCΔDW,當(dāng)探測面與開口缺陷在同一面上時,只需探測到開口缺陷的下端點,此時 ΔDW位于 ΔDE后方,則缺陷深度 ΔH=ΔDW。 ? ③示波屏只出現(xiàn)一個缺陷波且位置固定不動,出現(xiàn)在半跨距處。此式為近似式,即認(rèn)為 時得出。 Kb239。也可通過 98年練習(xí)中例 3說明。 ? ③ 適用于開口裂紋,且深度 ≥3mm。 ?② 工件材質(zhì):材質(zhì)晶粒引起林狀反射,即材料噪聲,試塊與工件材質(zhì)差異,引起聲速變化,試塊與工件應(yīng)力差異,引起聲速變化使 K值變。 ? ⑤ 工件溫度: ? 工件溫度升高 K值增大。 ? ②測探頭入射值, K值不準(zhǔn)。 ? 2. 耦合偏差及材質(zhì)衰減測量偏差,傳輸損失等。 ? 鑄鋼:易在洗胃口附近產(chǎn)生疏松或縮孔。 ? 點狀缺陷:各個方向探測,缺陷回波差不多,無明顯變化,大多為氣孔、夾渣、夾砂等。在焊縫根部為單面焊未焊透。探頭探測時回 ? 波高度、形狀各不相同。 ? 缺陷波和 B1共存,缺陷較小,可能為單個缺陷波和 B1均很底或消失,可能傾斜形缺陷或疏松等。 ? 二、 61176。 α—— 縱波入射角 ? β—— 橫波反射角。 SL CC?? s i ns i n ???????? oss i ns i ns i n ?????? 得SLCCtg? 三、三角反射回波 ? 直探頭在實心園柱體探測得的遲到反射。 ——表面波及大 K值探頭探傷時出現(xiàn)。 第十一節(jié) 側(cè)壁干涉 ? 縱波探頭靠近側(cè)壁,經(jīng)側(cè)反射的縱波和變型橫波與直接傳播的縱波互相干涉,造成越靠近側(cè)壁,回波反而下降,探頭離開一定位置回波反而上升。 ? ? 這些缺陷有的是鋼水本身產(chǎn)生,如脫氧時加脫氧劑造成,或煉鋼爐混入鋼水中的耐火材料等,這些缺陷在鋼錠中位置沒有一定規(guī)律,故出現(xiàn)在鋼板中位置也無序。其斷面呈白色故稱白點。存在于鋼板表面,偶爾在內(nèi)部。(如工件加工傾斜就不合適)。保證反射底波有足夠數(shù)量,以利探傷觀察。 ? 探傷時調(diào)節(jié)水層厚度,使水層波與某次底波重合。 ? ③ 充水探頭內(nèi)水套管內(nèi)徑必須大于最大水層厚度時聲束直徑。 ? : ? 圖形:當(dāng)鋼板中出現(xiàn)缺陷,則缺陷波出現(xiàn)在鋼板一次波之前,如一次重合法,則缺陷波 ? 在第二次波之前,如二次重合法,則缺陷亦出現(xiàn)在第二次波之前,第三波為鋼板二次波和水層二次波重合。 ? 當(dāng) δ20mm時用 F2評價缺陷減少近場區(qū)影響。 ? ② 平底孔試塊: ? δ20mm,試塊上 Ф5平底孔第一次底波 50%滿幅。 ? d. 平底孔距離按 JB/T47302022標(biāo)準(zhǔn)表 2 CBⅡ 標(biāo)準(zhǔn)試塊要求。 ? 平面位置測定:可根據(jù)直探頭在鋼板上位置畫出在板材表面的位置直接確定。 ② 折迭 ? 在探測面附近時不一定直接產(chǎn)生缺陷波,對底波多次反射波次數(shù)。 ④ 分散夾雜物: ? 缺陷位置無規(guī)律性。 ? (主要測長度即指示長度及面積) ? 在板厚方向尺寸標(biāo)準(zhǔn)中未規(guī)定測。 ? 制造方法:軌制、粘接、堆焊和爆炸。 ? 二、探傷方法: 探頭: Φ14mm~ Φ25mm直探頭或聯(lián)合雙直探頭,縱波檢測頻率: ~5MHZ,一般采用 5MHZ較好。按JB/T47302022標(biāo)準(zhǔn) 。 ? 按 JB/T47302022標(biāo)準(zhǔn) ,也可用鋼板底波來確定缺陷: ? 當(dāng)?shù)谝淮蔚撞ǜ叨鹊陀跓晒馄翝M刻度的 5%,且明顯有未結(jié)合缺陷反射波存在,且波高≥5%,則該部位稱為未結(jié)合區(qū)。lg20lg20 1 ??? ?rrr 39。 ? ? 多個相鄰的未結(jié)區(qū),當(dāng)其最小間距 ≤20mm時,應(yīng)作為單個未結(jié)合區(qū)處理,其面積為各個未結(jié)合區(qū)面積之和。 ? 當(dāng)入射縱波波長 λL和板波波長 λB對應(yīng)時。 ? 板波在薄板中傳播時,遇到板端部或缺陷會產(chǎn)生反射,同時會產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換(即板 ? 波模式波型轉(zhuǎn)換)。 ? 試塊:與板材質(zhì)、板厚相等的板材試塊。 ? 群速度快,易識別缺陷為原則。 ? ② 也可用手拍打缺陷波來確定工件中位置。 ? 穿孔法是將園鋼在軋輥滾軋的同時用穿孔機(jī)穿孔。 ? 電阻焊接管: ? 由經(jīng)熱軋成型的管型卷材送到電阻焊接管成型機(jī)中自動卷成管材,在焊口上通以高頻 ? 電流,產(chǎn)生電阻熱,利用這種熱量焊接口,這種焊口都是直的,又稱直焊管。 ? 管材中的缺陷: ? 無縫鋼管中:有裂紋、折迭、夾層、夾雜和翹皮,內(nèi)壁拉裂等,大多與管軸方向平行, ? 也有重皮缺陷,但形狀不定,對它檢驗也較困難。 ? 橫向裂紋是由軋制過于劇烈,加熱過度或者冷態(tài)加工過多而引起。 ? 二、小口徑管探傷 ? 外徑小于 100mm的管材,大多為無縫鋼管,對平行于管軸的徑向缺陷,即管內(nèi)縱缺陷:可用橫波進(jìn)行周向掃查檢測。 ? ② 考慮管材與探頭相對運(yùn)動的軌跡,相鄰探頭軌跡間距離考慮聲束復(fù)蓋范圍。 ? ② 采用接觸式聚焦探頭。 ? 對比試塊上人工缺陷為尖角槽,角度為 60176。 ? ①探頭不動,管旋轉(zhuǎn)同時作軸向前進(jìn)。 ? ? 斜探頭晶片 10 1 12 14最大不超過25mm。同一塊試塊內(nèi),外表面人工缺陷沿鋼管軸向應(yīng)有足夠的間距,以使調(diào)節(jié)時內(nèi)、外人工缺陷回波容易分辨。 ? 檢測靈敏度一般比上述基準(zhǔn)靈敏度高 6dB。 : ? 實際探傷時,使縱波離開管軸中心一段距離(這段距離稱偏心距 X)垂直入射到管壁中達(dá)到縱波斜入射到壁中的效果。 則 因 ? 這樣 S2次水層波位于 SF外后,辨于觀察和判別缺陷。 ? 則焦距 ? 式中: R——管子外半徑, X——偏心距??墒固筋^不動,鋼管作螺旋運(yùn)動,或探頭沿管子轉(zhuǎn)動,或探頭沿管軸轉(zhuǎn)動,管子作直線前進(jìn)等方式達(dá)到掃查目的。 ? 4.放入有內(nèi)、外壁標(biāo)準(zhǔn)人工槽試塊,使內(nèi)壁槽第一次反射波調(diào)在 3~4格間,第二次反射波調(diào)在 6~8格間。 ? 三、大口徑管探傷: ? 1. 探測方式 ? 直探頭 ? ①縱波垂直探傷 ? 雙晶直探頭 ? 檢測缺陷:與管軸平行缺陷(周向,即平行外表面)。 ? Δ探測時應(yīng)從正反兩個方向檢測。 ? ④水浸聚焦探傷 ? 一般用線聚焦探頭,焦點落管子中心線上,使聲束在管壁內(nèi)多次反射聲束寬基本一致,內(nèi)外壁檢測缺陷基本相同。 ? 四、厚壁管探傷: ? ①管材橫波一次掃查到內(nèi)壁條件: ? t——管壁厚 D——管外徑。 ? 3. 管子壁厚折射橫波在內(nèi)壁上的入射角隨管子壁厚改變而改變,并非像平板固定
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