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《spc基礎篇》ppt課件-預覽頁

2025-11-08 23:47 上一頁面

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【正文】 狀態(tài)上所用的圖解記錄 管制圖 : 知樣本 → 群體 趨勢 UCL CL LCL Vary 先期預防 Prevention Action 改善行動 Corrective Action 持續(xù)改善 Continue Improvement 30 UCL Upper Control Limit ( 管制上限 ) LCL Lower Control Limit ( 管制下限 ) CL Center Control Line ( 管制中心線 ) USL Upper SPECS Limit ( 規(guī)格上限 ) LSL Lower SPECS Limit ( 規(guī)格下限 ) USL LSL LCL CL UCL 3Sigma 31 依據(jù)統(tǒng)計原理訂定抽樣資料的上下管制界限和中心線 ,管制及判斷品質(zhì)的變異 . Few Values are Here 其功能就如同生活中的例子 : Most Values are Here Center Spread 管制上限 管制下限 中心線 X X X X X X X X X 次數(shù)分配表 (分組 /畫記 ) 原始數(shù)據(jù) 32 PROCESS 1 Stable 穩(wěn)定 Part M e a s u r e m e n t PROCESS 2 Unstable 不穩(wěn)定 Part Distribution Distribution M e a s u r e m e n t 管制圖的目的 33 管制圖的原理 ? 管制圖的種類雖然很多 ,但都是以同樣的統(tǒng)計原理為出發(fā)點。 檢討機械、設備等等 提升製程能力 安定狀 態(tài) ? 搜集數(shù)據(jù) 繪製解析用管制圖 管制用管制圖 非安定狀態(tài) 安定狀態(tài) 不滿足 滿足 44 7. 管制圖的計算 (1) 群體平均值 ( μ ) ,標準差 (σ′) 未知 . CLx = X = Σ X K CLR= R = ΣR K UCLR = R + 3σR = D4 R LCLR = R 3σR = D3 R UCLX = X + 3σX = X + A2 R UCLX = X 3σX = X A2 R 45 (2.) 群體平均值 (μ) 及標 準差 ((σ′) 已 知 . CLX = μ UCLX = μ+ 3 σx = μ + 3 √ n * σ′ UCLX = μ 3 σx = μ 3 √ n * σ′ CLR = d2 σ′ UCLR = R + 3 σR= (d2 + 3d3) σ′ UCLR = R 3 σR= (d2 3d3) σ′ 46 n m3d2d3c2c3c4c52 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 n A2A3B3B4D3D4E22 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 *常態(tài)分配統(tǒng)計量抽樣分配常數(shù)表 *計量值管制圖之常數(shù)表 47 8. 計算實例 例題 : 某工廠承製一昆紫銅管應用 X R 管制圖來控制其內(nèi)徑 ,尺寸單位為 m/m,利用下列數(shù)據(jù)表之資料,求得其管制界限並繪圖。 50 9. 管制圖的研判 (一 ) 7點在中心線上或下 51 管制圖的研判 (二 ) 7點向上或向下 2s與 3s間出現(xiàn)較多點時 ASE SPC Rule 53 異常判定準則 UCL CL LCL ? 任一點超出管制線 == Process Shift Notice 有任一點超出管制界限 ,表示過程品質(zhì)已發(fā)生非機遇原因 ,有待調(diào)查及對策 UCL CL LCL ? 連續(xù)七點位於中心線上方或下方 == PSN ? 連續(xù)七點逐步上升或下降 == PSN ?ASE SPEC 62030000899 CL LCL UCL ?當 R值或 s值連續(xù) 7點在中心線下方或持續(xù)下降不須改善行動 54 異常發(fā)生的執(zhí)行步驟 ? 停止製程 ? 調(diào)查異常狀況發(fā)生的原因 ? 執(zhí)行改善行動 ? 讓製程恢復作業(yè) ? 確定改善行動是否有效 55 第 I型誤差與第 II型誤差 良品 不良品判為良品1 ? ?判為不良品? 1 ?判定結(jié)果批或製程? ? 56 誤判 將優(yōu)良之產(chǎn)品誤判不良品 ,以 α 表示 將不良之產(chǎn)品誤判良品 ,以 β 表示 二種誤差均造成損失 , μ 1為原來管制之製程中心 , 後來因其中因其中原因製程變化 ,製程中心自 μ 1→μ 2,但因 μ 2之一部份仍落在原來之管制上下限內(nèi) ,而誤以為係 μ 1而不加處置 ,此為 第二種誤差 (β ), 至於 μ 2之落在原來管制界線之外 ,判定時當不致錯誤 ,因此稱檢出力 . 第一種誤差 (α) 1β= 檢定力 第二種誤差 (β ) UCL LCL 變動後之製程中心 μ 2 μ 1 原來管制之產(chǎn)品製程中心 57 第 I型誤差與第 II型誤差 經(jīng)濟平衡點 (Breaking even point, BEP) 58 Process Capability ? Process capability is the ability of a process to meet specifications. A process must be stable before its capability can be puted. ? A capability index is a statistic that quantifies am
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