六西格瑪測度品質(zhì)培訓(xùn)教材7(1)-全文預(yù)覽
【正文】 cess現(xiàn)實(shí)變化，計(jì)算對應(yīng) ?水準(zhǔn)的缺陷率或不良率時(shí)， Process平均離規(guī)格中心標(biāo)準(zhǔn)偏差的 。 m 1? 3? 平均 規(guī)格界限 ? 測定 Process可以生產(chǎn)多少均一品質(zhì)制品能力的測度。 i dpu e X P = = = ] 0 [ ? 按以上的結(jié)果，可以確認(rèn)下面的等式。 ? 標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)率 (YNor, Normalized Yield) : 表現(xiàn)全體工程的品質(zhì)水準(zhǔn)時(shí)使用的指標(biāo)中的一個(gè)， 在 Process中初期數(shù)率適用幾何平均概念。 ? 初期數(shù)率 (FTY, First Time Yield) : 決定各別工程的品質(zhì)水準(zhǔn)時(shí)使用。 DPU = = = DPMO 總?cè)毕莅l(fā)生機(jī)會數(shù) 總?cè)毕輸?shù) 1,000,000 = DPMO = ? DPMO計(jì)算中心 ? 一般表示 6?水準(zhǔn)時(shí)，比不良率 DPU/DPO/DPMO – 事例 ? 使用互相不同的 Process、 制品之 間或制造領(lǐng)域和非領(lǐng)域之間比較時(shí)更 恰當(dāng)。Six Sigma 測度 (Metrics) Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 2 Rev. Measure Define Analyze Improve Control 方法論 ? Measure 概要 ? Project Y ? 基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì) ? 測定 System 分析 ? Six Sigma 測度 ? 工程能力分析 ? Process Map 特性要因圖 ? FDM Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 3 Rev. Six Sigma 測度 ? 學(xué)習(xí)目標(biāo) 1. 理解 Six Sigma的主要測度 DPU, DPO, DPMO FTY, RTY, YNOR 2. 理解 ? 水準(zhǔn)計(jì)算方法 Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 4 Rev. DPU與 DPMO ? DPO (Defects per Opportunity) ? 每機(jī)會缺陷數(shù) ? DPU (Defects per Unit) ? 每單位缺陷數(shù) ? 為了消除缺陷的基準(zhǔn) ? 工廠單位改善中使用 ? DPMO (Defects per Million Opportunities) ? 每百萬機(jī)會缺陷數(shù) ? 考慮制品復(fù)雜度的比較基準(zhǔn) ? 企業(yè)內(nèi)或企業(yè)之間 Benchmarking手段 Opportunity Defects DPO = 000,000,1yOpport unitDefectDPM O ??Unit Defects DPO = Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 5 Rev. 制品 部品 2 部品 1 組裝品 A 組裝品 B 特性 B 特性 A ? 機(jī)會 (Opportunity) ? 有可能發(fā)生缺陷的檢查或試驗(yàn)對象 ? 發(fā)生缺陷的機(jī)會在特性、部品、組裝品等制品任何階段 都可能存在。 相關(guān)機(jī)械、工具或次序越多， 成為越復(fù)雜的 Process. Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 7 Rev. ? DPU/DPO/DPMO 以下 Drilling加工的例中計(jì)算 DPU與 DPMO. ① Data 類型是 ? ② Unit? ③ Defect? ④ Opportunity? ⑤ DPU? ⑥ DPMO? Proprietary to Samsung Electronics Company Six Sigma 測度 8 Rev.
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