摘要：在掃描電子顯微鏡分析中,對(duì)同一陶瓷樣品如果采用不同的制-全文預(yù)覽
【正文】 定，構(gòu)制平均毛管壓力曲線。 儲(chǔ)集巖分類是評(píng)價(jià)油氣層損害的前提，同一損害因素在不同類型的儲(chǔ)集巖中的表現(xiàn)存在差異。使用壓汞儀測(cè)定巖樣的毛細(xì)管壓力曲線，原理是汞對(duì)大多數(shù)造巖礦物為非潤(rùn)濕，對(duì)汞施加壓力后，當(dāng)汞的壓力和孔喉的毛管壓力相等時(shí)，汞就能克服阻力進(jìn)入孔隙，計(jì)量進(jìn)汞量和壓力，根據(jù)進(jìn)入汞的孔隙體積百分?jǐn)?shù)和對(duì)應(yīng)壓力就得到毛細(xì)管壓力曲線。 此外，薄片分析還用于粘土總量的校正，如泥質(zhì)巖屑的存在可能引起粘土總量的升高，研究中應(yīng)注意區(qū)分。研究地層微粒及敏感性礦物在孔隙和喉道中的位置及與孔喉的尺寸匹配關(guān)系，可以判斷油氣層損害原因，并用于綜合分析潛在的油氣層損害，提出防治措施。 應(yīng)用光學(xué)顯微鏡觀察薄片，由鑄體薄片獲得的資料比較可靠。對(duì)于無(wú)機(jī)和有機(jī)垢的晶體形態(tài)、排布關(guān)系的觀察，還可以為抑垢除垢、篩選處理劑、優(yōu)化工藝措施提供依據(jù)。 油氣層孔喉的觀測(cè) 掃描電鏡立體感強(qiáng)，更適于觀察孔喉的形態(tài)、大小及與孔隙的連通關(guān)系。 粘土礦物的觀測(cè) 粘土礦物有其特殊的形態(tài)（表2—4），借此可確定粘土礦物的類型、產(chǎn)狀和含量。 2．掃描電鏡在保護(hù)油氣層中的應(yīng)用 1）掃描電鏡通常由電子系統(tǒng)、掃描系統(tǒng)、信息檢測(cè)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)五大部分構(gòu)成，它是利用類似電視攝影顯象的方式，用細(xì)聚焦電子束在樣品表面上逐點(diǎn)進(jìn)行掃描，激發(fā)產(chǎn)生能夠反映樣品表面特征的信息來(lái)調(diào)制成象。 二、掃描電鏡 1. 掃描電鏡分析技術(shù) 此外，XRD分析還用于注入和產(chǎn)出流體中的固相分析，明確礦物成分和相對(duì)含量，對(duì)于研究解堵措施很有幫助。應(yīng)該指出，XRD分析不能給出敏感性礦物產(chǎn)狀，所以必須與薄片、掃描電鏡技術(shù)配套使用，才能全面揭示敏感性礦物的特征。表23列出了間層礦物的類型，伊利石/蒙皂石間層礦物、綠泥石/蒙皂石間層礦物較常見(jiàn)。 序 伊利石/ 蒙皂石 云母/蛭石 云母/蒙皂石 綠泥石/蒙皂石綠泥石/蛭石 綠泥石/蒙皂石 綠泥石/蛭石 高嶺石/蒙皂石 注：Di二八面體；Tri三八面體； Ch綠泥石； S蒙皂石； Ve蛭石； 母 綠泥石 高嶺石 二八面體 三八面體 二八面體 三八面體 近程有序 鈉板石 累托石 云母/蒙皂石 云母/蛭石 水黑云母 云母/蛭石 蘇托石 （羥硅鋁石） （DiCh）/S 柯綠泥石（TriCh）/Ve （TriCh）/S 表23 主要間層粘土礦物類型 非膨脹~3 綠泥石 蛭石 伊利石 表22 對(duì)粒徑大于5μm的非粘土礦物部分進(jìn)行XRD分析，可以知道諸如云母、碳酸鹽礦物、黃鐵礦、長(zhǎng)石的相對(duì)含量，對(duì)酸敏（HF，HCl）性研究和酸化設(shè)計(jì)有幫助。地層微粒的分析為礦物微粒穩(wěn)定劑的篩選、解堵措施的優(yōu)化提供依據(jù)。 1）地層微粒分析 粒徑大于2μm或5μm的部分則研磨至粒徑40μm的粉末，用壓片法制片，上機(jī)分析。 由于粘土礦物的含量較低，砂巖中一般3%~15%。XRD分析借助于X射線衍射儀來(lái)實(shí)現(xiàn)，它主要由光源、測(cè)角儀、X射線檢測(cè)和記錄儀構(gòu)成。 1．X射線衍射分析技術(shù) 全巖礦物組分和粘土礦物可用X射線衍射（XRD）迅速而準(zhǔn)確地測(cè)定。 粘土礦物的XRD分析使用定向片，包括自然干燥的定向片（N片）、經(jīng)乙二醇飽和的定向片（再加熱至550℃），或鹽酸處理之后的自然干燥定向片。 地層微粒指粒徑小于37μm（或44μm）即能通過(guò)美國(guó)400目（或325目）篩的細(xì)粒物質(zhì)，它是砂巖中重要的損害因素，砂巖中與礦物有關(guān)的地層損害都與其有密切的聯(lián)系。 4~5 組分 有序度 云 4）間層礦物鑒定和間
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