同濟大學材料研究方法材料研究方法課后習題答案-全文預覽
【正文】 1. 了解各種波長的電磁波對原子（基團）的作用及其相應的光譜分析手段。通常試樣裝填得薄而均勻，可以得到重復性好的實驗結果。6） 熱電偶位置。對于單步吸熱反應，升溫速率慢，起始分解溫度和終止溫度通常均向低溫移動，且反應區(qū)間縮小，但失重百分比一般并不改變。影響因素：1） 熱重曲線的基線漂移：基線漂移是指試樣沒有變化而記錄曲線卻指示出有質(zhì)量變化的現(xiàn)象，它造成試樣失重或增重的假象。4） 用計算機，％。簡述DTA、DSC分析樣品要求和結果分析方法答：DTA分析樣品要求：應選擇熱容量及熱導率和試樣相近的作為參比物； 試樣的顆粒度要求：100目300目（）；試樣的結晶度、純度和離子取代要求：結晶度好，峰形尖銳；結晶度不好，則峰面積要小，純度、離子取代同樣會影響DTA曲線；試樣的用量：以少為原則，硅酸鹽試樣用量：－；試樣的裝填要求：薄而均勻，試樣和參比物的裝填情況一致 ；熱中性體（參比物）：整個測溫范圍無熱反應，比熱與導熱性與試樣相近，粒度與試樣相近（100－300目篩），常用的參比物：α－Al2O3（經(jīng)1270K煅燒的高純氧化鋁粉，α－Al2O3晶型）。 差示掃描量熱分析法就是為克服差熱分析在定量測定上存在的這些不足而發(fā)展起來的一種新的熱分析技術。熱分析的參比物有何性能要求？答：參比物是一定溫度下不發(fā)生分解、相變、破壞的物質(zhì)，要求在熱分析過程中熱性質(zhì)、質(zhì)量、密度等與試樣盡量接近。由于物質(zhì)在加熱或冷卻過程中的某一特定溫度下，往往會發(fā)生伴隨有吸熱或放熱效應的物理、化學變化。盡管物鏡背焦平面上第一幅花樣是由受到入射束幅照的全部樣品區(qū)域內(nèi)晶體的衍射所產(chǎn)生，但只有AB微區(qū)以內(nèi)物點散射的電子波可以通過選區(qū)光闌進入下面的透鏡系統(tǒng)，所以熒屏上顯示的只限于選區(qū)范圍以內(nèi)晶體所產(chǎn)生的衍射花樣，實現(xiàn)了選區(qū)形貌觀察與晶體結構分析的微區(qū)對應性。 當電鏡以成像方式操作時，中間鏡物平面與物鏡像平面重合，熒光屏上顯示樣品的放大圖像。（2）.透射電鏡有三級以上透鏡組成的成像系統(tǒng)，借助它可以提高電子衍射相機長度。電子探針儀與X射線譜儀從工作原理和應用上有哪些區(qū)別？答：電子探針儀的工作原理：莫塞萊(Moseley)定律 λ=K/(Zσ)2 K 為常數(shù) σ 為屏蔽系數(shù) Z 為原子序數(shù)X射線特征譜線的波長和產(chǎn)生此射線的樣品材料的原子序數(shù)有一確定的關系。 電鏡有哪些性質(zhì)，環(huán)境掃描電鏡中“環(huán)境”指什么？1) 用電子束作照明源，顯微鏡的分辨本領要高得多, 分辨本領：２－３nm，可以直接分辨原子，并且還能進行納米尺度的晶體結構及化學組成的分析2) 但:電磁透鏡的孔徑半角的典型值僅為102～103rad3) 幾何像差：由透鏡磁場幾何形狀上的缺陷而造成的4) 色差：由電子波的波長發(fā)生一定幅度的改變而造成的環(huán)境掃描電子顯微鏡(ESEM)中所指環(huán)境并非真正意義上的大氣環(huán)境，與傳統(tǒng)SEM樣品室高達103～106 Torr的真空度相比，ESEM樣品室的真空度很低，從1Torr～20Torr，非常接近大氣環(huán)境，但不等同于平均760Torr的大氣環(huán)境；高分辨電鏡是否指分辨率高的電鏡？答：高分辨電鏡可用來觀察晶體的點陣像或單原子像等所謂的高分辨像。7)峰背比小，一般為100，而波譜儀為1000。3)能譜儀不受聚焦圓的限制，樣品的位置可起伏2～3mm。而波譜儀僅幾十到幾百脈沖/s這樣，在長余輝熒光屏上就形成一幅與樣品表面特征相對應的畫面——某種信息圖，如二次電子像、背散射電子像等。這些物理信號的強度隨樣品表面特征而變。在試樣上相應的兩個物點間距為：Δrs=Rs/M=Csα3 （高斯平面） ， Δr’s=1/4 Csα3 （最小截面圓所在平面）式中，Cs為電磁透鏡的球差系數(shù)，α為電磁透鏡的孔徑半角。一般是在物鏡的背焦平面上放一稱為物鏡光闌的小孔徑的光闌來達到這個目的。因此，要顯著地提高顯微鏡的分辨本領，必須使用波長比可見光短得多的照明源。即使采用油浸透鏡(n=；α一般為70176。sinα或N第3章如何提高顯微鏡分辨本領，電子透鏡的分辨本領受哪些條件的限制？答：分辨本領：指顯微鏡能分辨的樣品上兩點間的最小距離；以物鏡的分辨本領來定義顯微鏡的分辨本領。研究方法的重要性不言而喻。材料研究的主要任務和對象是什么，有哪些相應的研究方法？答：任務：材料研究應著重于探索
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