紅外成像陣列與系統(tǒng)-全文預覽
【正文】 VO和在一起 ， 其比探測率為 109cmHz1/2W1。 1946年 Brattain和 Becker用各種氧化物的焦結(jié)物制成了熱敏電阻輻射計 。 2 .電阻材料 1 . 鐵電 熱電陣列 ? 1880年 ,Langley用惠斯通電橋做了第一個鉑帶輻射計。 1968年 ， Putley討論了主要的噪聲源和熱電環(huán)境下的鐵電探測器的性能限制 。這個理論被進一步地用于商業(yè)上 。 Hamel論述了可以在一個分立測輻射熱計中 ,使用具有對溫度敏感的介電常數(shù)的鐵電體 。 1938年 ， Ta發(fā)現(xiàn)一種熱電晶體 — 電石 ,可以用來作為紅外探測器 。 Kundt實驗： 1920年， Valasek發(fā)現(xiàn)鐵電體的介電性質(zhì)類似于鐵的電磁性質(zhì) ,即在極化區(qū)域曲線有對稱性 .在居里溫度附近可以觀測到大的介電變化，且有高溫的非鐵電效應發(fā)生 . 1930s 發(fā)現(xiàn)了一系列的鐵電晶體（ Busch,Scherrer,1935。 ? 1824年， 電性。 1962年 ， Wade ,Slutsky首次提出了敏感測輻射熱計裝置 ， 使用石英微型諧振腔 （ 第十章 ） 。 1947年， Golay的氣體熱膨脹技術。 1978年 Johnson提出了單片熱成像儀：將熱敏電阻材料層沉積在氣橋 （ airbridges）上 （ 第三章 ） 。 熱成像第一代系統(tǒng)： ? 光伏效應，電子掃描， MCT凝視型陣列，噪聲等效溫度 ℃ 。 法國則找到了一種光伏型方法 。 微光夜視技術忽略的兩個波段： 中紅外 （ 35μ m） 遠紅外 （ 814μ m ） 1960年 ， 光機掃描單個紅外敏感探測器以成像 。 1960s的 MOS 管的發(fā)展 1968年由 Noble描述的 XY地址成像陣列 集成讀出電路 紅外熱成像系統(tǒng)發(fā)展： 于二十世紀二十年代末期 。 熱成像知識基礎 : 黑體輻射的理論基礎； 熱敏感材料的化學性質(zhì)；
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