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20xx年醫(yī)學(xué)專題—放射性核素的探測(文件)

2024-11-15 03:06 上一頁面

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【正文】 )的統(tǒng)計(jì)學(xué)處理,誤差來源:系統(tǒng)誤差、偶然誤差、過失誤差 。平均計(jì)數(shù)N≤10時(shí),它服從泊松分布。 測量結(jié)果表示:N177。,第三十九頁,共五十一頁。ngy242。 ch224。ngjūn)計(jì)數(shù)率 (n)和相對誤差(Fn)。)放射性樣品(Nc)和儀器本底(Nb)計(jì)數(shù)兩部分,樣品的凈計(jì)數(shù)(Ns)為: Ns = Nc Nb,如果tc 和tb 分別為放射性樣品和本底的測量時(shí)間,則樣品的凈計(jì)數(shù)率為:,第四十三頁,共五十一頁。問:其凈計(jì)數(shù)率和標(biāo)準(zhǔn)誤差各是少?,所以,ns = 500 177。,例 ,一個(gè)放射性測量實(shí)驗(yàn),根據(jù)實(shí)驗(yàn)情況要求,樣品 和本底的總測量時(shí)間(sh237。n)所需的測量時(shí)間 給定測量時(shí)相對誤差,計(jì)算滿足不大于這個(gè)相對誤差時(shí)所需要的最短測量時(shí)間。才能滿足實(shí)驗(yàn)要求。)的探測效率為60%,本底不超過40cpm,實(shí)驗(yàn)給定 的總測量時(shí)間T=2min,F(xiàn)ns≦5%,要達(dá)到上述要求,所需樣品最小的放射量是多少? 解:,則所需最小強(qiáng)度(qi225。)寡核苷酸的實(shí)驗(yàn)中所購買的r32P生產(chǎn)標(biāo)定時(shí)的放射性比活度為20106 Bq/ml,在使用時(shí)r32P的放射性比活度需≥5106 Bq/ml。ir243。收集的大于,“氣體放大”。ngli224。閃爍體閃爍的持續(xù)時(shí)間(τ),即發(fā)光衰減時(shí)間要短,第五十一頁,共五十一頁。ngli224。閃爍體閃爍的持續(xù)時(shí)間(τ),即發(fā)光衰減。帶電粒子穿過氣體時(shí),氣體被電離產(chǎn)生電子和正離子。,課堂練習(xí),第五十頁,共五十一頁。)為:,第四十九頁,共五十一頁。,例三:如果某儀器(y237。,最小可測量量的計(jì)算 給定(ɡěi d236。問,樣品和本底的測量時(shí)間各為多少時(shí),測量的標(biāo)準(zhǔn)誤差最?。?第四十六頁,共五十一頁。,測量時(shí)間(sh237。li225。,樣品凈計(jì)數(shù)率的計(jì)算 所有的核探測器都有本底計(jì)數(shù)。,第四十一頁,共五十一頁。ngjūn)計(jì)數(shù)率的標(biāo)準(zhǔn)誤差為:,計(jì)數(shù)率、平均計(jì)數(shù)和平均計(jì)數(shù)率標(biāo)準(zhǔn)誤差和相對誤差(xiānɡ du236。chā)的運(yùn)算,第四十頁,共五十一頁。 N1/2 相對誤差F= σN/N= 177。在放射性測量中N一般都遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于16。 本節(jié)重點(diǎn)介紹涉及在核輻射計(jì)數(shù)測量應(yīng)用中的統(tǒng)計(jì)(偶然)誤差。,第五節(jié) 核計(jì)數(shù)(j236。)測量數(shù)據(jù),注:數(shù)據(jù)(sh249。32P半衰期為14天,問實(shí)驗(yàn)需要在距校定日多少時(shí)間內(nèi)完成實(shí)驗(yàn)? α,β,γ三種射線分別(fēnbi233。,PET發(fā)展史——商品化PET 通用公司,第三十三頁,共五十一頁。,The picture shows twohead SPECT,第三十頁,共五十一頁。)的雙引擎,單光子發(fā)射(fāsh232。uyǐng),三維顯像,第二十七頁,共五十一頁。,Gamma照相機(jī)和它的發(fā)明者H. Anger,1958年,H. Anger和他的同事們共同研制成功了Gamma照相機(jī)。,液體(y232。 未知樣品測量時(shí),可先測出該未知樣品在兩道中的計(jì)數(shù)率,算出道比值,利用道比值在標(biāo)準(zhǔn)曲線上查出探測效率。ngd249。 外標(biāo)準(zhǔn)源道比法,淬滅1,淬滅2,計(jì)數(shù)率,B 無淬滅,A,淬滅1,淬滅2,脈沖(m224。 具體操作步驟是:先測樣品計(jì)數(shù)率(C1);加入已知活度(A)的標(biāo)準(zhǔn)源,并計(jì)數(shù)(C2);確定計(jì)數(shù)效率E。,第十九頁,共五十一頁。相比之下液閃測量 ,多數(shù)樣品需根據(jù)其測量形式進(jìn)
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