spc應(yīng)用工作之控制圖(文件)
【正文】 件的數(shù)量、織物的面積、電線的長度等）要求相等，這樣描繪的 C值將反映 質(zhì)量性能的變化（不合格的發(fā)生率），而不是外觀的變化（樣本容量 n）； b） 記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格數(shù)。來簡化控制界限的計算代替可以用以內(nèi)時均值的當(dāng)子組容量保持在其平inn，25%? 十一、過程能力評價 （一）計量型數(shù)據(jù)的過程能力評價 計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 計算過程能力 評價過程能力 （二）計數(shù)型數(shù)據(jù)的過程能力評價 （一）計量型數(shù)據(jù)的過程能力評價 計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差： （ 1）只要過程的極差和均值兩者都處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，則可用估計的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 來評價過程的能力 。 （畫一張顯示分布曲線， ， ，規(guī)范界限及 Z值的圖是有幫助的）。這是用詳細(xì)的控制圖或過程研究中得到的所有單值讀數(shù)計算出來的。 （ 5） CP： 能力指數(shù) ——容差寬度除以過程能力。 僅用來與 CP和 CPK對比，測量和確定隨時間改進的優(yōu)先順序。 （ 3）推薦圖表分析和過程量度一起使用。 對于 P圖（和所有其他計數(shù)圖）過程能力與計量型的數(shù)據(jù)在觀念上是不同的 。如需要，還 可以用符合規(guī)范的比率（ 1 P） 來表示。 ? C圖 過程能力 ： 過程能力為 C， 即固定容量 n的樣本的不合格 數(shù)平均值。 一 般來說，由于受統(tǒng)計控制的過程服從可預(yù)測的分布，從該分布中便可以估計出符合規(guī)范的產(chǎn)品的比例。 ? 2類過程 ： 是受控過程但存在因普通原因造成的過 大的必須減少的變差。 完 謝謝！ 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。但不是受控過程， 需要識別變差的特殊原因并消除它。 當(dāng)我們討論過程能力時，需考慮兩個在一定程度上相對的概念： （ 1） 過程能力由造成變差的普通原因來確定的，通 常代表過程 本身的最佳性能（例如分布寬度最?。?，在處于統(tǒng)計控制 狀態(tài)下的運行過程，數(shù)據(jù)收集到后 就證明過程能力，而不 考慮規(guī)范對過程的分布位置和 /或分布寬度如何規(guī)定； （ 2） 然而，內(nèi)外部的顧客更關(guān)心過程的輸出以及他們的要求 （定義為規(guī)范）的關(guān)系如何，而不考慮過程的變差如何。 十二、過程控制 過程控制系統(tǒng)的目標(biāo)是對影響過程的措施作出經(jīng)濟合理的決定。 這些連續(xù)的受控的時期子組的 P值是該過程當(dāng)前能 力的更好的估計值。 因此，對于 計數(shù)型控制圖，過程能力 直接定義為 不合格品的平均百分?jǐn)?shù)或比例 。 （ 5）所有的能力評審都是針對單個的過程特性 的， 千萬不要把幾個過程的能力結(jié)果合成 或平均為一個指數(shù)。 以下四個條件是所有能力量度指數(shù)必須滿足的最低條件： a） 產(chǎn)生數(shù)據(jù)的過程處于 統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài) ； b） 過程數(shù)據(jù)的單個 測量值基本上處于正態(tài)分布 ； c） 規(guī)范是以顧客要求為基礎(chǔ)的； d） 存在一種將計算的指數(shù)看成為“真實”的指數(shù)的意愿，即：不考慮 抽樣變差對計算值的影響（例如：僅僅由于抽樣變差 CPK―真值” 為 ,CPK計算值可能是 ,或反之亦然） 。 （ 7） CPK： 說明過程有無偏移的能力指數(shù) ，定義為 CPU或 CPL的最小值。nx， ?112為所有單值讀數(shù)的個數(shù)為單值讀數(shù)的均值為單值讀數(shù)isniixnxxS ????? ?? （ 3） 過程能力 ——僅適用于統(tǒng)計穩(wěn)定的過程，是過程固有變差的 6σ范圍，式中 σ通常由 計算而得。例如： ——Zmin也可轉(zhuǎn)化為能力指數(shù) CPK， 按下式定義： 051 ： ZUSLLSL???????ZLS LUSLPZ值為則總的超出規(guī)范界限的的最小值 Cor 3 PLm in PUPK CZC ?? ， 4 1C， 3PKm inPKm in????其能力指數(shù)的過程其能力指數(shù)的過程ZZ 有關(guān)術(shù)語的說明 （ 1） 過程固有變差 ——僅由普通原因產(chǎn)生的那部分過程變差，可以從控制圖上通過 來估計，也可用其它量（例如： ）。這是由于子組內(nèi)過程的變異性是通過子組的極差來反映的。 主要用來管理單位長度、面積或體積上的缺陷數(shù) （例如：單位紡織品、紙張上疵點，機械類的組裝不良、碰傷疵點，單位長度（面積）上虛焊
范文總結(jié)相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1