無損檢測概論(文件)
【正文】 改表面入射的垂直入射縱波，這樣使聲束軸線與缺陷的主反射面接近垂直。 A，由于波的繞射，使超聲波檢測靈敏度約為 λ /2.因此提高頻率有利于發(fā)現更小的缺陷。 雙晶探頭優(yōu)點 A靈敏度高。 ? T 探頭靜態(tài)實物展示 檢測靈敏度的調整 檢測靈敏度是指在確定的聲程范圍內發(fā)現規(guī)定大小缺陷的能力。靈敏度太高，示波屏上雜波多，缺陷判斷困難。波源軸線上最后一個聲壓極大值至波源的距離稱為近場區(qū)長度，用 N表示。 方法是，根據工件規(guī)格和對靈敏度的要求選擇相應的試塊，將探頭對準試塊上的人工反射體，調整儀器上相關靈敏度旋鈕，使示波屏上人工反射體的最高反射回波達到基準高度。 工件底波調整法只能用于厚度 X≥3N 的工件，同時要求工件具有平行底面或圓柱曲底面，且底面光潔干凈。 一 缺陷位置的確定 二缺陷尺寸的評定在實際檢測中，由于自然缺陷的形狀、性質多種多樣，要通過超聲回波信號確定缺陷的真實尺寸還是比較困難，目前主要是利用來自缺陷的反射波高、沿工件表面測出的缺陷延伸范圍以及存在缺陷時底面回波的變化來評定。在實際檢測是，用規(guī)定的反射體調好檢測靈敏度后，以缺陷回波高度是否高于基準回波高度，作為判定工件是否合格的依據，通過閘門高度的設定，可以進行自動報警與紀錄。因為人工反射體是一個規(guī)則形狀缺陷，且界面反射率較大，通常情況下實際缺陷的實際尺寸要大于當量尺寸。 試塊對比法的優(yōu)點是明確直觀，結果可靠，又不受近場區(qū)限制，對儀器對水平線性和垂直線性要求也不高，因此，對于要求給缺陷回波幅度準確定量的重要工件或要在 X3N情況下給缺陷定量時常采用試塊對比法。其應用前提是缺陷位于 3N以外。 2）缺陷表面粗糙度的影響：對于粗糙表面的缺陷，當聲波垂直入射時，聲波散亂反射，同時各部分反射波由于有相位差而產生干涉，使回波波高隨粗糙度的增大而下降。 5）缺陷性質的影響 超聲成像方法 2）超聲成像方法 就是利用超聲波獲得物體可見圖像的方法。 B、 C、 D顯示大致原理 A掃描顯示中，示波管的電子束是振幅調制的，若將示波管的電子束做強度調制，即用熒光屏上的每一點代表被檢出工件某個截面上的一點，而用該點的亮度大小代表從工件內對應點測得的回波振幅大小，就得到 B、 C、 D顯示方式。 由兩張視圖及附加圖可大致估計焊縫中缺陷的形狀呵空間位置。 超聲相控陣技術的基本思想來自于 雷達 電磁波相控陣技術。 常規(guī)超聲探傷特點 一次只能單一角度的超聲波發(fā)射和接收 扇形掃描成像 相控陣可實現多種掃描成像，如前所述 B、 C、 D掃描成像，較為特殊的是還可形成 S掃描成像，即在某一入射點形成一定角度的扇形掃查范圍，又稱扇形掃描成像。當各陣元被同一頻率的脈沖信號激勵時，它們發(fā)出的聲波是相干波，即空中一些點的聲壓幅度因為聲波同相疊加而得到增強，另一些點的聲壓幅度由于聲波的反相抵消而減弱，從而在空間中形成穩(wěn)定的超聲場（充滿超聲波的空間），超聲相控陣換能器的結構是由多個相互獨立的壓電晶片組成陣列，每個晶片稱為一個單元，按一定的規(guī)則和時序用電子系統(tǒng)控制激發(fā)各個單元，使陣列中的給個單元發(fā)射的超聲波疊加形成一個新的波陣面， 同樣接受反射波時，按一定的規(guī)則和時序控制接收單元并進行信號合成和顯示。確定正確的顯示閥值通常要依靠經驗的積累。 P掃描顯示時，在兩個視圖的下方有一個附加的顯示圖。一般而言，超聲成像方法是基于 A型顯示形成的工件不同截面的圖像顯示，大都具有自動數據采集、自動數據處理，部分還具有自動做出評價的功能。所以實際檢測中盡量避免在近場區(qū)中檢測。 缺陷指示長度測定的原理是：當聲束整個寬度全部入射到大于聲束截面的缺陷上時，缺陷反射波幅為其最大值，當聲束一部分離開缺陷時，缺陷反射面積減小，回波幅度降低，完全離開時，缺陷回波不在顯現，這樣，就可以根據缺陷最大回波高度降低 情況和探頭的移動距離來確定缺陷的邊緣或長度。造價較高。 試塊對比法給缺定量時，要保持檢測條件相同，即所用試塊材質 、表面粗糙度和形狀等都要與被檢工件相同或相似，試塊中平底孔的埋藏深度與缺陷的埋藏深度相同，并且所用儀器、探頭和對探頭施加的壓力也要相同。如果兩者埋藏深度相同，反射波高相等，則稱該人工反射體的反射面尺寸為缺陷的當量尺寸。 （ 1)缺陷回波高度法 在確定的檢測條件下，缺陷尺寸越大，反射聲壓就越大，對于垂直線性好的儀器，聲壓與回波高度成正比，因此，缺陷的大小可以用缺陷的回波高度來表示。缺陷評定的內容主要是缺陷位置的確定和缺陷尺寸的評定。 工件底波調整法調整靈敏度是根據工件底面回波與同深度的人工缺陷（如平底孔）回波分貝差為定值的原理進行的，其定值由相關理論公式，輸入檢測缺陷當量 、 聲波類型波長和被檢工件規(guī)格等計算出來。因此盡可能避免在近場區(qū)檢測定量。 調整靈敏度的常用方法有試塊調整法和工件底波調整法兩種 。 調整靈敏度的目的在于發(fā)現工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷定量。 C工件中近場區(qū)長度小。 中棒作業(yè)區(qū)小規(guī)格直徑圓鋼及扁鋼手工接觸法檢測選擇單晶縱波直探頭主要缺點和選擇雙晶縱波探頭優(yōu)點。 為了保證檢測面能提供良好聲耦合，進行超聲波檢測前應進行目視檢查工件表面，去除氧化皮 、 毛刺等。當為水時，稱為水浸法 。 水可以作為耦合劑，但容易流失，有時不易潤濕工
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