【正文】 1Pa） 中 心 線 CL = nPa 管制上限 LCL=nPa3* nPa*（ 1Pa） 2）平均缺點數(shù) ﹐ 管制上下限及中心線的計算 C1+C2+C3+… +Ck 平均缺點數(shù) Ca = k 注 ﹕C1﹐C2﹐C3﹐ … ﹐Ck 表示每一個檢驗批的 缺點數(shù) ﹐ k表示檢驗 批組數(shù) 管制上限 UCL =Ca +3* Ca 中心線 CL = Ca 管制上限 LCL =Ca 3* Ca 二、各制程之 SPC運用 SMT制程 名詞： PPM(百萬分之一 ) DPPM (百萬分之 不 良數(shù) ) 公式：不良點數(shù) /總點數(shù) *1000000 例： 6月 7日生產(chǎn)之機種：單片點數(shù)為 61點， SMT爐後出錫第一節(jié)：產(chǎn)量為 2023PCS，不良點數(shù)為 (偏移 2點、少錫 1點、其它 5點 )8點， DPPM為？ 解：不良點數(shù) =8 總點數(shù) =61*2023=122976 DPPM=8/122976*1000000=65DPPM 製程種類 / P r o c e s s T y p e : 口 口1 2 3 4 5 6 1 2 3 4 5 6 1 2 3 4 5 6 1 2 3 4 5 6 1 2 3 4 5 6 1 2 31256 2464 2536 2023 2296 2200 2312 2256 2328 2424 1664 2200101 101 101 61 61 61 61 61 61 61 61 61空焊 3 5 2立件 16 20短路 12 20 8偏移 2 2少錫 1多膠其他 20 5 3 215 91 30 8 0 0 10 4 8 0 0 0118 366 117 65 0 0 71 29 56 0 0 0註 : 紅膠板管制界線為 1 0 0 P P M 。T Y )合計數(shù)量( T o t a l )直通不良數(shù)( F a i l Q 39。T Y )合計數(shù)量( T o t a l )直通不良數(shù)( F a i l Q 39。 3. 靠此種管制圖有時無法尋求事故發(fā)生之 真正原因 。 計數(shù)值管制圖 1. 生 産 完成後﹐才加以抽樣﹐ 並將其分良品與不良品 ﹐因此實際所需之資料﹐能以簡單的檢查方法得之。 解 T=USL – LSL=4 T 4 早班之 Cp= = =2 .5 屬於 A 級 6 ? 2 * 晚班之 Cp= T / 6 ? =4 /2*1. 5= 1. 33 3 屬於 B 級 夜晚之 Cp= T / 6 ? =4 /2*1. 8= 1 屬於 C 級 ( 三 ). 制程能力綜合指數(shù) cpk 1) 綜合指數(shù) CpK 制程平均值 與 規(guī)格中心值 其 分散寬度 與 偏離程度 , CpK 值越大( Cp ) , 表示制程能力越強 。 3 ? = 31 177。 2mm , 昨日三班生產(chǎn)實際狀況分別為早班 Xbar 177。 。 之一致性 平均值 規(guī)格中心值 C a = 100 ％ 規(guī)格公差的一半 ＝ (Xbar 181。 統(tǒng)計製程管制 (SPC) 內(nèi)容介紹： 一 .SPC基本知識介紹 二 .制程能力分析 評估 三 .各制程之 SPC運用 一 .SPC基本知識介紹 (一 ).品質(zhì)管制的演進 (二 ).SPC起源及定義 (三 ).SPC實施步驟 (四 ).制程能力概念 (五 ).統(tǒng)計用語 (六 ).機率與常態(tài)分配 ( 一 ). 品質(zhì)管制的演進 第一階段 作業(yè)員的品管 1900 年以前 第二階段 領(lǐng)班的品管 1900~1920 年 第三階段 檢驗員的品管 1920~1940 年 第四階段 統(tǒng)計的品管 (SPC) 1940~1960 年 第五階段 全面品管 (TQM) 196 0 年以後 ( 二 ). SPC 起源及定義 1. 起源： 1924 年美國 Bell Te le phone La b 公司 w art將概率論與數(shù)量統(tǒng)計的原理和方法應(yīng)用在品質(zhì)管理上 。 若制程穩(wěn)定，可透過制程能力分析、改善措施與標準化，以不斷提升制程能力 . (三 ).SPC實施步驟 (四 ).制程能力概念 處於穩(wěn)定狀態(tài)下的制程實際加工能力 ： 1）産品質(zhì)量是否穩(wěn)定 . 2）産品質(zhì)量精度是否足夠 . 3. 影響制程能力的因素 1) 設(shè)備方面：穩(wěn)定性，可靠性 2) 材料方面：材料規(guī)格及重量 3) 操作者方面：人員的訓(xùn)練程度，責(zé)任心 . 4) 環(huán)境方面：照明，現(xiàn)場污染程度，溫度 . 5) 工藝方面：工藝參數(shù)，作業(yè)指導(dǎo)書 ( 五 ). 統(tǒng)計用語 1. 平均值 X: 資料數(shù)總和除以資料個數(shù) 2. 極差 R: 一群或一組資料中 , 最大值與最小值之差距 ( 全距 愈 小愈好 ) 3. 標準差 ? : 每一個數(shù)與平均數(shù)之間偏差的計算 ( 愈小愈佳 ) ?3??2?1x?1??23% % % 標準差 CPK 值 不良率 1 ? 0 . 3 3 3 1 . 7 4 % 2 ? 0 . 6 7 4 . 6 4 % 3 ? 1 . 0 0 . 2 7 % 4 ? 1 . 3 3 0 . 0 0 6 % ( 六 ). 機率與常態(tài)分配 1 ). 情報構(gòu)成要素 a. 集中趨勢 ( X 作代表 ) b. 離中趨勢 ( ? 作代表 ) c. 含蓋在特定範圍內(nèi)的 機率 ( 常態(tài)分配 ) 百分比 2) 標準差 ,CP K, 不良率三者之關(guān)係 二 .制程能力分析 評估