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【正文】 廠內(nèi)現(xiàn)有客戶： 19家，僅 4家導(dǎo)入電子工單真因真因主題選定活動計劃現(xiàn)況分析目標設(shè)定要因分析真因驗證對策實施效果確認 標準化對策擬定殘留問題下期主題17真因驗證 4問題點 要因 真因驗證過程 結(jié)論辨識度不足光源不足驗證期間： 2023/08/M~2023/09/M驗證人員：張立宗驗證方式：觀察法 +實驗法 +訪談法驗證結(jié)果發(fā)現(xiàn)：與線上人員訪談異常批皆集中於特定產(chǎn)品型號，而非特定機臺，故以此判定為前製程作業(yè)造成 WAFER 辨識不佳驗證經(jīng)過：、產(chǎn)品型號 非真因非真因S 客戶特定型號 ID 不清楚 正常 ID主題選定活動計劃現(xiàn)況分析目標設(shè)定要因分析真因驗證對策實施效果確認 標準化對策擬定殘留問題下期主題18真因驗證 5問題點 要因 真因驗證過程 結(jié)論生產(chǎn)參數(shù)未跟隨DEVICE驗證期間： 2023/08~2023/09驗證人員：張立宗驗證方式：實驗法 +數(shù)據(jù)法驗證結(jié)果：因客戶特殊需求造成人員在設(shè)定參數(shù)時混淆不清，且確認部分生產(chǎn)參數(shù)未跟隨DEVICE 需人員手動修改驗證經(jīng)過：真因真因主題選定活動計劃現(xiàn)況分析目標設(shè)定要因分析真因驗證對策實施效果確認 標準化對策擬定殘留問題下期主題19真因驗證 6問題點 要因 真因驗證過程 結(jié)論磁片問題品質(zhì)不佳驗證期間： 2023/05~2023/09驗證人員：張玉玲驗證方式：實驗法 +數(shù)據(jù)法驗證結(jié)果：2023年四月配合公司政策 COST DOWN更換磁片供應(yīng)商之後，發(fā)現(xiàn)因磁片問題退貨批數(shù)增加且部分磁片未使用即報廢，故判定為真因驗證經(jīng)過：商磁片異常情形 真因真因主題選定活動計劃現(xiàn)況分析目標設(shè)定要因分析真因驗證對策實施效果確認 標準化對策擬定殘留問題下期主題20組員共 7位每人針對每一個對策、特性皆可投一票， 3分最高， 1分最低將各單項分數(shù)總和為評價分數(shù)，總分 63分以上，選取為對策 主題選定活動計劃現(xiàn)況分析目標設(shè)定要因分析真因驗證對策實施效果確認 標準化對策擬定殘留問題下期主題21問題點：該 HOLD未 HOLD對策內(nèi)容對策實施效果確認標準化PDA C 短期對策：2. CPDT QC檢驗卡關(guān)項目簡化長期對策：系統(tǒng)化卡關(guān)實施日期： 2023/10 HOLD貨批，結(jié)批人員開立異常單時僅開立指定扣押 自動開單系統(tǒng) (預(yù)計 2023上線 )資料來源： LCD AAT日報表改善前：核對項目多，開單項目複雜改善中：簡化開單流程及查檢項目標準化：待 CPDT自動開單系統(tǒng)上線列 入標準化作業(yè)主題選定活動計劃現(xiàn)況分析目標設(shè)定要因分析真因驗證對策實施效果確認 標準化對策擬定殘留問題下期主題22改善後改善前主題選定活動計劃現(xiàn)況分析目標設(shè)定要因分析真因驗證對策實施效果確認 標準化對策擬定殘留問題下期主題所有異常項目皆須開立 (3大項)僅開立指定扣押即可 (僅 1項 )23問題點：系統(tǒng)問題對策內(nèi)容對策實施效果確認標準化PDA C Monitor System卡關(guān) Future wait設(shè)定取代異常單卡關(guān)訊息 測試時比對進站程式、溫度 setup file不符即無法生產(chǎn) future wait 強制貨批無法出站續(xù)流程實施日期： 2023/08資料來源： LCD AAT日報表主題選定活動計劃現(xiàn)況分析目標設(shè)定要因分析真因驗證對策實施效果確認 標準化對策擬定殘留問題下期主題列入標準化24CP 測試時比對進站程式、溫度 setup file不符，機臺強制停機無法生產(chǎn)YOGOGAWA ND1改善對策： Online Monitor System卡關(guān)改善對策： Futrue Wait 設(shè)定取代異常單卡關(guān)提示訊息，強制人員無法過站續(xù)流程提示訊息 強制執(zhí)行主題選定活動計劃現(xiàn)況分析目標設(shè)定要因分析真因驗證對策實施效果確認 標
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