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品管七大手法(2天)(文件)

2025-02-06 13:23 上一頁面

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【正文】 管制圖的判別 一般管制圖上的點(diǎn)一般管制圖上的點(diǎn) ,25點(diǎn)中有點(diǎn)中有 0點(diǎn)點(diǎn)。100點(diǎn)中點(diǎn)中 點(diǎn)的排列方法沒有習(xí)性 ,呈隨機(jī)現(xiàn)象 .在正常管制的狀態(tài)下 ,管制圖上的點(diǎn)子應(yīng)是隨機(jī)分布 ,在中心線的上下方約有同數(shù)的點(diǎn) ,以中心線近旁為最多 ,離中心線愈遠(yuǎn)點(diǎn)愈少 ,且不可能顯示有規(guī)則性或系統(tǒng)性的現(xiàn)象 .歸納得到下面兩種情形 : ?1. 管制圖的點(diǎn)沒有逸出界外 .l=P管制圖如下管制圖如下 :UCL=UCL=UCL=針對管制圖進(jìn)行分析針對管制圖進(jìn)行分析由管制圖中我們可以發(fā)現(xiàn)來自樣本 12及 25的兩點(diǎn)超出管制上限 ,故制程是在非管制狀態(tài) ,必須進(jìn)一步探討是否有異常原因 .分析樣本 12得知 ,在這半小時里 ,有一批新進(jìn)的包裝袋被使用 ,所以這異常的現(xiàn)象是由于新原料加入引起 .而在樣本 25那半小時 ,有一個沒有經(jīng)驗(yàn)的員工在操作此機(jī)器 ,而使樣本 25有這么高的不良率 . 現(xiàn)在將超出管制界限的兩個點(diǎn)刪除掉 ,重新計算管制界限 ,管制以后的制程 ,其管制中心線及上 .下限為3樣本數(shù) 不良數(shù) 樣本數(shù) 不良數(shù) 樣本數(shù) 不良數(shù)1 8 11 5 21 102 16 12 24 22 183 9 13 12 23 154 14 14 7 24 155 10 15 13 25 266 12 16 9 26 177 15 17 6 27 128 8 18 5 28 69 10 19 13 29 810 5 20 11 30 10計算結(jié)果如下計算結(jié)果如下 :平均不良率 P=在管制圖中有第 16個及第 23個樣本組的點(diǎn)分別超出管制上限及管制下限 ,表示制程平均發(fā)生變化 ,而 R管制圖并無點(diǎn)超出界限或在界限上 ,表示制程變異并未增大 .七、 控制圖的制作步驟– 計 算總平均– K(為組數(shù) ) – 計 算極差的平均 R– 計 算控制界限l X控制圖 :中心線 (CL)=l 控制上限 (UCL)=l 控制下限 (LCL)=l R控制圖 :中心線 (CL)=l 控制上限 (UCL)=l 控制下限 (LCL)=l 之值 ,隨每組的樣本數(shù)不同而有差異 ,但仍遵循三個標(biāo)準(zhǔn)差的原理計算而得 ,今已被整理成常用系數(shù)表。– 收集 100個以上數(shù)據(jù) ,依測定的先后順序排列。l u控制圖。所以在樣本大小相同的情況下,用此圖比較方便。 用于控制對象為不合格品率或合格品率等計數(shù)值質(zhì)量指標(biāo)的場合。lXRm 控制圖。 此圖與 XR圖相似,只是用標(biāo)準(zhǔn)差圖 (S圖 )代替極差圖 (R圖 )而已??刂茍D 控制圖 利用控制限區(qū)分是否為非機(jī)遇性第八章 控制圖六、控制圖的類型l 按控制圖的用途分類– 分 析用控制圖– 控制用控制圖l 控制圖根據(jù)質(zhì)量數(shù)據(jù)的類型可分為:– 計量值控制圖– 計數(shù)值控制圖l 根據(jù)所控制質(zhì)量指標(biāo)的情況和數(shù)據(jù)性質(zhì)分別加以選擇。三、管制圖的誕生 Shewhart博士的理論說:每一個系統(tǒng)都有很多變異的來源,我們可以通過管制圖從隨機(jī)(共同原因)或非隨機(jī)(特殊原因)原因所產(chǎn)生的變異中,作出正確的選擇--當(dāng)有一點(diǎn)落在管制界限外的時候,該尋找那些特殊原因。)三、管制圖的誕生 Shewhart博士知道,第一種錯誤可以完全杜絕,只要永遠(yuǎn)不停產(chǎn)就行了。三、管制圖的誕生兩種錯誤第一種錯誤:以為是特殊原因引起的結(jié)果,其實(shí)卻是變異的共同原因造成的。 ”他們大規(guī)模的生產(chǎn)產(chǎn)品,因此產(chǎn)品的品質(zhì)非常關(guān)鍵。二、控制圖的發(fā)展l 控制圖是 1924年由美國品管大師 Shewhart博士發(fā)明。4 CP≧ 格 理想狀態(tài), 繼續(xù)維持 。S U合 2 CP≧ SLS U太 S L3( 標(biāo)準(zhǔn)偏差 )Cpk為 Cpu和 Cpl中 較小的值第七章 直方圖l 單側(cè)規(guī) 格– 上限規(guī)格– 下限規(guī)格(上限規(guī)格 )—( 平均值 )3( 標(biāo)準(zhǔn)偏差 )(平均值 )—( 下限規(guī)格 )3( 標(biāo)準(zhǔn)偏差 )第七章 直方圖No. CP 分布與規(guī)格的關(guān)系 過程能力判斷 處 下限下限 上限上限 ,或規(guī)格訂得不合理 ,根本無法達(dá)到規(guī)格 .四四 .與規(guī)格值或標(biāo)準(zhǔn)值作比較與規(guī)格值或標(biāo)準(zhǔn)值作比較 :制品良好 ,能力足夠 .制程能力在規(guī)格界限內(nèi) ,且平均值與規(guī)格中心一致 ,平均值加減 4倍標(biāo)準(zhǔn)差為規(guī)格界限 ,制程稍有變大或變小都不會超過規(guī)格值是一種最理想的直方圖 .可分偏右型、偏左型。一定有異常原因存在,只要去除,就可滿足過程要求,生產(chǎn)出符合規(guī)格的產(chǎn)品。l 結(jié)論:原因?yàn)閿?shù)據(jù)經(jīng)過全檢,或過程本身經(jīng)過全檢,會出現(xiàn)的形狀。 不正常的分配,由于測定值或換算方法有偏差,次數(shù)分配不妥當(dāng)所形成。B設(shè)備20 179 168 165 183 156 148 165 152 161168 188 184 170 172 167 150 150 136 123169 182 177 186 150 161 162 170 139 162179 160 185 180 163 132 119 157 157 163187 169 194 178 176 157 158 165 164 173173 177 167 166 179 150 166 144 157 162176 183 163 175 161 172 170 137 169 153167 174 172 184 188 177 155 160 152 156154 173 171 162 167 160 151 163 158 146165 169 176 155 170 153 142 169 148 155解解 : 194,最小值為最小值為 119 根據(jù)經(jīng)驗(yàn)值取組數(shù)為根據(jù)經(jīng)驗(yàn)值取組數(shù)為 10 組距組距 =(194119)/10= 取取 8 最小一組的下組界最小一組的下組界 =最小值最小值 測定值之最測定值之最 小位數(shù)小位數(shù) /2 =1191/2= 最小一組的上組界最小一組的上組界 =下組界下組界 +組距組距 =+8=n1=– 填入必要事項(xiàng):產(chǎn)品名稱、工序名稱、時間、制作日期、制作者。– 橫軸與縱軸各取適當(dāng)?shù)膯挝婚L度。2=第六組 =(+)247。2=第二組 =(+)247。 最大值用 “□” 框起來,最小值用 “○” 框起來 EX: 138 142 148 145 140 141139 140 141 138 138 139144 138 139 136 137 137131 127 138 137 137 133 140 130 136 128 138 132145 141 135 131 136 131 134 136 137 133 134 132135 134 132 134 121 129137 132 130 135 135 134136 131 131 139 136 135第七章 直方圖l 步驟 3:求極差 (R)數(shù)據(jù) 最大值 (L)減 最小值 (S)=極 差 (R) 例: R=148121=27l 步驟 4:決定組數(shù):一般可用數(shù)學(xué)家史特吉斯 (Sturges)提出的公式,根據(jù)測定次數(shù) n來計 算組數(shù) k, 公式為: k=1+ log n第七章 直方圖l 例: n=60 l 則 k=1+ log 60=1+()=l 即約可分為 6組或 7組l 一般對數(shù)據(jù)的分組可參照下表:l 例:取 7組第七章 直方圖l 步驟 5:求組距 (h)– 組 距 =極差 247。收集數(shù)據(jù)時,對于抽樣分布必須特別注意, 不可取部分樣品 ,應(yīng)全部均勻地加以隨機(jī)抽樣。矩形的高為數(shù)據(jù)落入各相應(yīng)區(qū)間的頻數(shù)。5. 須填上資料的收集地點(diǎn)、時間、測定方法、制作者等項(xiàng)目。3. 準(zhǔn)備座標(biāo)紙,劃出縱軸、橫軸的刻度,計算組距。此時,可以通過控制 x而控制 y的變化。此時,只要控制住 x, y也隨之被控制住了 .二、散布圖分類XY0二、散布圖分類 ,這個時候 X增加 ,一般 Y也會曾加 ,但非絕對性 ,也就是就 X除了受Y的因素影響外 ,可能還有其它因素影響著 X,有必要進(jìn)行其它要因再調(diào)查 ,這種形態(tài)叫做似有正相關(guān)稱為弱正相關(guān)第六章 散布圖一、定義 就是將互相有關(guān)連的對應(yīng)數(shù)據(jù) ,在方格紙上以縱軸表示結(jié)果 ,以橫軸表示原因 。掌握重要原因 ← 比較 ← 層別l第五章 層別法 . QC七大手法中的柏拉圖 .查檢表 .散布圖 .直方圖和管制圖都必須以發(fā)現(xiàn)的問題或原因來作層別法 . 例如制作柏拉圖時 ,如果設(shè)定太多項(xiàng)目或設(shè)定項(xiàng)目中其它欄所估的比例過高 ,就不知道問題的重心 ,這就是層別不良的原因 .別外直方圖的雙峰型或高原型都有層別的問題 .層別法就是針對部門別層別法就是針對部門別 .人別人別 .工作方工作方法別法別 .設(shè)備設(shè)備 .地點(diǎn)等所收集的數(shù)據(jù)地點(diǎn)等所收集的數(shù)據(jù) ,按照按照它們共同的特它們共同的特 征加以分征加以分 類類 .統(tǒng)計的一種統(tǒng)計的一種分析方法分析方法 .也就是為了
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