【正文】 的目檢，對(duì)外觀不良的主板刷入FLEX SFC系統(tǒng),并填寫報(bào)表，PASS品刷入FLEX SFC系統(tǒng)后流至下站別. S1面檢驗(yàn)項(xiàng)目：CNLVDS1,CNLID1,CNKB1,CNSPK1,CNTP1,CNBT1, CNCAM1CNFA1,CN1. 檢驗(yàn)是否有損件,下陷,PIN歪,異物,反向等不良現(xiàn)象b. SW 類: SW1,SW2,SW3. 檢驗(yàn)是否有損件,按件不良,異物,反向等不良現(xiàn)象.c. 彈 片 類: ME1,ME2,ME17,ME16,ME3,ME4,ME14,ME8,ME10,ME13. 檢驗(yàn)是否有缺件,撞件,反向等不良現(xiàn)象CNLVDS1SW2CNBT1CNTP1CN1CNFAN1CNSPK1SW3ME13ME10SW1ME8ME14ME3ME4CNKB1ME16ME2CNCAM1CNLID1ME17ME1 圖43 S1面檢驗(yàn)項(xiàng)目 S2面檢驗(yàn)項(xiàng)目a. Conn類: CNMIC1,CNSPK1,CNCARD1,CNUSB2,CNUSB1,CNHDMI1, CNRGB1,CNWLAN1,CNRJ45,CNADP1,CNSATA1,CNWWAN1, CNBAT1,CNDB1,CNRTC1 檢驗(yàn)是否有損件,下陷,PIN歪,異物,反向等不良現(xiàn)象b. 彈片類:ME11,ME12,ME7 檢驗(yàn)是否有缺件,撞件,反向等不良現(xiàn)象.c. BGA類:U20,U21,U22 芯片晶體是否有損件,破裂等不良現(xiàn)象.CNRJ45ME7ME11ME12CNWWAN1CNDB1U20U21CNCARD1CNRGB1CNUSB2CNUSB1CNHDMI1CNRTC1CNSPK1CNWLAN1CNMIC1CNSATA1CNADP1CNBAT1U22 圖44 S2面檢驗(yàn)項(xiàng)目5 F/T(Function Test) 測(cè)試程序MAL LQC目檢外觀合格的主板會(huì)流至測(cè)試階段，測(cè)試階段是外加內(nèi)存，網(wǎng)卡，網(wǎng)口，HDD，LCD等一些治具對(duì)主板進(jìn)行各個(gè)功能的測(cè)試。 測(cè)試治具的認(rèn)識(shí) 藍(lán)牙（Blue tooth） 內(nèi)存 （ RAM） 無線網(wǎng)卡（WLAN） 觸控板（TOUCH PAD） 風(fēng)扇（FAN） 喇叭（Speaker） 硬盤（HDD） 中央處理器（CPU） 圖51 測(cè)試治具 拆裝測(cè)試治具步驟a. 雙手從流水線上取主板，平放到裝載板上，在主板上插上網(wǎng)卡，內(nèi)存，電源接口，網(wǎng)口，USB/B排線等，如圖52b. 把主板放在測(cè)試平臺(tái)上，然后插上攝像頭，觸控板排線，鍵盤排線，喇叭排線，LED/B小板排線，Sensor/B小板排線，LCD排線，風(fēng)扇排線，USB/B排線等，如圖53c. 合上測(cè)試治具的上蓋，同時(shí)將固定在HDD模組上的HDD轉(zhuǎn)接板插入主板內(nèi)，合上電池就可按照測(cè)試軟件需要的正常測(cè)試流程進(jìn)行測(cè)試如圖54amp。程式會(huì)自動(dòng)測(cè)試LCD EDID（如圖515）,PASS后會(huì)自動(dòng)測(cè)試下一項(xiàng)測(cè)試 圖515 LCD EDID測(cè)試畫面 WINDOWS系統(tǒng)測(cè)試程序 系統(tǒng)組態(tài)測(cè)試 a. DOC系統(tǒng)測(cè)完后會(huì)自動(dòng)切換進(jìn)入WINDOWS系統(tǒng)，進(jìn)入WINDOWS系統(tǒng)后雙擊桌面上的“TPMU1_R”進(jìn)行測(cè)試 b. 測(cè)試程序會(huì)自動(dòng)進(jìn)行（如圖516） c. 測(cè)試不良如圖517，測(cè)試PASS后系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)測(cè)試下一個(gè)項(xiàng)目 圖516 系統(tǒng)組態(tài)測(cè)試PASS 圖517 系統(tǒng)組態(tài)測(cè)試FAIL 無線網(wǎng)卡/WWAN測(cè)試系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)對(duì)其測(cè)試，PASS后會(huì)自動(dòng)測(cè)試下一個(gè)項(xiàng)目（如圖517）圖517 無線網(wǎng)卡及WWAN測(cè)試PASS 音效測(cè)試 a. 在Windows下，先把音頻回路線插入耳機(jī)和麥克風(fēng)接口，執(zhí)行測(cè)試程式，程式將自動(dòng)測(cè)試錄音和靜音功能（如圖518） b. 然后拔下音頻回路線，確認(rèn)左右聲道有無雜音，無聲音等異常狀況，如果有則判不良，如圖519 圖518 音效測(cè)試畫面 圖519 音效測(cè)試FA 鍵盤觸控按鍵測(cè)試a. 執(zhí)行鍵盤測(cè)試程序出現(xiàn)圖520畫面b. 測(cè)試鍵盤時(shí)要一個(gè)鍵一個(gè)鍵的按過，注意不能有串鍵現(xiàn)象，按鍵顏色全部變?yōu)榫G色，則表示測(cè)試通過(如圖521)，反之表示測(cè)試失敗(如圖522)c. 測(cè)試觸控板功能時(shí)，先要按T/P鎖定鍵，燈會(huì)變成紅色，如果此時(shí)的觸控板能動(dòng)則為不良d. 打開鎖定鍵，燈會(huì)變成白色，將圖中的每個(gè)鍵點(diǎn)綠表明鍵盤，觸控板功能測(cè)試OK 圖520鍵盤觸控按鍵測(cè)試畫面 圖521 鍵盤觸控按鍵測(cè)試PASS 圖522 鍵盤觸控按鍵測(cè)試FAIL LED Test a. 出現(xiàn)圖523時(shí)雙擊開始測(cè)試b. 如圖524 插上電源測(cè)試Indicator時(shí)，第一次主板上的燈全亮（大小寫燈，數(shù)字燈，電源燈，T/P燈，充電燈，HDD燈，開機(jī)燈亮白色，無線網(wǎng)卡燈亮藍(lán)色），第二次只亮4個(gè)（T/P燈，HDD燈，無線網(wǎng)卡燈，靜音燈亮紅色） 圖523 LED Test圖標(biāo) 圖524 LED Test畫面 MS amp。 NEW Disk Card Testa. 當(dāng)出現(xiàn)圖526所示時(shí)，依次放入SD amp。 new disk卡開始測(cè)試b. 測(cè)試時(shí)LED接口燈要閃爍，PASS表示測(cè)試成功（如圖527），反之表示測(cè)試失?。ㄈ鐖D528）c. 測(cè)試SD卡時(shí)要注意把SDCard撥到Lock端測(cè)試，出現(xiàn)圖526時(shí)插入SD卡，若出現(xiàn)Fail為正常 MS卡 MMC卡 SD卡 XD卡 網(wǎng)絡(luò)擴(kuò)展卡 NEW 卡 圖525 測(cè)試小卡 圖526 小卡測(cè)試畫面 圖527 小卡測(cè)試PASS 圖528小卡測(cè)試FAIL 檢查條碼測(cè)試a. 當(dāng)出現(xiàn)圖529時(shí)，刷主板的LanIDb. 測(cè)試通過后會(huì)自動(dòng)測(cè)試下一個(gè)項(xiàng)目如圖530， 反之為不良 圖529 Lan條碼測(cè)試畫面 圖530 Lan條碼測(cè)試PASS DOS和Windows系統(tǒng)測(cè)試完畢后，說明主板功能是良的，這時(shí)會(huì)將測(cè)好的主板流至最后一站F/T LQC目檢，檢驗(yàn)有沒有一些零件在測(cè)試過程中被撞件，一些接口被插損件從而造成外觀不良的主板，檢驗(yàn)好的主板就可以裝入靜電箱中等待入庫(kù)，然后轉(zhuǎn)至成品組裝部門。在設(shè)計(jì)中雖然遇到了不少困難，但當(dāng)我通過查閱資料，向指導(dǎo)老師請(qǐng)教以及與同學(xué)相互討論，而設(shè)計(jì)出解決方案并成功實(shí)現(xiàn)時(shí)，那種成就感和滿足感足以忘卻所有的辛苦。在設(shè)計(jì)中，我們遇到了許多的問題，但是在指導(dǎo)老師和同學(xué)的幫助下我們克服了困難。三年的努力與付出，隨著本次的畢業(yè)設(shè)計(jì)的完成，將要?jiǎng)澫峦昝赖木涮?hào)。在我完成畢業(yè)設(shè)計(jì)這期間，老師為我提供了種種專業(yè)知識(shí)上的指導(dǎo)和一些富于創(chuàng)造性的建議，沒有這樣的幫助和關(guān)懷，我不會(huì)這么順利的完成畢業(yè)設(shè)計(jì)。在此謹(jǐn)向那些幫助過我的人們致以衷心的感謝！最后，我要向百忙之中抽出時(shí)間對(duì)本文進(jìn)行審閱，評(píng)議和參與本人論文答辯的各位老師表示感謝！參考文獻(xiàn)[1]。同時(shí)，畢業(yè)設(shè)計(jì)的順利完成，離不開其他各位老師、同學(xué)和朋友的關(guān)心和幫助。老師要指導(dǎo)很多同學(xué)的論文，加上本來就有的教學(xué)任務(wù)和科研項(xiàng)目，工作量之大可想而知，他還在百忙之中抽出大量的時(shí)間來指導(dǎo)我們。希望這次的經(jīng)歷能讓我在以后的學(xué)習(xí)中激勵(lì)我繼續(xù)進(jìn)步。雖然本設(shè)計(jì)難度不大,但是是一個(gè)非常全面實(shí)際的設(shè)計(jì)。通過這次設(shè)計(jì)，不但鞏固了自己的所學(xué)知識(shí)，同時(shí)也學(xué)到了許多書本上無法學(xué)到的知識(shí)，提高了自己的設(shè)計(jì)能力和動(dòng)手能力，為自己走上工作崗位打下了扎實(shí)的基礎(chǔ)。 MS amp。 SD amp。重新拿開磁鐵，LCD應(yīng)該會(huì)打亮，并且會(huì)自動(dòng)測(cè)試下一個(gè)項(xiàng)目，不良會(huì)停留在圖511所示的畫面。 B/T ID,音效測(cè)試（Audio Test）,鍵盤觸控面板和按鍵測(cè)試，LED amp。主要是手工給PCB板的CRT接口，USB接口等鎖上螺絲，安裝上BIOS芯片，支架，供電電池，跳線帽，散熱片和給PCB板貼上Malay，,Lan條碼等（如圖42），這樣就制成了一塊完整的主板。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。 測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory 類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。圖332) d. 確認(rèn)真實(shí)不良后,按下F5,并貼上標(biāo)簽, ，待所有Defect確認(rèn)完后,按下Washed, 即可繼續(xù)下一片(圖34) e. 測(cè)試完畢確認(rèn)為Pass需刷SFC系統(tǒng),直接送入下一制程,如確認(rèn)為Fail刷SFC系統(tǒng),輸入不良代碼,放入不良品箱,由線上人員維修,維修OK,再放入AOI機(jī)臺(tái)測(cè)試,直到檢