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現(xiàn)代材料分析方法習(xí)題匯總與答案(文件)

2025-07-14 02:07 上一頁面

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【正文】 中的P點)必須處于此球面上,而衍射線束的方向即是C至P點的聯(lián)接線方向,即圖中的矢量K的方向。(類似解釋:首先作晶體的倒易點陣,O為倒易原點。因O’O =OB=1/λ,故△O’OB為與等腰三角形等效,O’B是一衍射線方向。答:通常電子衍射圖的標定過程可分為下列三種情況:1)已知晶體(晶系、點陣類型)可以嘗試標定。此時要通過標定衍射圖,來確定該晶體的結(jié)構(gòu)及其參數(shù)。g2求得晶帶軸指數(shù)。但是,由于電鏡樣品是薄樣品,倒易點拉長成倒易桿。人們在長期實驗中發(fā)現(xiàn),晶體點陣結(jié)構(gòu)與其電子衍射 斑點之間可以通過另外一個假想的點陣很好的聯(lián)系起來,這就是倒易點陣。28. 為什么TEM既能選區(qū)成像又能選區(qū)衍射?怎樣才能做到兩者所選區(qū)域的一致性。降低成像的像差,精確聚焦才能做到兩者所選區(qū)域一致。 K=k+2/3q(ph+qk+nl)30. 何謂襯度?TEM能產(chǎn)生哪幾種襯度象,是怎樣產(chǎn)生的,都有何用途答:襯度是指圖象上不同區(qū)域間明暗程度的差別。衍襯技術(shù)被廣泛應(yīng)用于研究晶體缺陷。31. 畫圖說明衍襯成象原理,并說明什么是明場象,暗場象和中心暗場象。 ?明場:?光欄孔只讓透射束通過,熒光屏上亮的區(qū)域是透射區(qū)?暗場:?光欄孔只讓衍射束通過,熒光屏上亮的區(qū)域是產(chǎn)生衍射的晶體區(qū)32. 衍襯運動學(xué)理論的最基本假設(shè)是什么?怎樣做才能滿足或接近基本假設(shè)?答:1)入射電子在樣品內(nèi)只可能受到不多于一次散射 2)入射電子波在樣品內(nèi)傳播的過程中,強度的衰減可以忽略,這意味著衍射波的強度與透射波相比始終是很小。33. 用理想晶體衍襯運動學(xué)基本方程解釋等厚條紋與等傾條紋。此時薄晶體的厚度可視為常數(shù),而晶體內(nèi)處在不同部位的衍射晶體面因彎曲而使他們和入射束之間存在不同程度的偏離,即薄晶體上各點具有不同的偏離矢量s。5/2t,…時,Ig有極大值,其中s=0時,衍射強度最大,即Ig=(πt)2/ξ2g當s=177。答:缺陷晶體的衍射波振幅為:與理想晶體相比較,可發(fā)現(xiàn)由于晶體的不完整性,在缺陷附近的點陣畸變范圍內(nèi)衍射振幅的表達式中出現(xiàn)了一個附加的位相因子eiα,其中附加的位相角α=2πg(shù)(1)立方晶系指數(shù)標定,由算得個m的比值然后查表對照可確定干涉指數(shù)。二,電子衍射花樣的標定:-核算法與標準花樣對照法。測量出R值比較查表確定各圓環(huán)。所用方法較復(fù)雜,一般很少涉及到。4)要在底片上測量距離和角度。尚需注意底片藥面是朝上放置的。方法二:晶體結(jié)構(gòu)的標定2。R。? 如果g )此時缺陷的襯度將出現(xiàn),即在圖像中缺陷可見。,其半徑分別是:,;相機常數(shù)Lλ=。答:弱束暗場像是通過入射束傾斜,使偏離布拉格條件較遠的一個衍射束通過物鏡光闌,透射束和其他衍射束都被擋掉,利用透過物鏡光闌的強度較弱的衍射束成像。圖:PPT透射電子顯微技術(shù)1頁透射電子顯微成像中,層錯、反相疇界、疇界、孿晶界、晶界等衍襯像有何異同?用什么辦法及根據(jù)什么特征才能將它們區(qū)分開來?答:由于層錯區(qū)域衍射波振幅一般與無層錯區(qū)域衍射波振幅不同,則層錯區(qū)和與相鄰區(qū)域形成了不同的襯度,相應(yīng)地出現(xiàn)均勻的亮線和暗線,由于層錯兩側(cè)的區(qū)域晶體結(jié)構(gòu)和位相相同,故所有亮線和暗線的襯度分別相同。層錯條紋 平行線 直線 間距相等反相疇界 非平行線 非直線 間距不等孿晶界條紋 平行線 直線 間距不等晶界條紋 平行線 非直線 間距不等、衍射襯度和相位襯度。物鏡聚焦方面的不同:透射電子束和至少一個衍射束同時通過物鏡光闌成像時,透射束和衍射束相互干涉形成反應(yīng)晶體點陣周期的條紋成像或點陣像或結(jié)構(gòu)物象,這種相位襯度圖像的形成是透射束和衍射束相干的結(jié)果,而衍射襯度成像只用透射束或者衍射束成像。(2)確定各衍射線條d值及相對強度I/I1值。5. 為什么可以利用x射線衍射測定晶塊尺寸和晶格畸變?試簡述測定的方法和主要步驟。測定方法和主要步驟: 單峰測法:如果確定樣品中無晶粒細化,選一個高角度峰做慢速掃描,再選一個無畸變樣品做標樣,做同樣的掃描,標樣的衍射峰要與樣品的衍射峰角度相同或相近,此種方法簡單,計算容易,可手工算。 ( ) 透射電鏡中如何獲得明場像、暗場像和中心暗場像? 答:如果讓透射束進入物鏡光闌,而將衍射束擋掉,在成像模式下,就得到明場象。在紛雜的塵世里,為自己留下一片純靜的心靈空間,不管是潮起潮落,也不管是陰晴圓缺,你都可以免去浮躁,義無反顧,勇往直前,輕松自如地走好人生路上的每一步3. 花一些時間,總會看清一些事。努力過后,才知道許多事情,堅持堅持,就過來了。只有你自己才能把歲月描畫成一幅難以忘懷的人生畫卷。歲月是有情的,假如你奉獻給她的是一些色彩,它奉獻給你的也是一些色彩。有時候覺得自己像個神經(jīng)病。2.面心立方結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)因子和消光規(guī)律是什么?(8 分) 如果電子束沿面心立方的【100】晶帶軸入射,可能的衍射花樣是什么,并對每個衍射斑點予以標注?(7 分) 1. 若不給自己設(shè)限,則人生中就沒有限制你發(fā)揮的藩籬。多峰測法:先做一個標樣的全譜,測出標樣的所謂“儀器寬度與衍射的角關(guān)系曲線”,有了這條曲線就可以算出任何儀器寬度,測量出樣品的全譜,擬合,從而得到所有衍射角下面的樣品寬度。晶塊尺寸范圍內(nèi)的微觀應(yīng)力或晶格畸變能導(dǎo)致晶面間距發(fā)生對稱性改變d177。(3)檢索PDF卡片,將各線條的d值按強度遞減順序排列;按三強線條d1d2d3的d I/I1數(shù)據(jù)查數(shù)值索引,找到吻合條目后,核對八強線的d I/I1值,基本符合則取出PDF卡片?;疽罁?jù):組成物質(zhì)的各種相都具有各自特定的晶體結(jié)構(gòu),因而具有各自的X射線衍射花樣特征,對于多相物質(zhì),其衍射花樣則由各組成相的衍射花樣簡單疊加而成,制備各種標準單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化,將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對照,從而確定物質(zhì)的組成相。衍射襯度:由于樣品中的不同晶體或同一晶體中不同部位的位向差異導(dǎo)致產(chǎn)生衍射程度不同而形成各區(qū)域圖像亮度的差異,形成的襯度。孿晶界和晶界兩側(cè)的晶體由于位向不同,或者還由于點陣類型不同,一邊的晶體處于雙光束條件時,另一邊的衍射條件不可能是完全相同的,也可能是處于無強衍射的情況,就相當于出現(xiàn)等厚條紋,所以他們的衍襯像都是間距不等的明暗相間的條紋,不同的是孿晶界是一條直線,而晶界不是直線。中心暗場像的成像衍射束嚴格滿足布拉格條件,衍射強度較強,而弱束暗場像利用偏離布拉格條件較遠的衍射束成像,衍射束強度很弱。解::按N值的規(guī)律分析求解得:RRi2Ri2/ R121N123456{hkl}簡單立方100110111200210211N24681012{hkl}體心立方110200211220310222根據(jù)立方晶體晶面間距公式:a=(h2+k2+l2)1/2d = (h2+k2+l2)1/2(17/)若為簡單立方:a=1(17/)=若為體心立方:a=(17/)=。、俄歇譜儀和X光電子能譜儀都可作成分分析,它們各自的特點如何?答:能譜儀分析的是微區(qū)成分,分析范圍為1192的元素,若開鈹窗能分析592的元素,分析精度可達5%;。? 如果g R)?? 對于給定的缺陷,R(x,y,z)是確定的;g是用以獲得衍射襯度的某一發(fā)生強烈衍射的晶面倒易矢量,即操作反射。為什幺晶體缺陷(如層錯、位錯等)在衍襯像中有時可見有時又不可見?解答:與理想晶體相比,不論是何種類型缺陷的存在,都會引起缺陷附近某個區(qū)域內(nèi)點陣發(fā)生畸變。g2求得晶帶軸指數(shù)。,根據(jù) R12:R22:R32:……Rn2n = N1:N2:N3:……Nn關(guān)系,確定是否為立方晶體。(或相對誤差小于3—5%),角度測量誤差177。2)正確操作電鏡,如合軸、選區(qū)衍射操作等。2)晶體點陣完全未知,是全新結(jié)構(gòu)。(4)復(fù)雜單晶衍射花樣的標定主要是高階勞厄斑點和菊池花樣可類比零階勞厄區(qū)斑點區(qū)別對待。注意事項:照相法往往存在較大誤差!,由于直接給出角度和所對應(yīng)峰的強度,常常采用3強線來標定,通過PDF卡來確定物相。所以,一般地說,附加位相因子eiα引入將使缺陷附近物點的衍射強度有別于無缺陷的區(qū)域,從而使缺陷在衍襯圖像中產(chǎn)生相應(yīng)的襯度。2/t,177。當s=0,177。根據(jù)式 Ig=ΦgΦg*=(π2/ξ2g)sin2(πts)/(πs)2 的計算,在衍射圖像上楔形邊緣上將得到幾列亮暗相間的條紋,每一亮暗周期代表一個消光距離的大小,此時tg= ξg=1/s 因為同一條紋上晶體的厚度是相同的,所以這種條紋叫做等厚條紋,所以,消光條紋的數(shù)目實際上反映了薄晶體的厚度。同時由于參與散射作用的原子不多,衍射波強度也較弱。衍襯成像原理,并說明什么是明場象,暗場象和中心暗場象。這就是相位襯度象,僅適于很薄的晶體試樣(≈100197。質(zhì)厚襯度是由于樣品不同微區(qū)間存在的原子序數(shù)或厚度的差異而形成的,適用于對復(fù)型膜試樣電子圖象作出解釋。29. 在fcc中,若孿晶面(111),求孿晶(311)倒易陣點在基體倒易點陣中的位置。如果把中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合,則在熒光屏上得到一幅放大像,這就是TEM的成像操作。可以說,電子衍射斑點花樣就是與晶體相對應(yīng)的倒易面的放大投影。答:晶體的電子衍射(包括X射線單晶衍射)結(jié)果得到的是一系列規(guī)則排列的斑點。但是,由于電鏡樣品是薄樣品,倒易點拉長成倒易桿。 具體過程如下::。就在這些晶體中進行嘗試標定。以1/λ為半徑的球面上,從球心O’指向倒易點的方向是相應(yīng)晶面反射線的方向。 以0’為球心,以1/λ為半徑畫一球,稱反射球。即倒易點陣空間的衍射條件方程成立。答:作一個長度等于1/λ的矢量K0,使它平行于入射光束,并取該矢量的端點O作為倒點陣的原點。其原理就利用外加
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