【正文】 ≥220 板厚不小于探頭的3倍近場區(qū)時, 也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度,. 檢測方法 檢測面 可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測,若檢測人員認(rèn)為需要或設(shè)計上要求時,也可選鋼板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測. 掃查方式圖1圖1探頭掃查示意圖a 探頭沿垂直鋼板壓延方向,℅掃查,掃查示意圖如圖1.b ,也可進(jìn)行其它形式的掃查. 缺陷的測定與記錄,發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即作為缺陷: a缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于滿刻度的50℅,即F1≥50℅者.b當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高未達(dá)到滿刻度,此時,缺陷第一次反射波(F1)波高與底面第一次反射波(B1)波高之比大于或等于50℅,即(B1)＜100℅,而F1/B1≥50℅者.c 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高低于滿刻度的50℅,即(B1) ＜50℅者.a檢出缺陷后,應(yīng)在它的周圍繼續(xù)檢測,以確定缺陷的范圍.b用雙晶直探頭確定缺陷的邊界或指示長度時,探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直,并使缺陷波下降到檢測靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25℅或使缺陷的第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50℅.此時,探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度,.c用單直探頭確定缺陷的邊界或指示長度時,移動探頭,使缺陷波第一次反射波高下降到檢測靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25℅或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50℅.此時,探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度,.,移動探頭,使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50℅.此時,探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度,探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn).e當(dāng)采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時,檢測靈敏度以相應(yīng)底第二次反射波來校準(zhǔn).，可不做記錄。，應(yīng)采用CSⅢ試塊來測定由于曲率不同引起的聲能損失，其形狀和尺寸按JB/。主要檢測方向如JB/，其它形狀的鍛件也可參照執(zhí)行。，采用AVG曲線及計算法確定缺陷當(dāng)量。本條適用于母材厚度為8400mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測，承壓設(shè)備有關(guān)的支撐件和結(jié)構(gòu)件以及螺旋焊接接頭的超聲檢測也可按本條的規(guī)定進(jìn)行。 S 聲程,mm?！?0～45在一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差小于或等于2dB時可不進(jìn)行補(bǔ)償。不同檢測技術(shù)等級對縱向缺陷的檢測要求見JB/。b縱縫檢測時,對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應(yīng)小于10℅.(1) 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值,并考慮幾何臨界角的限制,確保聲束能掃查到整個焊接接頭。b)檢測方式根據(jù)結(jié)構(gòu)形式,管座焊縫的檢測有如下五種檢測方式,并考慮主要檢測對象幾何條件的限制. () (1) 在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測,見圖3位置1.(2) 在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測,，見圖3位置4。b)基本原則在選擇檢測面的和探頭時應(yīng)考慮到檢測各類缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該類焊接接頭結(jié)構(gòu)的主要缺陷。2） 用斜探頭在腹板一側(cè)用直射法或一次反射法進(jìn)行探測，見圖7位置2和位置圖8位置2和位置圖9位置2和位置4。e)距離一波幅曲線靈敏度的確定用斜探頭探測時，距離一波幅曲線靈敏度應(yīng)以腹板厚度按表10確定；用直探頭探測時，距離一波幅曲線靈敏度應(yīng)以翼板厚度按表12確定。(2) 當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化,有多個高點(diǎn),且位于Ⅱ區(qū)或以上時,使波幅降到熒光屏滿刻度的80％后，應(yīng)以端點(diǎn)6dB法測其指示長度。,如有懷疑時,觀察動態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判斷,如對波型不能判斷時,應(yīng)輔以其它檢測方法綜合判定.. ,其間距小于其中較小的缺陷長度時,應(yīng)做為一條缺陷處理,以兩缺陷長度和作為其指示長度(不考慮間距). 焊接接頭質(zhì)量分級按表13的規(guī)定進(jìn)行。g)對缺陷進(jìn)行等級評定時，均以腹板厚度為準(zhǔn)。位置3包括直探頭和斜探頭兩種掃查。檢測方式選擇應(yīng)由合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢測對象和幾何條件的限制。..3條的規(guī)定執(zhí)行，直探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表11的規(guī)定，圖5 插入式管座角焊縫 圖6安放式管座角焊縫a)適用范圍 本條適用于厚度為6mm～50mm的鍋爐、壓力容器全溶化焊T型焊接接頭的超聲檢測。(3) 應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異,必要時進(jìn)行修正。c)為觀察缺陷動態(tài)波型和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號，確定缺陷的位置、方向和形狀、 可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方，見圖4。15176?！?5～56a) 檢測區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身,再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30℅的一段區(qū)域,這個區(qū)域最小為5mm,最大為10mm.b) ,便于探頭的自由掃查,其表面粗糙度Ra≤,一般應(yīng)進(jìn)行打磨.(1) 采用一次反射法檢測時,:式中:P=2KT ……………(4) 或 P=2Ttanβ ……………(5)P跨距,mm T母材厚度,mm K探頭K值 β 探頭折射角(。表6 單個缺陷的等級評定 mm 等級ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷當(dāng)量直徑≤φ4φ4＋（＞0～8dB）φ4+（＞8～12dB）φ4+（12～16 dB）＞φ4+16dB表7 由缺陷引起底波降低量的等級評定 dB等級ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF≤8＞8～14＞14～20＞20～26＞26注：本表僅使用與聲程大于一倍近場區(qū)的缺陷表8 密集區(qū)缺陷的等級評定等級ⅠⅡⅢⅣⅤ密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比℅0＞05＞510＞1020＞20ⅠⅢ14和圖16的規(guī)定. CSKⅠⅢA試塊適用壁厚范圍為6120mm焊接接頭,在滿足靈敏度要求時,也可采用其它形式的等效試塊.,如檢測面曲率半徑R小于等于W2/4時(W為探頭接觸面寬度,環(huán)縫檢測時為探頭寬度,縱縫檢測時為探頭長度),應(yīng)采用與檢測面曲率相同的對比試塊,：b≥2λS/D0 ……………（3）式中：b 試塊寬度，mm。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于φ4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，缺陷密集區(qū)面積以50mm50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定，應(yīng)按表7要求記錄底波降低量。也可采用其它等效方法來確定。（T＜3N,且滿足n＞3N/T,m=2n＝按式（1）計算：a= [(BnBm)6] /2(mn)T ……………(1)式中：a衰減系數(shù)，dB/m（單程）(BnBm)兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB：T—工件檢測厚度，mm N—單直探頭近場區(qū)長度,mmM,n—底波反射次數(shù).（T≥3N）按式（2）計算